一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

ESD技術(shù)文檔:芯片級(jí)ESD與系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹和差異分析

向上 ? 來源:納芯微電子 ? 作者:納芯微電子 ? 2025-05-15 14:25 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

靜電放電(ESD)問題對(duì)芯片可靠性構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。本文介紹了芯片級(jí)ESD(HBM、CDM、MM)和系統(tǒng)級(jí)ESD(IEC61000-4-2)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試方法和測(cè)試等級(jí),并對(duì)比分析了芯片級(jí)ESD和系統(tǒng)級(jí)ESD之間的差異。隨后,介紹了隔離系統(tǒng)中常用的ESD防護(hù)設(shè)計(jì)方法和測(cè)試注意事項(xiàng)。

image.png

芯片級(jí)ESD測(cè)試和系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試共同體現(xiàn)了芯片在整個(gè)生命周期中的抗ESD性能,但這兩種參數(shù)的測(cè)試對(duì)象不同,對(duì)應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)也不同。芯片級(jí)ESD測(cè)試以獨(dú)立芯片作為DUT,用于評(píng)估芯片本身的抗ESD能力。而系統(tǒng)級(jí)ESD則是以完整產(chǎn)品作為DUT,用于評(píng)估整套產(chǎn)品對(duì)外界ESD的抗干擾能力。因此,芯片內(nèi)部集成的ESD保護(hù)電路存在不足以承受同等級(jí)的系統(tǒng)級(jí)ESD直接沖擊的可能,這也是使用系統(tǒng)級(jí)ESD對(duì)芯片直接進(jìn)行測(cè)試更容易失效的原因。

芯片級(jí)ESD與系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹和差異分析技術(shù)文檔免費(fèi)下載:

*附件:AN-13-0009_芯片級(jí)ESD與系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹和差異分析.pdf

在測(cè)試方法上,芯片級(jí)ESD是在固定夾具上測(cè)試,芯片處于不上電狀態(tài)。而系統(tǒng)級(jí)ESD的測(cè)試則是將芯片焊接在PCB上,測(cè)試過程中芯片可能處于上電狀態(tài),測(cè)試引腳組合也會(huì)因系統(tǒng)電路連接差 異 而 不 同 。 此 外 , 標(biāo) 準(zhǔn) 規(guī) 定 的 H B M 測(cè) 試 要 求 正 負(fù) 極 性 各 3 次 的 脈 沖 電 壓 測(cè) 試 , 而 I E C61000-4-2要求至少正負(fù)極性各10次的脈沖電流測(cè)試,電荷的持續(xù)累積也會(huì)加速芯片損傷。在放電脈沖波形參數(shù)上,芯片級(jí)ESD和系統(tǒng)級(jí)ESD相比較,脈沖電壓范圍、脈沖上升時(shí)間、脈沖電壓沖擊次數(shù)等參數(shù)均有明顯的差異,如下表所示:
image.png

可以看出,一方面,基于IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的ESD能量遠(yuǎn)高于HBM和CDM,以8kV接觸放電為例,系統(tǒng)級(jí)ESD脈沖電流峰值為30A,而HBM為1.3A,CDM為5A,系統(tǒng)級(jí)ESD相比于芯片級(jí)ESD對(duì)芯片內(nèi)部的保護(hù)器件增加了6倍的電應(yīng)力需求。另一方面,系統(tǒng)級(jí)ESD脈沖上升時(shí)間在0.7ns~1ns之間,而HBM的脈沖時(shí)間一般需要25ns,系統(tǒng)級(jí)ESD對(duì)芯片內(nèi)部保護(hù)電路的響應(yīng)時(shí)間提出了更加嚴(yán)格的要求,這就使得主要以HBM模型設(shè)計(jì)的保護(hù)電路無法及時(shí)響應(yīng),從而使芯片功能電路直接被損壞。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • ESD
    ESD
    +關(guān)注

    關(guān)注

    50

    文章

    2294

    瀏覽量

    175803
  • ESD保護(hù)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    466

    瀏覽量

    27551
  • 納芯微電子
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    70

    瀏覽量

    2365
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    級(jí)ESD保護(hù)器件的關(guān)鍵屬性

    能是不同的。具體來說,導(dǎo)通時(shí)間和鉗位電壓差別很大。這意味著,對(duì)敏感的芯片組來說,有可能使用其中某種技術(shù)的應(yīng)用無法通過ESD測(cè)試,但使用另一種技術(shù)
    發(fā)表于 05-22 05:01

    不同類型ESD的防護(hù)與測(cè)試方案 ------環(huán)境類 /板級(jí)/(晶圓級(jí))/成品的ESD方案

    ;該系統(tǒng)主要被用于產(chǎn)品的研發(fā)與測(cè)試分析 這一類ESD 可以理解為板級(jí)ESD 3. 隨著中美貿(mào)
    發(fā)表于 02-29 16:39

    芯片IC可靠性測(cè)試、ESD測(cè)試、FA失效分析

    分析芯片良率提升、封裝工藝管控?集成電路競(jìng)品分析、工藝分析?芯片級(jí)失效分析方案turnkey?
    發(fā)表于 05-17 20:50

    ESD事件保護(hù)的系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)方法有哪幾種?

    系統(tǒng)級(jí)ESD現(xiàn)象和器件級(jí)ESD現(xiàn)象有什么差異?ESD
    發(fā)表于 06-08 07:20

    ESD測(cè)試你做了嗎?

    做, 使用TLP脈沖方波評(píng)估芯片ESD性能,可以是Wafer,die或封裝后成品。? 通常0V打到fail ? ESD-gun 靜電槍測(cè)試? 模擬單板、
    發(fā)表于 11-24 10:48

    ESD模型和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

    ESD模型和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
    發(fā)表于 12-10 14:02 ?18次下載

    TI:系統(tǒng)級(jí) ESD 電路保護(hù)設(shè)計(jì)考慮因素

    本文將為您解釋系統(tǒng)級(jí) ESD 現(xiàn)象和器件級(jí) ESD 現(xiàn)象之間的差異,并向您
    發(fā)表于 05-30 14:43 ?32次下載
    TI:<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b><b class='flag-5'>級(jí)</b> <b class='flag-5'>ESD</b> 電路保護(hù)設(shè)計(jì)考慮因素

    系統(tǒng)級(jí)ESD保護(hù)為什么重要?怎樣提高ESD保護(hù)的測(cè)試模型和戰(zhàn)略?

    手機(jī)設(shè)計(jì)人員一直都面臨著何時(shí)以及如何解決ESD的挑戰(zhàn),系統(tǒng)級(jí) ESD 保護(hù)為何如此重要?
    的頭像 發(fā)表于 08-18 11:29 ?8539次閱讀

    系統(tǒng)級(jí)ESD電路保護(hù)設(shè)計(jì)需要考慮因素?系統(tǒng)級(jí)和器件級(jí)ESD有什么區(qū)別?

    本文將為您解釋系統(tǒng)級(jí)ESD現(xiàn)象和器件級(jí)ESD現(xiàn)象之間的差異,并向您
    發(fā)表于 08-23 08:00 ?39次下載
    <b class='flag-5'>系統(tǒng)</b><b class='flag-5'>級(jí)</b><b class='flag-5'>ESD</b>電路保護(hù)設(shè)計(jì)需要考慮因素?<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b><b class='flag-5'>級(jí)</b>和器件<b class='flag-5'>級(jí)</b>的<b class='flag-5'>ESD</b>有什么區(qū)別?

    介紹三種芯片級(jí)ESD事件

    ESD按照發(fā)生階段主要分為兩類:1.發(fā)生在芯片上PCB板前的過程中(生產(chǎn) 、封裝、運(yùn)輸、銷售、上板)這類ESD事件完全需要由芯片自己承受。
    的頭像 發(fā)表于 05-16 16:21 ?1.7w次閱讀
    <b class='flag-5'>介紹</b>三種<b class='flag-5'>芯片級(jí)</b><b class='flag-5'>ESD</b>事件

    ESD,汽車級(jí)靜電二極管

    在汽車電子系統(tǒng)中,除了CAN總線靜電防護(hù)專用器件NUP2105L、PESD1CAN、PESD2CAN等之外,還有哪些型號(hào)的ESD靜電保護(hù)二極管符合AEC-Q101
    的頭像 發(fā)表于 02-14 17:12 ?1195次閱讀
    <b class='flag-5'>ESD</b>,汽車<b class='flag-5'>級(jí)</b>靜電二極管

    概倫電子宣布正式推出芯片級(jí)HBM靜電防護(hù)分析平臺(tái)ESDi

    近日,概倫電子宣布正式推出芯片級(jí)HBM靜電防護(hù)分析平臺(tái)ESDi和功率器件及電源芯片設(shè)計(jì)分析驗(yàn)證工具PTM,并開始在國內(nèi)外市場(chǎng)廣泛推廣。
    的頭像 發(fā)表于 05-28 10:09 ?1028次閱讀

    ESD器件的測(cè)試方法和標(biāo)準(zhǔn)

    遭受ESD沖擊時(shí)不會(huì)損壞。 提高可靠性 :符合ESD標(biāo)準(zhǔn)的器件可以提高整個(gè)系統(tǒng)的可靠性。 減少成本 :預(yù)防ESD損害可以減少維修和更換的成本
    的頭像 發(fā)表于 11-14 11:18 ?4382次閱讀

    ESD HBM測(cè)試差異較大的結(jié)果分析

    ESD HBM測(cè)試結(jié)果差異較大的原因,通常包括設(shè)備/儀器差異、?校準(zhǔn)和維護(hù)水平不同、?環(huán)境條件差異、?測(cè)
    的頭像 發(fā)表于 11-18 15:17 ?1240次閱讀
    <b class='flag-5'>ESD</b> HBM<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>差異</b>較大的結(jié)果<b class='flag-5'>分析</b>

    概倫電子芯片級(jí)HBM靜電防護(hù)分析平臺(tái)ESDi介紹

    ESDi平臺(tái)是一款先進(jìn)的芯片級(jí)ESD(靜電防護(hù))驗(yàn)證平臺(tái),為設(shè)計(jì)流程的各個(gè)階段提供定制化解決方案。該平臺(tái)包括原理圖級(jí)HBM(人體模型)檢查工具ESD
    的頭像 發(fā)表于 04-22 10:25 ?413次閱讀
    概倫電子<b class='flag-5'>芯片級(jí)</b>HBM靜電防護(hù)<b class='flag-5'>分析</b>平臺(tái)<b class='flag-5'>ESD</b>i<b class='flag-5'>介紹</b>