ME-Pro集成電路工藝與設(shè)計(jì)驗(yàn)證評(píng)估平臺(tái)

產(chǎn)品簡介

ME-Pro是概倫電子自主研發(fā)的用于聯(lián)動(dòng)集成電路工藝與設(shè)計(jì)的創(chuàng)新性驗(yàn)證評(píng)估平臺(tái)，為集成電路設(shè)計(jì)、CAD、工藝開發(fā)、SPICE模型和PDK專業(yè)從業(yè)人員提供了一個(gè)共用平臺(tái)。以SPICE模型庫作為輸入，支持對(duì)半導(dǎo)體器件模型進(jìn)行仿真分析和驗(yàn)證、對(duì)應(yīng)工藝平臺(tái)性能評(píng)估、多個(gè)工藝平臺(tái)及多個(gè)版本的仿真驗(yàn)證和評(píng)估以及工藝/器件/電路的互動(dòng)設(shè)計(jì)等功能。通過非常便捷的軟件設(shè)定和操作，幫助設(shè)計(jì)用戶更好地挖掘工藝平臺(tái)的性能和潛能，有效提升電路產(chǎn)品設(shè)計(jì)競(jìng)爭力，并有針對(duì)性的提供反饋用于改進(jìn)制造工藝開發(fā)。

結(jié)合概倫電子多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，ME-Pro為用戶提供了數(shù)百個(gè)仿真驗(yàn)證技術(shù)參數(shù)設(shè)定和評(píng)估模板，并采用內(nèi)置的NanoSpice仿真引擎結(jié)合先進(jìn)的并行計(jì)算算法大幅提升了評(píng)估分析效率。通過ME-Pro，用戶可以系統(tǒng)性地評(píng)估半導(dǎo)體器件、工藝及電路的性能，比較多個(gè)工藝平臺(tái)的特性差異及其對(duì)電路設(shè)計(jì)的影響，以此快速地評(píng)估進(jìn)而更好地應(yīng)用芯片制造工藝平臺(tái)，最終達(dá)到更有效優(yōu)化電路設(shè)計(jì)的目的。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

·高效

支持快速驗(yàn)證和分析模型，保證模型精度和質(zhì)量符合設(shè)計(jì)要求

·專業(yè)

結(jié)合專業(yè)know-how和豐富的內(nèi)置設(shè)定模板，快速搭建驗(yàn)證評(píng)估流程

·易用

軟件界面靈活易用，可高效完成評(píng)估項(xiàng)目配置，支持快速批量生成驗(yàn)證評(píng)估報(bào)告

·系統(tǒng)化

支持系統(tǒng)化評(píng)估器件和電路特征，提升設(shè)計(jì)和工藝的互動(dòng)效率

·快速仿真

內(nèi)嵌支持并行仿真的NanoSpice仿真引擎，高效仿真分析和驗(yàn)證，大幅提升評(píng)估分析效率

·設(shè)計(jì)制造協(xié)同

為集成電路設(shè)計(jì)、CAD、工藝開發(fā)、SPICE模型和PDK專業(yè)從業(yè)人員提供了一個(gè)共用平臺(tái)

產(chǎn)品應(yīng)用

·模型QA驗(yàn)證

·模型評(píng)估與比對(duì)

·工藝評(píng)估與比對(duì)

·關(guān)鍵電路性能評(píng)估

技術(shù)規(guī)格

·模型庫的層次化分析和顯示

·支持輔助電路設(shè)計(jì)中的特定需求

·支持器件和電路性能的相關(guān)性分析

·支持快速批量生成多種文檔格式的報(bào)告

·支持器件電學(xué)特性和變化趨勢(shì)分析和評(píng)估

·內(nèi)嵌超過200多個(gè)檢查項(xiàng)的可選配置及模板

·支持任意器件、模型和電路特性的分析和評(píng)估

·支持Corner、統(tǒng)計(jì)行為、LDE及可靠性模型行為評(píng)估

·支持多個(gè)工藝平臺(tái)評(píng)估：支持不同代工廠、不同工藝節(jié)點(diǎn)、不同工藝平臺(tái)、不同工藝版本等任意組合評(píng)估

應(yīng)用案例

SPICE模型驗(yàn)證

工藝平臺(tái)評(píng)估

電路行為評(píng)估