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發(fā)布了文章 2025-05-23 16:03
晶圓隱裂檢測提高半導(dǎo)體行業(yè)效率
半導(dǎo)體行業(yè)是現(xiàn)代制造業(yè)的核心基石,被譽為“工業(yè)的糧食”,而晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基板,其質(zhì)量直接決定芯片的性能、良率和可靠性。晶圓隱裂檢測是保障半導(dǎo)體良率和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。晶圓檢測通過合理搭配工業(yè)相機與光學(xué)系統(tǒng),可實現(xiàn)亞微米級缺陷檢測,提升半導(dǎo)體制造的良率和效率。SWIR相機晶圓隱裂檢測系統(tǒng),使用紅外相機發(fā)揮波段長穿透性強的特性進(jìn)行材質(zhì)透檢捕捉內(nèi)部隱裂缺陷247瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-05-21 16:55
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發(fā)布了文章 2025-05-21 16:49
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發(fā)布了文章 2025-05-16 17:04
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發(fā)布了文章 2025-04-18 17:16
Moritex大靶面遠(yuǎn)心鏡頭 助力晶圓外觀檢測
在半導(dǎo)體制造工藝中,為了形成精細(xì)的圖案和結(jié)構(gòu),通常要求更高。高分辨率工業(yè)鏡頭的作用也是為了實現(xiàn)精準(zhǔn)成像。通過高品質(zhì)的光學(xué)元件和優(yōu)秀設(shè)計,來實現(xiàn)工業(yè)鏡頭的高分辨率。為半導(dǎo)體制造設(shè)備應(yīng)用而設(shè)計的工業(yè)鏡頭,配合實現(xiàn)高精度貼合和檢測,并在最大限度上抑制細(xì)微的圖案層間的位置偏差,為有應(yīng)用需求的客戶提供精準(zhǔn)成像。鏡頭的定位和距離,會直接影響半導(dǎo)體設(shè)備的細(xì)微圖案形成和檢查305瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-16 17:33
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發(fā)布了文章 2025-04-11 17:03
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發(fā)布了文章 2025-04-10 11:43