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紫外線(xiàn)誘導(dǎo)降解(UVID)對(duì)TOPCon組件的影響

美能光伏 ? 2024-09-27 08:10 ? 次閱讀
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TOPCon光伏組件隨著技術(shù)的成熟和成本的降低,在全球范圍內(nèi)得到了迅速的推廣和應(yīng)用。然而,由于電池對(duì)紫外線(xiàn)輻射的敏感性增加,TOPCon技術(shù)容易受到紫外線(xiàn)誘導(dǎo)降解(UVID)的影響,這對(duì)組件的性能、壽命和保修均產(chǎn)生了影響。美能紫外老化試驗(yàn)箱,可通過(guò)模擬不同光照情況來(lái)監(jiān)控組件在光照下產(chǎn)生的變化,可用于光伏組件產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量把控或評(píng)估組件組成后耐用性的變化試驗(yàn)。

可再生能源測(cè)試中心(RETC)于2024年發(fā)布的組件報(bào)告中指出,n-TOPCon電池組件中UVID(紫外線(xiàn)誘導(dǎo)衰減)風(fēng)險(xiǎn)呈上升態(tài)勢(shì)。RETC表示,部分新型電池技術(shù)(其中最為明顯的當(dāng)屬 n-TOPCon)似乎較為容易受到UVID的影響。在測(cè)試的模型中,有40%達(dá)到了UVID高標(biāo)準(zhǔn),這意味著衰減率低于2%。由此可見(jiàn),UVID極有可能成為目前面臨的主要可靠性問(wèn)題。

UVID誘導(dǎo)降解模式

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UVID誘導(dǎo)降解模式

SiNx/Si界面的復(fù)合:UV 光子能量>3.5eV(λ<360nm)時(shí),會(huì)打破SiNx/Si界面的Si - H鍵。通過(guò)產(chǎn)生懸掛鍵,降低了鈍化質(zhì)量,從而增加了發(fā)射極飽和電流并降低了載流子壽命。

硅體復(fù)合:UV會(huì)導(dǎo)致載流子注入,改變雜質(zhì)電荷狀態(tài)(和遷移率),并且在轉(zhuǎn)移過(guò)程中結(jié)合形成體缺陷中心。這種體缺陷中心的形成會(huì)進(jìn)一步影響電池的性能和穩(wěn)定性。

熱載流子效應(yīng):產(chǎn)生熱電子(具有高遷移率和高動(dòng)能),當(dāng)熱電子超過(guò)界面勢(shì)壘時(shí),會(huì)損壞鈍化層并增加界面態(tài)密度。這一效應(yīng)也對(duì)電池的鈍化層等關(guān)鍵結(jié)構(gòu)造成破壞,進(jìn)而影響電池的整體性能。

UVID 測(cè)試過(guò)程及條件

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在60°C 短路條件下,組件正面暴露于120kWh/m2UV(280 - 400nm)??俇V劑量相當(dāng)于1-2年的戶(hù)外暴露量(具體取決于位置)。UVID 測(cè)試設(shè)置符合 IEC61215:2021 MQT10 要求,使用金屬鹵化物燈,UVB含量在3-9% 范圍內(nèi)。

功率降解情況分析

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整體功率損失范圍:

UVID-120 后功率損失從0.6%到16.6%不等。這一數(shù)據(jù)顯示出不同組件在 UVID 測(cè)試后的功率損失差異較大,反映了組件對(duì) UVID 的敏感性存在差異以及不同組件的抗降解能力不同。

TOPCon 組件的功率降解情況:

超過(guò) 50% 的TOPCon 組件呈現(xiàn)出功率降解>5%/年,這表明 TOPCon組件在 UVID 影響下功率降解較為明顯,是需要重點(diǎn)關(guān)注和研究解決的問(wèn)題。

受影響參數(shù)分析:

Voc是受影響最大的參數(shù),歸因于鈍化損失;其次是 Isc 和 FF。在性能良好的組件中,Isc 損失最小。這種參數(shù)受影響的差異為深入研究 UVID 降解機(jī)制和改進(jìn)組件性能提供了重要的線(xiàn)索和方向。

應(yīng)對(duì)UVID的措施及進(jìn)展

紫外線(xiàn)會(huì)影響 TOPCon 電池鈍化層,光伏制造商正在積極尋求處理方法以減輕這種影響。通過(guò)遵循IEC61215:2021 MQT10 對(duì)紫外線(xiàn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和程序,部分制造商似乎已經(jīng)在一定程度上控制了 UVID。近日,天合光能基于TOPCon技術(shù)的Vertex N 720W系列組件在UV300測(cè)試中展現(xiàn)出優(yōu)異性能,衰減率低至1.6%;正泰太陽(yáng)能的n型TOPCon光伏組件也通過(guò)了嚴(yán)格的UVID測(cè)試,在UV60照射下衰減率僅為 0.7%。確保 TOPCon 組件抗 UVID 的最佳方法之一是通過(guò) UV 測(cè)試,這有助于篩選出性能優(yōu)良的組件,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性,以滿(mǎn)足市場(chǎng)對(duì)高質(zhì)量光伏組件的需求。

美能UV紫外老化試驗(yàn)箱

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美能UV紫外老化試驗(yàn)箱,通過(guò)模擬不同光照情況來(lái)監(jiān)控組件在光照下產(chǎn)生的變化,可用于光伏組件產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量把控或評(píng)估組件組成后耐用性的變化試驗(yàn)

  • 輻照強(qiáng)度:150-250W/㎡(可定制500-1000W/㎡超級(jí)紫外)
  • UVB含量:3%-9%

光譜范圍:280-400nm

通過(guò)紫外線(xiàn)(UV)老化測(cè)試,為整個(gè)光伏行業(yè)在應(yīng)對(duì) UVID 問(wèn)題上提供了有益的經(jīng)驗(yàn)和借鑒,推動(dòng)行業(yè)不斷改進(jìn)技術(shù)和提高產(chǎn)品質(zhì)量。美能UV紫外老化試驗(yàn)箱,能夠詳細(xì)評(píng)估組件在長(zhǎng)期環(huán)境暴露后的穩(wěn)定性,還能為產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

*特別聲明:「美能光伏」公眾號(hào)所發(fā)布的原創(chuàng)及轉(zhuǎn)載文章,僅用于學(xué)術(shù)分享和傳遞光伏行業(yè)相關(guān)信息。未經(jīng)授權(quán),不得抄襲、篡改、引用、轉(zhuǎn)載等侵犯本公眾號(hào)相關(guān)權(quán)益的行為。內(nèi)容僅供參考,若有侵權(quán),請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系我司進(jìn)行刪除。

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