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      EMI預(yù)兼容N9000B+N6141C近場探頭方案

      世強(qiáng)SEKORM ? 來源：互聯(lián)網(wǎng) ? 作者：佚名 ? 2018-05-21 09:54 ? 次閱讀
      任何產(chǎn)品只要使用公共電網(wǎng)或帶有電子電路，都必須滿足 EMC ( 電磁兼容性 ) 要求。而在EMC中， EMI的問題始終是工程師關(guān)心的話題。因?yàn)镋MI的遠(yuǎn)場測試只能知道產(chǎn)品符不符合EMI的認(rèn)證要求。一旦不符合要求，它無法提供超標(biāo)的輻射源的位置和傳播途徑，這樣工程師就無從下手做整改。

      EMI輻射近場測試是一種相對量測試，它可以把被測件的測試結(jié)果與基準(zhǔn)件的測試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測被測件通過一致性測試的可能性，并且通過探頭的檢測能快速精準(zhǔn)的告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于 USB、LAN 之類的通信接口，還是來自殼體的縫隙，或來自連接的電纜乃至電源線，幫助工程師查找和定位輻射源位置和傳播路徑，及評(píng)估整改后的效果。

      因此，「世強(qiáng)&Keysight」開放實(shí)驗(yàn)室也針對EMI預(yù)兼容（輻射）近場測量提供了N9000B+N6141C+近場探頭，幫助工程師對你設(shè)計(jì)執(zhí)行預(yù)兼容測量和診斷評(píng)測。具體包括：

      輕松識(shí)別超出標(biāo)準(zhǔn)極限值的器件發(fā)射

      頻率掃描

      使用掃描表設(shè)置頻率范圍

      使用△至極限值的傳導(dǎo)發(fā)射與掃描表

      使用儀表進(jìn)行的輻射掃描

      使用條形圖查看隨時(shí)間變化的信號(hào)

      條形圖

      生成測試結(jié)果的報(bào)告

      報(bào)告生成

      時(shí)域掃描加速測試

      分辨率帶寬與FFT采集帶寬的對比

      自動(dòng)單擊測量

      簡化和自動(dòng)執(zhí)行數(shù)據(jù)收集、分析和報(bào)告生成，更高效地完成單擊測量

      利用最小的檢測頻譜找到最大的發(fā)射

      檢測頻譜發(fā)現(xiàn)峰值發(fā)射的頻率

      準(zhǔn)備執(zhí)行APD測量

      利用APD功能為未來應(yīng)用做好準(zhǔn)備

      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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      原文標(biāo)題：「世強(qiáng)＆Keysight」開放實(shí)驗(yàn)室介紹第三彈：EMI預(yù)兼容（輻射）近場測量方案

      文章出處：【微信號(hào)：sekorm_info，微信公眾號(hào)：世強(qiáng)SEKORM】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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