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蔡司掃描儀GOM精準(zhǔn)與高效的掃描技術(shù)

三本精密儀器 ? 2024-11-15 11:51 ? 次閱讀
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如今質(zhì)量已成為推動(dòng)產(chǎn)業(yè)升級(jí)的核心動(dòng)力
基于結(jié)構(gòu)光掃描的光學(xué)三維測(cè)量技術(shù)憑借高精度數(shù)據(jù)采集能力,構(gòu)建精準(zhǔn)數(shù)字孿生模型,對(duì)工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量控制及產(chǎn)品信息數(shù)字化至關(guān)重要。主流的結(jié)構(gòu)光三維掃描方式包括單線激光、多線激光、散斑及條紋投影掃描等,其中,比較有代表性的是條紋投影掃描。自90年代起,條紋投影掃描技術(shù)歷盡數(shù)十年的不斷優(yōu)化,現(xiàn)已成為廣受采用的三維光學(xué)掃描方式。條紋投影掃描依據(jù)三角測(cè)量原理,記錄并呈現(xiàn)物體表面特征。

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三角測(cè)量法簡(jiǎn)述
三角測(cè)量法是一種歷史悠久的測(cè)量方法,根據(jù)三角形基本性質(zhì),可由兩觀測(cè)點(diǎn)計(jì)算得到被測(cè)點(diǎn)的距離信息。在現(xiàn)代光學(xué)計(jì)量領(lǐng)域,該方法也被廣泛應(yīng)用于計(jì)算物體的三維坐標(biāo)信息。通過(guò)點(diǎn)、線或面光對(duì)物體表面進(jìn)行編碼定位,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)物體表面的精確三維測(cè)量。

光影編織的大師條紋投影掃描
條紋投影掃描技術(shù)通過(guò)投影單元將結(jié)構(gòu)化條紋光柵投射到測(cè)量對(duì)象表面以構(gòu)建3D模型。投影單元與至少一個(gè)(常為兩個(gè))帶有傳感器的相機(jī)配合拍攝條紋圖案。測(cè)量前將被測(cè)物體置于測(cè)量范圍內(nèi),條紋圖案投射到物體表面后由相機(jī)捕捉并進(jìn)行解碼計(jì)算,得到各點(diǎn)的三維信息,進(jìn)而產(chǎn)生點(diǎn)云,即由眾多小測(cè)量點(diǎn)組成的物體精確三維模型。

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精準(zhǔn)與高效的全新演繹
高分辨率掃描
每個(gè)相機(jī)的所有像素點(diǎn)都被獨(dú)立評(píng)估,并生成對(duì)應(yīng)三維點(diǎn),從而充分利用相機(jī)的可用分辨率。數(shù)據(jù)點(diǎn)更多,提高了三維掃描的精確度和細(xì)節(jié)還原度。

外差法原理
采用不同波長(zhǎng)的光柵進(jìn)行編碼,有效減少了成像過(guò)程中的隨機(jī)誤差,大幅提升了三維掃描的穩(wěn)定性。

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固定式拍照
單次拍攝中,投影圖案依據(jù)預(yù)定的投影序列投射,并由相機(jī)接收,掃描過(guò)程更穩(wěn)定,人為干預(yù)較少,數(shù)據(jù)質(zhì)量更高。

面結(jié)構(gòu)光投射
單次拍攝即可覆蓋廣泛的物體表面區(qū)域,從而縮短測(cè)量時(shí)間,快速實(shí)現(xiàn)完整掃描。

條紋投影掃描能夠幫助獲取大量測(cè)量數(shù)據(jù),適用于形狀、位置、輪廓控制、GD&T檢測(cè)、完整性檢查、關(guān)鍵尺寸分析和逆向工程等多場(chǎng)景工業(yè)檢測(cè)任務(wù)。從研發(fā)、制模、首件檢測(cè)到批量生產(chǎn)條紋投影掃描可確保工業(yè)生產(chǎn)流程的質(zhì)量控制和效率提升。

條紋投影掃描因其快速、精準(zhǔn)和可靠的特性,在不同場(chǎng)景中發(fā)揮著關(guān)鍵作用,并已成為眾多企業(yè)選擇的標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量檢測(cè)手段。相信在未來(lái)技術(shù)不斷進(jìn)步和應(yīng)用場(chǎng)景的不斷拓展下,條紋投影掃描將為各個(gè)細(xì)分領(lǐng)域提供更強(qiáng)大的技術(shù)支撐,推動(dòng)行業(yè)質(zhì)量控制向著更高水平發(fā)展。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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