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失效專業(yè)能力分類
元器件5A試驗介紹(中英文) ◆PFA (Physical Feature Analysis) 物理特征分析 ◆DPA (Destructive Physical Analysis) 破壞性物理分析 ◆CA (Constructional Analysis) 結(jié)構(gòu)分析 ◆FA (Failure Analysis) 失效分析 ◆EA (Evaluation Analysis) 適用性評價分析 PFA ◆ PFA (Physical Feature Analysis)物理特征分析 針對進口器件采購及使用過程中遇到的仿冒、翻新問題,為驗證和鑒別器件的標識、材料、結(jié)構(gòu)、芯片版圖和制造質(zhì)量是否符合原廠規(guī)定或工藝特征,通過對采購批抽取器件樣本的方式,采用系列試驗對器件進行檢查和分析,并對識別為非原廠工藝(假冒/后期翻新/改標等)的樣品批進行剔除。 ◆ 要素 ● 樣品抽樣 ● 破壞性試驗 ● 針對采購批 ● 原廠特征數(shù)據(jù)庫
◆ 器件仿冒翻新的典型類別
識別類型 | 主要特征 | 備注 |
偽劣器件 | 原廠芯片、非原廠封裝 | — |
殘次器件 | 內(nèi)部斷絲、無芯片等 | — |
假冒器件 | 二線廠家芯片、標識重印 | 仿制或相似功能替代 |
拆機翻新片 | 引腳重鍍、重新植球、標識重印 | 常見陶瓷器件 |
混批器件 | 原廠芯片、標識重印、批一致性差 | — |
質(zhì)量等級造假器件 | 原廠芯片(低等級)、標識重印 | 常見商業(yè)級改工業(yè)級 |
偽國產(chǎn)器件 | 采購進口器件,改標為國產(chǎn)器件 | — |
走私器件 | 采購進口新品,裝板走私入境后,拆板翻新 | — |
◆ 典型缺陷
DPA ◆ DPA ( Destructive Physical Analysis )破壞性物理分析 針對元器件生產(chǎn)批的工藝水平及過程控制水平,以驗證元器件的設計、結(jié)構(gòu)、材料和制造質(zhì)量是否滿足有關規(guī)范的要求或預定用途為目的,通過生產(chǎn)批抽樣的方式,采用一系列方法對元器件進行非破壞性和破壞性的檢查和分析,從中獲取元器件的批質(zhì)量信息。 ◆ 要素 ● 樣品抽樣 ● 破壞性試驗 ● 針對工藝過程形成的缺陷 ● 不可篩選缺陷 ● 結(jié)果代表生產(chǎn)批質(zhì)量情況
CA
◆ 概述 元器件的固有可靠性是由元器件的結(jié)構(gòu)設計和生產(chǎn)控制所決定的。 如果生產(chǎn)控制不嚴,就會導致器件內(nèi)部存在工藝缺陷,如果不能通過有效手段剔除,也會造成可靠性影響?!狣PA剔除 如果結(jié)構(gòu)設計不合理,就會導致元器件的固有可靠性不高,由此帶來的問題如果發(fā)生在使用階段,就會給型號任務造成重大影響。 ——結(jié)構(gòu)分析剔除
◆ CA (Constructional Analysis)結(jié)構(gòu)分析
針對元器件結(jié)構(gòu)設計的潛在隱患,從元器件的設計、工藝選擇和評價等階段先期介入,通過對元器件結(jié)構(gòu)、工藝、材料的綜合評價,分析是否存在對于預定使用環(huán)境(如宇航應用)的可靠性隱患和潛在失效機理,最終給出元器件設計對于預定使用環(huán)境的適用/限用/禁用結(jié)論。
◆ 要素
選取典型樣品
破壞性試驗(橫向縱向解剖)
針對結(jié)構(gòu)設計、材料選取、工藝實現(xiàn)原理
結(jié)合失效機理和失效分析數(shù)據(jù)庫
結(jié)論針對使用環(huán)境給出(適用/限用/禁用)
◆流程
關注應用環(huán)境 關注設計圖紙 關注相同結(jié)構(gòu)特征的失效檔案 用戶、廠家、檢驗方確認試驗方案 解剖分析試驗 綜合判定
◆ 結(jié)構(gòu)單元分解
◆ 結(jié)構(gòu)要素識別
◆ 典型結(jié)構(gòu)設計缺陷
◆ 典型工藝設計缺陷
◆ FA ( Failure Analysis )失效分析
針對產(chǎn)品全壽命周期過程中的失效問題,以確定失效原因為目標,通過對失效模式的綜合性試驗分析,定位失效部位、明確失效機理,并基于失效機理提出糾正措施,預防失效的再發(fā)生。作為貫穿型號或產(chǎn)品質(zhì)量控制全流程的重要環(huán)節(jié),失效分析對于追溯產(chǎn)品的設計(含選型)、制造、使用、質(zhì)量管理等各環(huán)節(jié)的不良因素或潛在隱患都具有重要的意義。
◆ 要素 ●樣品唯一性 ●公正(第三方) ●失效分析、設計、廠家共同參與 ●試驗不可逆 ●關鍵過程(方案)
◆ 試驗方法
QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求 GJB3233-98集成電路失效分析程序方法 GJB4157-98分立器件失效分析方法
◆ 技術途徑
◆電子、材料案
EA
◆ EA ( Evaluation Analysis )評價分析
針對低等級或缺陷元器件的高可靠應用,根據(jù)器件工藝、結(jié)構(gòu)特點或缺陷隱患,結(jié)合實際使用可靠性要求或壽命要求,通過系列試驗程序設計,采用專項應力試驗或加速試驗的方式進行模擬考核,結(jié)合相應的檢測分析手段給出器件的使用風險評估結(jié)論。
要素
母體篩選
抽樣(最差樣品)
環(huán)境特點與敏感因素
專項或加速應力試驗
三方風險評估
◆ 試驗方法
基于現(xiàn)有評價標準(合格性結(jié)論); 基于實際環(huán)境的應用模擬加速試驗(適用性結(jié)論); 現(xiàn)有試驗條件進行組合,根據(jù)試驗結(jié)果進行風險評估。
◆ 典型案例
界面疲勞試驗(濕熱試驗、溫度循環(huán)/沖擊)
①按照基于Coffin-Manson模型的溫度循環(huán)加速因子,
經(jīng)驗公式如下:
②按照修正的Coffin-Manson模型
5A的聯(lián)系與區(qū)別
PFA | CA | DPA | FA | EA | |
介入階段 | 采購介入 | 新品設計介入 | 裝機前介入 | 事故后介入 | 裝機前介入 |
關注點 | 原廠工藝特征 | 設計/ 材料合理性 | 工藝過程控制 | 失效機理如何改進 | 針對實際使用環(huán)境的適用性 |
目的 | 剔除假冒產(chǎn)品 | 警示潛在隱患 提供設計指導 | 剔除批次性工藝缺陷 | 責任方認定提出改進措施 | 針對限制條件使用的風險評估 |
性質(zhì) | 符合性檢查 | 合理性/ 適用性分析 | 符合性檢查 | 基于失效物理 推理與演繹 | 評估與評價 |
技術 支撐/基礎 | 基于 樣本庫/版圖庫 | 基于失效物理 | 基于標準/設計文件 | 基于機理/案例庫 | 基于評價標準/加速模型 |
PCB板檢測分析
材料檢測分析
元器件應用驗證
家電產(chǎn)品可靠性分析
知識產(chǎn)權及司法鑒定
審核編輯 黃宇
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