分立器件測試晶體管圖示儀靜態(tài)/動態(tài)參數(shù)SC2010半導體測試系統(tǒng)
SC2010半導體分立器件測試系統(tǒng)
一、系統(tǒng)定位
作為STI5000系列測試機的國產(chǎn)化替代方案，SC2010系統(tǒng)實現(xiàn)了：
全自動I-V特性曲線生成
可編程功能測試模塊
實時數(shù)字化結(jié)果顯示
二、核心性能
測試效率
單點測試時間：6-20ms
百點曲線生成：＜5s
安全保障
門極過壓保護（OVP）
自診斷測試代碼系統(tǒng)
實時狀態(tài)監(jiān)測
三、技術(shù)參數(shù)矩陣
指標項參數(shù)范圍分辨率測試電壓0-2000V1mV測試電流0-100A0.1nA測試精度0.2%+2LSB-脈沖寬度300μs-5ms-
四、應(yīng)用場景
工業(yè)領(lǐng)域
封裝產(chǎn)線QC檢測
器件失效分析
組合器件測試
科研領(lǐng)域
高校實驗教學
研究所參數(shù)研究
新型器件開發(fā)
五、數(shù)據(jù)管理
輸出格式：Excel/Word雙格式
分析工具：ATE專業(yè)軟件
曲線精度：逐點校準技術(shù)
審核編輯 黃宇
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