Analog Devices Inc. ADMX2001B精密阻抗分析儀測量模塊簡化了阻抗測量系統(tǒng)的開發(fā)，也可用于增強(qiáng)現(xiàn)有測試平臺的功能。ADMX2001B采用高性能混合信號和處理算法，可測量小至0.1fF的電容變化，電阻值高達(dá)1GΩ，通常用于測試半導(dǎo)體器件、電子元件和傳感器。此外，得益于內(nèi)置測量算法，Analog Devices Inc. ADMX2001B能夠提供各種格式的完全校準(zhǔn)的復(fù)雜阻抗或?qū)Ъ{測量結(jié)果，其中包括電阻、電容和電感的并聯(lián)和串聯(lián)組合。

特性

• 復(fù)雜阻抗測量：0.2Hz至10MHz
• 高吞吐量
  • 測量時(shí)間：2.7ms
• 基本相對精度：0.05%
• 寬測量范圍
  • 電阻范圍：100μΩ至1GΩ
  • 電容范圍：100aF至10F
  • 電感范圍：10pH至100H
• 可編程測試信號
  • 16位幅度調(diào)整高達(dá)2.4V
  • 頻率分辨率：0.2Hz
  • 16位直流偏置設(shè)置高達(dá)±2.4V
• 直流電阻測量
• 18種阻抗測量格式，用于C、R、L、Z和Y
• 自動多點(diǎn)和參數(shù)掃描
• 校準(zhǔn)和夾具補(bǔ)償功能
  • 自動校準(zhǔn)例程，用于測量可追溯性
  • 非易失性存儲器中的校準(zhǔn)系數(shù)存儲
  • 補(bǔ)償消除了夾具寄生效應(yīng)

應(yīng)用

• 自動化測試設(shè)備
• 半導(dǎo)體特性
• 晶圓驗(yàn)收測試
• 電阻抗頻譜分析
• 阻抗網(wǎng)絡(luò)分析
• 電池測試

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