ADI LCR測量模塊ADMX2001概述和應(yīng)用
ADMX2001是一款先進的LCR測量模塊，在DC至10MHz范圍內(nèi)可實現(xiàn)超高精度。其設(shè)計比典型儀器緊湊100倍，專為實驗室、高密度系統(tǒng)、傳感器評估等應(yīng)用量身定制。將為您的創(chuàng)新設(shè)計帶來出色的性能和精度。助力實現(xiàn)阻抗測量革新。
測量模塊 EVAL-ADMX2001
ADMX2001是一種測量模塊，可簡化阻抗測量系統(tǒng)的開發(fā)過程或可用于增強現(xiàn)有測試平臺的功能。
通過使用高性能混合信號和處理算法，ADMX2001可測量小至0.1fF的電容以及高達1GΩ的電阻值變化，這是測試半導體器件、電子元件和傳感器的常見要求。此外，內(nèi)置測量算法使ADMX2001能夠提供采用多種格式的完全校準復阻抗或?qū)Ъ{測量結(jié)果，包括電阻、電容和電感的并聯(lián)和串聯(lián)組合。
應(yīng)用
自動化測試設(shè)備
半導體特性表征
晶圓驗收測試
電阻抗譜
阻抗網(wǎng)絡(luò)分析
電池測試
審核編輯：湯梓紅
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原文標題：2分30秒了解ADI精密阻抗分析儀測量模塊
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