CNAS認可

近日，杭州廣立測試設(shè)備有限公司校準實驗室順利通過中國合格評定國家認可委員會（CNAS）的審核，正式踏入國際互認實驗室的行列。CNAS作為國內(nèi)認可領(lǐng)域的權(quán)威機構(gòu)，其認可意味著廣立微在電磁學(xué)測量儀器校準領(lǐng)域的校準能力、管理體系、技術(shù)水平等方面已達到ISO/IEC 17025國際標準。

校準實驗室配備世界領(lǐng)先的先進分析儀器和校準設(shè)備，嚴格執(zhí)行國家《計量法》、《質(zhì)量法》以及其他與校準相關(guān)的法規(guī)，擁有一整套科學(xué)、規(guī)范的質(zhì)量保證體系和規(guī)章制度。

廣立微致力于開發(fā)和提供技術(shù)領(lǐng)先、具有國際競爭力的半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)，橫向拓展晶圓級可靠性測試設(shè)備品類，滿足更多樣化的市場需求。

機臺性能強大

精度高：電流測試精度sub-pA，電壓測試精度100μV，電容測試精度10fF；

軟硬協(xié)同：“設(shè)計與測試協(xié)同”方案幫助客戶提高測試生產(chǎn)率，可提升幾十倍至上千倍；

算法庫豐富

涵蓋了WAT, WLR, Spice, Addressable可尋址電路算法；

提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)

50人+FAE團隊，工作經(jīng)驗豐富，大部分為碩士以上學(xué)歷；

數(shù)據(jù)分析

測試數(shù)據(jù)可直接導(dǎo)入Semitronix自有的DE-G軟件，使用相應(yīng)WAT/ WLR數(shù)據(jù)分析模塊，提供用戶工作效率；

WAT 測試

數(shù)據(jù)準確：測試數(shù)據(jù)可與市面上Baseline機臺match；

高效生產(chǎn)能力：測試速度為市面上Baseline 1.4x-5x；

支持多類工藝wafer測試：涵蓋LOGIC、CIS、DRAM、SRAM、FLASH、RO、BCD等；

算法庫豐富：支持ID/VT/VTGM/IOFF/ISUB/BV/CAP/CV/IV/ICP，BETA/VBE/BVCEO/BVCBO/BVEBO，R2/RKLV/LK/CAP_METAL，IREAD/ISTANDBY/IDDQ/WM/SNM，ERASE/PROGRAM，IDDA/IDDQ/FREQ等

軟件及算法靈活可定制

WLR 測試

數(shù)據(jù)準確：測試數(shù)據(jù)可與市面上Baseline機臺match；

支持HCI/ BTI/ VRAMP/ JRAMP/ VTDDB/ JTDDB/ EM/ PID/ SM/ ICP等 WLR 測試；

可根據(jù)測試需求進行定制化開發(fā)，如添加特定的監(jiān)測模式，VRAMP測試過程輸出四端Curve等；

支持智能化并行測試，大幅度提升測試速度。

目前，廣立微可基于行業(yè)通用的JEDEC或客戶定制標準提供半導(dǎo)體工藝可靠性相關(guān)咨詢、驗證、測試及數(shù)據(jù)分析服務(wù),測試項目包括:

柵氧完整性（GOI Vramp/TDDB/Jramp）

熱載流子注入（HCI）

負偏壓溫度不穩(wěn)定性（NBTI）等

亦可提供高壓及并行可靠性測試，提高測試效率，縮短客戶工藝調(diào)試周期。

自主研發(fā)高性能硬件配置方案，未來將逐步增加測試設(shè)備種類，拓展到其他測試應(yīng)用場景。

自此，廣立微出具的校準報告，能在全球100多個國家和地區(qū)互認，可為全球客戶提供極具公信力的校準證明，為客戶提供更可靠、更權(quán)威的技術(shù)支持。

此次廣立微成功獲得國家校準實驗室CNAS認可資質(zhì)，標志著我司在計量校準領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了重大突破，全面提升了公司的綜合技術(shù)服務(wù)實力與行業(yè)核心競爭力。廣立微將依托國際標準的校準體系，為客戶提供更具公信力、精準度和時效性的全維度校準解決方案。

關(guān)于我們

杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設(shè)備供應(yīng)商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監(jiān)控技術(shù)，是國內(nèi)外多家大型集成電路制造與設(shè)計企業(yè)的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設(shè)備以及與芯片成品率提升技術(shù)相結(jié)合的整套解決方案，在集成電路設(shè)計到量產(chǎn)的整個產(chǎn)品周期內(nèi)實現(xiàn)芯片性能、成品率、穩(wěn)定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節(jié)點。