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      同惠TH2851在薄膜介電常數(shù)測(cè)試方案

      agitek456 ? 來源：agitek456 ? 作者：agitek456 ? 2024-07-10 11:14 ? 次閱讀
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      在材料的介電常數(shù)測(cè)試中低頻測(cè)試，網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試方法很難達(dá)到更低的頻率，一般網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試介電常數(shù)的方式最低只能測(cè)到100MHz，如果我們想知道低頻的介電常數(shù)就沒有辦法，而且網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試時(shí)成本非常高，夾具尤其貴。

      今天給大家介紹另一種儀器測(cè)試介電常數(shù)的儀器，就是阻抗分析儀，阻抗分析儀最低頻可以測(cè)到20Hz甚至更低，本套方案需要使用同惠阻抗分析儀TH2851以及 TH26077夾具進(jìn)行測(cè)試。

      阻抗分析儀測(cè)試介電常數(shù)方法為平行板測(cè)試法

      wKgZomaN_IiAMB46AADg_VVft6E672.png

      使用此方法可以直接在夾具上讀出材料厚度，此夾具可以測(cè)試的參數(shù)有電容（C）、耗損因數(shù)（D）、介電常數(shù)（εr', εr''）

      測(cè)試原理如下：

      wKgaomaN_ImAUvUFAAC-UV43kco381.png

      介電常數(shù)公式

      wKgZomaN_ImAOVOGAABXJRyr2xc473.png

      介電常數(shù)分析軟件

      該軟件為選件，開通后在TH2851界面直接選擇對(duì)應(yīng)的參數(shù)即可，分別可以單測(cè)、列表掃描、曲線掃描，下圖為曲線掃描界面。

      wKgaomaN_ImAGZFLAAHqlbsq0Mk683.png

      審核編輯 黃宇

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