PQLab先進(jìn)PDK驗(yàn)證平臺(tái)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

PQLab是一款技術(shù)先進(jìn)的PDK(半導(dǎo)體工藝設(shè)計(jì)套件)驗(yàn)證平臺(tái)。隨著半導(dǎo)體工藝快速發(fā)展，PDK的規(guī)模和復(fù)雜度也在極速加大，以至于PDK的驗(yàn)證難度越來越高，耗時(shí)越來越長，為解決這一困境，概倫電子憑借豐富的先進(jìn)工藝PDK開發(fā)和驗(yàn)證經(jīng)驗(yàn)研發(fā)出這套完整的解決方案。

PQLab包含多種PDK自動(dòng)化驗(yàn)證機(jī)制，包括TechFile、PCeIICDF、PCeII物理驗(yàn)證(DRC/LVS)功能，支持從0.18um到22nm各平面工藝以及FinFET各工藝制程在數(shù)字邏輯、模擬、高壓、射頻等多種應(yīng)用場(chǎng)景PDK的自動(dòng)化驗(yàn)證。旨在幫助PDK開發(fā)和使用者快速高效的完成驗(yàn)證工作確保PDK的質(zhì)量，并幫助設(shè)計(jì)工程師快速分析、比較來自不同芯片制造廠的各版本PDK性能。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

通用性：支持主流FoundryPDK格式、主流EDA工具

全面性：支持PCell驗(yàn)證和CalibreLVS+等各種流程

支持QApattern和QAreport完整性覆蓋

支持不同的模型、LVS和PEX格式組合的性能比對(duì)

自動(dòng)化：高度集成自動(dòng)化創(chuàng)建版圖驗(yàn)證測(cè)試用例

高效率：內(nèi)嵌多種測(cè)試用例產(chǎn)生方案可顯著提高驗(yàn)證效率

靈活性：支持用戶多種自定義方式產(chǎn)生測(cè)試用例

復(fù)用性：已有的PDKQA設(shè)置和產(chǎn)生測(cè)試用例的方式可在其

它驗(yàn)證項(xiàng)目中重復(fù)利用

產(chǎn)品應(yīng)用

·FoundryPDK開發(fā)與驗(yàn)證

·芯片/IP設(shè)計(jì)公司工藝評(píng)估與驗(yàn)證

技術(shù)規(guī)格

支持測(cè)試用例自動(dòng)生成：

-用于自動(dòng)生成DRC、LVS和仿真QA所需的測(cè)試用例

·支持CDFQA驗(yàn)證：

-檢查CDF Spec、CDF Callbacks和CDF參數(shù)與模型參數(shù)的一致性

·支持自動(dòng)DRC/LVS檢查：

-智能生成滿足DRC、LVS檢查所需測(cè)試用例的最小集合，確保PCell在任意參數(shù)組合下的物理驗(yàn)證無誤

·支持全面的仿真：

-結(jié)合SPICEModel，通過自動(dòng)前后仿真比較確保PDK輸出的合理性

-支持任意組合Model、LVS和PEX，實(shí)現(xiàn)不同組合的仿真比較

·支持直流工作點(diǎn)反標(biāo)功能驗(yàn)證

·支持PCell變量輸入功能驗(yàn)證

應(yīng)用實(shí)例

PDK QA設(shè)置界面

QA Library界面

DRC QA結(jié)果匯總

前仿后仿誤差對(duì)比