動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-05-15 11:01
HD5000A抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀軟件使用方法
介損絕緣試驗(yàn)可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì),以及局部缺陷等,在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。HD5000A抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用變頻電源技術(shù),利用單片機(jī)和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算,達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、操作簡(jiǎn)便的功能。變頻電源采用大功率開關(guān)電源,輸出45Hz和55Hz純正弦波,自動(dòng) -
發(fā)布了文章 2024-05-15 11:00
HD5000A抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀接線方法
介紹1.打印機(jī):打印測(cè)量數(shù)據(jù)。2.顯示器:128×64液晶顯示器,顯示菜單和各種提示信息及測(cè)量結(jié)果。3.CX插座:是試品信號(hào)的測(cè)量輸入端,正接線時(shí)由專用低壓電纜連接,此電纜單層屏蔽帶特制鱷魚夾,接試品低端。反接線時(shí)此端空置。4.CN插座:是外標(biāo)準(zhǔn)電容信號(hào)的測(cè)量輸入端,使用內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)此端空置。5.CVT端:測(cè)量CVT的專用端子,自激法電流輸出端。6.接地樁:實(shí)驗(yàn) -
發(fā)布了文章 2024-05-15 10:58
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發(fā)布了文章 2024-05-15 10:47
HDGK-8智能高壓開關(guān)機(jī)械特性測(cè)試儀操作方法
介紹儀器采用超大高清晰液晶顯示器,開機(jī)后,顯示試驗(yàn)項(xiàng)目:常規(guī)試驗(yàn)、重合閘試驗(yàn)、低電壓試驗(yàn);圖1一共有三種試驗(yàn)可供選擇:常規(guī)試驗(yàn)、重合閘試驗(yàn)、低電壓試驗(yàn)。默認(rèn)為常規(guī)試驗(yàn),按下面板上的“確認(rèn)”按鈕后,進(jìn)入常規(guī)試驗(yàn)界面,如圖2所示。圖2屏幕上方顯示的是部分試驗(yàn)設(shè)置信息以及日期時(shí)間顯示。屏幕左下方顯示的是目前斷口的實(shí)時(shí)狀態(tài)。光標(biāo)默認(rèn)顯示在“測(cè)試”上。通過面板上的左、 -
發(fā)布了文章 2024-05-15 10:46
HDSF-III型SF6氣體綜合測(cè)試儀使用操作步驟規(guī)范
使用操作步驟1.打開儀器觀察儀器電量,如果電量不足請(qǐng)及時(shí)充電。2.仔細(xì)檢查過渡轉(zhuǎn)接頭是否齊全,密封圈安裝是否安裝到位。3.到達(dá)測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)后,先打開儀器電源開關(guān),連接上出氣管道(將管道出口引至無人處)4.選擇與設(shè)備相配套的轉(zhuǎn)接頭,先將進(jìn)氣管道與轉(zhuǎn)接頭連接好后再將轉(zhuǎn)接頭與被測(cè)量設(shè)備相連接。5.將儀器面板上面的流量調(diào)節(jié)閥關(guān)閉,將進(jìn)氣管道與儀器進(jìn)氣口連接好,觀察儀器自766瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-05-15 10:44
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發(fā)布了文章 2024-05-15 10:40
高壓交聯(lián)電纜現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn)
本文分析了直流耐壓試驗(yàn)對(duì)交聯(lián)聚乙烯電纜存在的缺點(diǎn)和問題,通過比較,選擇了變頻諧振裝置在山東電網(wǎng)開展高壓交聯(lián)電纜的現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn),并介紹了交流耐壓實(shí)例。[關(guān)鍵詞]:XLPE電纜直流耐壓試驗(yàn)交流耐壓試驗(yàn)1.前言油紙絕緣用于中壓、高壓電纜已有50多年,由于這些電纜有很大的電容量,現(xiàn)場(chǎng)一直不做工頻交流試驗(yàn)。而且油紙絕緣電纜的絕緣電阻遠(yuǎn)低于橡塑電纜,DC電壓試驗(yàn)用來 -
發(fā)布了文章 2024-05-15 10:39
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發(fā)布了文章 2024-05-15 10:36
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發(fā)布了文章 2024-05-15 10:34
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ試驗(yàn)方法
武漢華頂電力設(shè)備有限公司生產(chǎn)的HD6000抗干擾高壓異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀其原理在前面已經(jīng)講過,tgδ是IR/IC的比值,它能反映電介質(zhì)內(nèi)單位體積中能量損耗的大小,只與電介質(zhì)的性質(zhì)有關(guān),而與其體積大小尺寸均沒有關(guān)系。因此,tgδ的測(cè)試目的,也是能夠有效地發(fā)現(xiàn)設(shè)備絕緣的普遍老化、受潮、臟污等整體缺陷。對(duì)小電容設(shè)備,如套管、互感器(電容式)也能夠發(fā)現(xiàn)內(nèi)部是否存在氣隙