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廣電計(jì)量

廣電計(jì)量一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。專注于為客戶提供計(jì)量、檢測(cè)、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù)。

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廣電計(jì)量文章

  • Robotaxi發(fā)展再加速,智能駕駛傳感領(lǐng)域檢測(cè)迎來(lái)全新挑戰(zhàn)2024-08-23 11:01

    高階智駕的發(fā)展是無(wú)人駕駛系統(tǒng)在技術(shù)層面落地的基石,而感知是智能駕駛的先決條件,車輛的傳感器需要通過(guò)嚴(yán)苛的可靠性驗(yàn)證,方可保障智能駕駛的行駛安全。本期“專家訪談”欄目,我們邀請(qǐng)到廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析事業(yè)部資深技術(shù)專家王河清博士,探討智能駕駛中傳感系統(tǒng)面臨的安全性挑戰(zhàn)以及如何助力提升系統(tǒng)及產(chǎn)品測(cè)試效率和設(shè)計(jì)質(zhì)量等問(wèn)題。
  • 技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性2024-08-13 09:37

    人工智能(AI)技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語(yǔ)言處理和計(jì)算機(jī)視覺(jué)等AI應(yīng)用中,訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬(wàn)億,要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運(yùn)算,需要上萬(wàn)個(gè)GPU同時(shí)工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對(duì)于傳統(tǒng)銅纜而言是個(gè)巨大的挑戰(zhàn),因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光
    AI SiC 光模塊 1578瀏覽量
  • 車規(guī)級(jí) | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗(yàn)-熱阻測(cè)試2024-07-05 10:22

    在因?yàn)楣β势骷嚓P(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中,有超過(guò)50%是因?yàn)闇囟冗^(guò)高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過(guò)高會(huì)導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。隨著器件小尺寸化、高集成化的趨勢(shì),有限的空間承載的功率密度越來(lái)越大,對(duì)熱性能測(cè)試的研究成為了行業(yè)的熱門議題。因此,熱阻測(cè)試對(duì)功率器件試可靠性驗(yàn)證及對(duì)汽車電子系統(tǒng)保障中起著關(guān)鍵性的作用。
  • 技術(shù)分享 | AEC-Q007中組件焊點(diǎn)開裂原因分析及相關(guān)車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)介紹2024-06-11 16:06

    本文系統(tǒng)梳理了焊點(diǎn)開裂典型失效模式、失效機(jī)理,并整理了AEC-Q007及業(yè)內(nèi)日系、德系等主機(jī)廠對(duì)應(yīng)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
  • 合作案例|鈞聯(lián)電子自主研發(fā)的SiC功率模塊順利通過(guò)AQG-324認(rèn)證2024-05-17 14:45

    2024年3月,合肥鈞聯(lián)汽車電子有限公司(以下簡(jiǎn)稱“鈞聯(lián)電子”)自主研發(fā)的SiC功率模塊(型號(hào)JLBH800N120SAM)順利通過(guò)AQG-324車規(guī)級(jí)功率模塊可靠性測(cè)試認(rèn)證,廣電計(jì)量提供本次AQG324車規(guī)級(jí)可靠性測(cè)試服務(wù)方案。廣電計(jì)量出具的AQG-324報(bào)告廣電計(jì)量合肥總經(jīng)理王繼忠為鈞聯(lián)電子總經(jīng)理陳兆銀頒發(fā)證AQG-324測(cè)試認(rèn)證內(nèi)容包含模塊測(cè)試、模塊特
  • 功率器件環(huán)境可靠性測(cè)試的加速老化物理模型2024-04-23 11:31

    高溫柵偏(HighTemperatureGateBias,HTGB)、高溫反偏(HighTemperatureReverseBias,HTRB)、高溫高濕反偏(HighHumidityHighTemperatureReverseBias,H3TRB)等環(huán)境可靠性測(cè)試是進(jìn)行功率器件壽命評(píng)估所必備的試驗(yàn)。由于不同標(biāo)準(zhǔn)下的試驗(yàn)條件并不相同,因而理解上述環(huán)境可靠性測(cè)
  • 技術(shù)分享 | ISO 26262中的安全分析之FMEA2024-04-15 11:32

    本期內(nèi)容以系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)為例,講解如何在ISO26262產(chǎn)品開發(fā)過(guò)程中實(shí)施安全分析,半導(dǎo)體層面的芯片設(shè)計(jì)也可以參考本文相關(guān)內(nèi)容執(zhí)行安全分析。安全分析方法ISO26262要求根據(jù)不同ASIL等級(jí)組合地使用“演繹分析”和“歸納分析”,如表1所示:表1:安全分析方法根據(jù)表1所列信息,開發(fā)團(tuán)隊(duì)會(huì)常常誤認(rèn)為ASILB是不需要執(zhí)行“演繹分析”。事實(shí)上,ISO26262的要
  • 一文了解整車EMC測(cè)試2024-04-12 08:37

    EMC測(cè)試概述EMC測(cè)試基本概念EMC是指電磁兼容性,它是指電子設(shè)備在電磁環(huán)境下正常工作且不對(duì)周圍環(huán)境造成不良影響的能力。EMC測(cè)試就是評(píng)估電子設(shè)備在電磁環(huán)境下工作時(shí)所產(chǎn)生的電磁干擾(EMI)和電磁敏感度(EMS),是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一。EMC測(cè)試方法EMC測(cè)試主要包括輻射測(cè)試和傳導(dǎo)測(cè)試兩種方法。EMC測(cè)試的場(chǎng)地一般為開闊場(chǎng)、半電波暗室或屏蔽室。輻射測(cè)
    EMC測(cè)試 1832瀏覽量
  • 技術(shù)分享 | 芯片粘接空洞的超聲檢測(cè)2024-04-11 11:48

    隨著電子封裝技術(shù)向小型化發(fā)展,芯片散熱問(wèn)題逐漸成為阻礙其具有高可靠性的瓶頸,特別是功率器件,芯片粘接空洞是造成器件散熱不良而失效的主要原因。因此,在對(duì)元器件的篩選檢測(cè)工作中,往往需要通過(guò)超聲檢測(cè)手段,檢測(cè)并評(píng)價(jià)芯片粘接質(zhì)量,一旦粘接空洞達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,均會(huì)被判為不合格并剔除,以保障其使用可靠性。要開展好芯片粘接質(zhì)量的超聲檢測(cè)工作,正確分析辨認(rèn)粘接空洞,需
  • NVH技術(shù)干貨 | 汽車零部件調(diào)制音問(wèn)題分析研究2024-04-10 10:42

    在實(shí)際工程中,越來(lái)越多的汽車零部件(帶小電機(jī)、螺桿等)會(huì)出現(xiàn)調(diào)制現(xiàn)象,如波浪音、沙沙音、噠噠聲等,會(huì)給人不悅的感覺(jué),本文結(jié)合實(shí)際工程案例,討論零部件出現(xiàn)調(diào)制音問(wèn)題的主要原因和分析方法,并從后期整改端和前期設(shè)計(jì)端給予一定的經(jīng)驗(yàn)分享。調(diào)制音問(wèn)題分析一般NVH問(wèn)題可以簡(jiǎn)化為“源-路徑-接受者”模型,針對(duì)調(diào)制音問(wèn)題分析,我們采用逆向思維“接受者-源-路徑”。首先針對(duì)