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機(jī)器學(xué)習(xí)成為材料科學(xué)中復(fù)雜數(shù)據(jù)分析和信息挖掘的有力武器

ExMh_zhishexues ? 來(lái)源:未知 ? 作者:李倩 ? 2018-04-08 11:12 ? 次閱讀
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導(dǎo)語(yǔ)

探索相變和構(gòu)建相圖對(duì)于凝聚態(tài)物理和材料科學(xué)至關(guān)重要,是理論和實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域廣泛研究的焦點(diǎn)。相變研究通常需要運(yùn)用散射、熱力學(xué)、模擬等綜合手段描述相變時(shí)序參量的變化,對(duì)于序參量未知的體系,傳統(tǒng)方法十分局限。最近西安交通大學(xué)楊耀東課題組的李玲龍與橡樹(shù)嶺國(guó)家實(shí)驗(yàn)室Kalinin小組合作,在新發(fā)表的Science Advances文章中創(chuàng)新性地提出運(yùn)用機(jī)器學(xué)習(xí)算法,對(duì)掃描探針尖端探測(cè)體積下壓電弛豫的動(dòng)力學(xué)響應(yīng)進(jìn)行數(shù)據(jù)挖掘,在序參量未知的情況下,確定了納米尺度的結(jié)構(gòu)相變。這一研究成果實(shí)現(xiàn)了序參量缺失情況下的相變表征,為材料科學(xué)中高維復(fù)雜數(shù)據(jù)的信息挖掘、分析提供了新穎獨(dú)特的解決方案。

對(duì)于使用機(jī)器學(xué)習(xí)算法構(gòu)筑相圖的設(shè)想,研究人員首先在二維Ising模型中,構(gòu)建了該系統(tǒng)在撤去激勵(lì)磁場(chǎng)后隨時(shí)間弛豫的多維度數(shù)據(jù)集,并采用K-means算法處理得到分類簇,發(fā)現(xiàn)其以順磁-鐵磁相界分為三個(gè)簇,如圖一所示。由此,其可行性在模擬數(shù)據(jù)集中得以證實(shí)。

圖一K-means聚類算法處理Ising模型數(shù)據(jù)集。

A:三個(gè)簇k=0,1,2中數(shù)據(jù)向量的數(shù)量隨溫度的變化。B:簇中心的向量。C:簇中數(shù)據(jù)向量數(shù)構(gòu)建的鐵磁-順磁轉(zhuǎn)變相圖。

隨后在實(shí)驗(yàn)研究中,研究人員通過(guò)掃描探針加載脈沖電壓,以激勵(lì)弛豫鐵電體PMN-PT中微區(qū)壓電響應(yīng)的弛豫信號(hào)(激勵(lì)電壓波形如圖二A所示),并根據(jù)不同脈沖偏壓和溫度,使用頻帶激勵(lì)信號(hào)增強(qiáng)技術(shù)獲得多維度的壓電弛豫信號(hào)數(shù)據(jù)集。主成分分析(PCA)作為一種無(wú)監(jiān)督學(xué)習(xí)算法,能有效針對(duì)高維數(shù)據(jù)進(jìn)行降維處理。研究人員使用PCA算法,分別獲得了數(shù)據(jù)集的特征值和特征向量。在特征值的突變界面(圖二C的黑色虛線),明確指出了相變發(fā)生的信號(hào)。

圖二 頻帶激勵(lì)壓電力顯微鏡獲得多維度的壓電響應(yīng)弛豫數(shù)據(jù)集,以及其主成分分析結(jié)果。

A:用于壓電弛豫測(cè)量的波形。B:PCA得到的特征向量。C:PCA得到的特征值。

進(jìn)一步使用K-means算法處理偏壓-溫度多維度數(shù)據(jù),根據(jù)每一條數(shù)據(jù)在簇分類中的落點(diǎn)以及簇中包含數(shù)據(jù)向量的數(shù)量,得到偏壓-溫度維度的相圖,如圖三B所示。在臨界溫度70℃左右,落在簇k=0和簇k=1的數(shù)據(jù)向量的數(shù)量發(fā)生明顯改變,直接對(duì)應(yīng)著材料的兩種單斜相MB-MC相變。

圖三 K-Means聚類結(jié)果。A:簇中心向量。B:根據(jù)簇中數(shù)據(jù)落點(diǎn)量構(gòu)建的偏壓-溫度相圖。

研究工作創(chuàng)新性地采用無(wú)監(jiān)督機(jī)器學(xué)習(xí)算法分析電壓-熱激勵(lì)下壓電弛豫的高維數(shù)據(jù)集,自動(dòng)識(shí)別材料的相變過(guò)程,構(gòu)建了弛豫鐵電晶體的電壓-溫度相圖。尤其在面向序參量缺失(或不可知)的體系時(shí),相較傳統(tǒng)的曲線擬合方法,為微觀(電場(chǎng))-宏觀(溫度)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)集的分析提供了更普適的、全局的方法。更重要的是,這一研究方法不受限于數(shù)據(jù)維度和測(cè)量手段,使得機(jī)器學(xué)習(xí)成為材料科學(xué)中復(fù)雜數(shù)據(jù)分析和信息挖掘的有力武器。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:機(jī)器學(xué)習(xí)識(shí)別材料相變--基于掃描探針顯微鏡的數(shù)據(jù)挖掘

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