局部放電測(cè)試可在故障之前檢測(cè)到條件，因此它們可以檢測(cè)到傳統(tǒng)耐壓測(cè)試無(wú)法檢測(cè)到的潛在缺陷和制造變化。此外，與傳統(tǒng)方法相比，可以預(yù)期以下優(yōu)勢(shì)。

?隔離設(shè)計(jì)優(yōu)化

?減少制造可變性

?發(fā)現(xiàn)材料變化

?提高安全性?幫助分析無(wú)法解釋的缺陷

?如果可以無(wú)損地檢測(cè)到缺陷，則可以調(diào)查有缺陷的部件

?可以評(píng)估絕緣性能的長(zhǎng)期可靠性

施加在電極和放電之間的電壓之間的一般關(guān)系如下圖所示。當(dāng)施加到測(cè)試對(duì)象的電壓逐漸增加時(shí)，首先引發(fā)局部放電（A），然后產(chǎn)生火花（D）。然后它過(guò)渡到圓?。‥），被測(cè)對(duì)象發(fā)生故障。當(dāng)為電弧提供更多功率時(shí)，電介質(zhì)中斷的物體會(huì)被電弧的熱量燒壞。
如果我們更仔細(xì)地觀察局部放電區(qū)域，在（A）的局部放電開(kāi)始之后，從（B）到（C）有一個(gè)穩(wěn)定區(qū)域。在這個(gè)區(qū)域，局部放電發(fā)生在絕緣體的多個(gè)空隙中。從（C）到（D）通過(guò)局部放電浪涌區(qū)域后，每個(gè)空隙之間的絕緣被破壞，放電轉(zhuǎn)變?yōu)殡娀　?/span>

在耐壓試驗(yàn)中，對(duì)被測(cè)物體施加高電壓的交流電（或直流電），檢測(cè)被測(cè)物體被破壞時(shí)流過(guò)的漏電流，以確定其是好是壞。換句話說(shuō)，它被視為“絕緣擊穿=電流增加”，測(cè)試失敗的測(cè)試對(duì)象往往會(huì)損壞且無(wú)法恢復(fù)。

此外，在耐壓測(cè)試中，如果沒(méi)有破壞（電流增加），即使存在導(dǎo)致絕緣失效的空隙，也判斷產(chǎn)品是好的。另一方面，局部放電測(cè)試在絕緣擊穿發(fā)生之前捕獲電荷的增加，因此在許多情況下，被測(cè)對(duì)象不會(huì)被破壞。此外，由于它可以在狀態(tài)損壞之前檢測(cè)到狀態(tài)，因此可以檢測(cè)到傳統(tǒng)耐壓測(cè)試無(wú)法檢測(cè)到的潛在缺陷和制造變化。