EBSD樣品制備
EBSD樣品的制備過程對實驗結(jié)果的準確性和可靠性有著極為重要的影響。目前,常用的EBSD樣品制備方法包括機械拋光、電解拋光和聚焦離子束(FIB)等,但這些方法各有其局限性。

1.機械拋光的局限性
機械拋光是一種傳統(tǒng)的EBSD樣品制備方法,雖然操作相對簡單,但存在諸多問題。首先,由于其硬度較大,可能會劃傷材料表面,尤其不適合硬度較低的材料。其次,機械拋光可能引入形變應(yīng)力和表面形變層,這會對后續(xù)的EBSD分析產(chǎn)生干擾。對于多相材料,不同侵蝕速度可能導(dǎo)致表面不均勻,侵蝕過程還可能加速晶界腐蝕,降低EBSD的標定成功率。此外,機械拋光后的水洗過程可能導(dǎo)致材料氧化,因此不適用于易氧化材料。
2.FIB技術(shù)的局限性
與機械拋光相比,F(xiàn)IB技術(shù)雖然能夠?qū)崿F(xiàn)精確的逐層切割,但同樣存在一些問題。鎵離子的重量較大,可能導(dǎo)致樣品表面形成較厚的非晶層,特別是在易于發(fā)生相變的材料中,F(xiàn)IB的轟擊可能引發(fā)第二相的產(chǎn)生,從而影響實驗數(shù)據(jù)的準確性。此外,F(xiàn)IB的測試區(qū)域較小,耗時較長,成本較高,不利于大規(guī)模觀察。
氬離子拋光技術(shù)
在這樣的背景下,氬離子拋光作為一種新興的EBSD樣品制備技術(shù)應(yīng)運而生。它利用高電流密度的氬離子束對樣品進行轟擊,能夠顯著減少應(yīng)力層和非晶層的厚度,避免制樣方法對實驗數(shù)據(jù)的誤導(dǎo)。
由于氬離子拋光不會引入額外的機械應(yīng)力或化學(xué)反應(yīng),晶格畸變較小,有助于提高EBSD的標定率,降低標定參數(shù),提高標定效率,節(jié)省時間。因此,氬離子拋光被認為是一種重要的EBSD樣品制備方法。該系統(tǒng)配備了低能量聚集能力的離子槍,能夠在極低的能量水平(低至100 eV)下進行拋光,特別適合對精細樣品進行處理。這種低能量拋光方式能夠在不損傷樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的前提下,快速去除表面缺陷,展現(xiàn)出卓越的拋光效率。同時,氬離子拋光系統(tǒng)的操作靈活性也是其顯著優(yōu)勢之一,操作者可以根據(jù)不同的樣品和需求,隨時調(diào)整離子槍的角度,并通過觸摸屏手動或自動調(diào)節(jié)氣體流量以及優(yōu)化工作電流。
氬離子拋光技術(shù)的實踐案例
案例一:多層結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體材質(zhì)1. 樣品預(yù)處理:
將樣品表面磨拋平整,采用9um金剛石砂紙進行初步打磨,以確保樣品表面的平整度和光潔度。
2. 氬離子束切割:
使用Gatan 685對樣品表面進行切割,設(shè)定電壓為7kV,切割時間根據(jù)樣品觀察面的大小進行調(diào)整。通過氬離子束的精確轟擊,能夠有效去除樣品表面的應(yīng)力層和非晶層,同時避免對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的破壞。

不同區(qū)域的菊池花樣


3.結(jié)果:
經(jīng)過氬離子拋光技術(shù)處理后的多層結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體材質(zhì)樣品,每層都能清晰地觀察到,焊球的結(jié)構(gòu)清晰可見。菊池花樣表明制備出的樣品表面質(zhì)量高,為后續(xù)的EBSD分析提供了高質(zhì)量的數(shù)據(jù)支持。
案例二:銅合金1. 樣品預(yù)處理:
將樣品表面磨拋平整,采用9um金剛石砂紙進行初步打磨,確保樣品表面的平整度和光潔度。
2. 氬離子束切割:
使用氬離子束切割儀對樣品表面進行切割,設(shè)定電壓為7kV,切割時間根據(jù)樣品觀察面的大小進行調(diào)整。通過氬離子束的精確轟擊,能夠有效去除樣品表面的應(yīng)力層和非晶層,同時避免對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的破壞。

晶粒取向分布圖和稱度圖像

菊池花樣

銅合金的晶粒結(jié)構(gòu)
3.結(jié)果:
銅合金晶粒結(jié)構(gòu)的細節(jié)清晰可見,包括晶粒取向關(guān)系、晶界類型、再結(jié)晶晶粒等信息??捎^察到銅合金樣品表面清晰的菊池花樣,這表明該樣品經(jīng)過氬離子束研磨拋光后制備質(zhì)量非常好。晶粒取向分布圖和晶粒尺寸圖像進一步驗證了樣品的高質(zhì)量,為深入理解銅合金的微觀結(jié)構(gòu)和性能提供了有力支持。
-
fib
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
87瀏覽量
11298 -
離子束
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
77瀏覽量
7681
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
EBSD制樣最有效的方法------氬離子截面拋光儀
失效分析:離子束剖面研磨
氬離子拋光制樣讓你的材料樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)真實展現(xiàn)
氬離子拋光結(jié)合SEM電鏡:鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)

制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品

評論