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FindRF

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使用負(fù)偏壓萃取電極的方法

使用負(fù)偏壓的萃取電極將離子從離子源內(nèi)的等離子體中抽出,并將其加速到大約50keV的能量。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-29 09:37 ?1218次閱讀
使用負(fù)偏壓萃取電極的方法

半導(dǎo)體制造之離子注入工藝簡(jiǎn)述

高壓直流電源用于加速離子,大約為200kV的DC電源供應(yīng)系統(tǒng)被裝配在注入機(jī)內(nèi)。為了通過(guò)離子源產(chǎn)生離子....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-26 14:44 ?3355次閱讀
半導(dǎo)體制造之離子注入工藝簡(jiǎn)述

離子注入工藝之退火處理

高溫爐廣泛用于進(jìn)行注入后的熱退火。高溫爐的退火處理是一個(gè)批量過(guò)程,在850攝氏度至1000攝氏度情況....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-22 09:56 ?6197次閱讀
離子注入工藝之退火處理

離子注入工藝的損傷與熱退火

高電流的硅或錯(cuò)離子注入將嚴(yán)重破壞單晶體的晶格結(jié)構(gòu),并在晶圓表面附近產(chǎn)生非晶態(tài)層。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-19 09:22 ?4899次閱讀
離子注入工藝的損傷與熱退火

離子在非晶態(tài)材料內(nèi)的投影射程

離子在非晶態(tài)材料內(nèi)的投影射程通常遵循高斯分布,即所謂的常態(tài)分布。單晶硅中的晶格原子整齊排列,而且在特....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-15 09:01 ?1820次閱讀
離子在非晶態(tài)材料內(nèi)的投影射程

簡(jiǎn)要描述離子注入的原理和優(yōu)缺點(diǎn)

離子注入是一種向襯底中引入可控制數(shù)量的雜質(zhì),以改變其電學(xué)性能的方法。它是一個(gè)物理過(guò)程,不發(fā)生化學(xué)反應(yīng)....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-12 16:00 ?10932次閱讀
簡(jiǎn)要描述離子注入的原理和優(yōu)缺點(diǎn)

離子注入技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)和應(yīng)用

離子注入過(guò)程提供了比擴(kuò)散過(guò)程更好的摻雜工藝控制(見(jiàn)下表)。例如,摻雜物濃度和結(jié)深在擴(kuò)散過(guò)程中無(wú)法獨(dú)立....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-08 11:19 ?3820次閱讀
離子注入技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)和應(yīng)用

半導(dǎo)體之離子注入工藝簡(jiǎn)介

半導(dǎo)體材料最重要的特性之一是導(dǎo)電率可以通過(guò)摻雜物控制。集成電路制造過(guò)程中,半導(dǎo)體材料(如硅、錯(cuò)或1E....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 05-04 11:12 ?4704次閱讀
半導(dǎo)體之離子注入工藝簡(jiǎn)介

半導(dǎo)體刻蝕工藝簡(jiǎn)述

等離子體均勻性和等離子體位置的控制在未來(lái)更加重要。對(duì)于成熟的技術(shù)節(jié)點(diǎn),高的產(chǎn)量、低的成本是與現(xiàn)有生產(chǎn)....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 04-21 09:20 ?3118次閱讀

半導(dǎo)體行業(yè)之刻蝕工藝介紹

壓力主要控制刻蝕均勻性和刻蝕輪廓,同時(shí)也能影響刻蝕速率和選擇性。改變壓力會(huì)改變電子和離子的平均自由程....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 04-17 10:36 ?3966次閱讀

半導(dǎo)體行業(yè)之刻蝕工藝介紹

金屬刻蝕具有良好的輪廓控制、殘余物控制,防止金屬腐蝕很重要。金屬刻蝕時(shí)鋁中如果 有少量銅就會(huì)引起殘余....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 04-10 09:40 ?5273次閱讀

多晶硅蝕刻工藝講解

下圖顯示了Intel的第6代晶體管(6T)SRAM尺寸縮小時(shí)間表,以及多晶硅柵刻蝕技術(shù)后從90nm到....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 04-03 09:39 ?4815次閱讀

單晶硅刻蝕工藝流程

FinFET三維器件也可以用體硅襯底制作,這需要更好地控制單晶硅刻蝕工藝,如CD、深度和輪廓。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 03-30 09:39 ?4955次閱讀

半導(dǎo)體制造中的等離子體刻蝕過(guò)程

從下圖中可以看出結(jié)合使用XeF2氣流和氯離子轟擊的刻蝕速率最高,明顯高于這兩種工藝單獨(dú)使用時(shí)的刻蝕速....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-23 17:17 ?5761次閱讀

純化學(xué)刻蝕、純物理刻蝕及反應(yīng)式離子刻蝕介紹

刻蝕有三種:純化學(xué)刻蝕、純物理刻蝕,以及介于兩者之間的反應(yīng)式離子刻蝕(ReactiveIonEtch....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-20 09:45 ?4719次閱讀

等離子體刻蝕工藝簡(jiǎn)介

鋁刻蝕可以使用多種不同的酸,其中最普遍的混合液是以磷酸(H3P04,80%)、醋酸(CH3COOH,....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-17 09:44 ?2936次閱讀

半導(dǎo)體制造之刻蝕工藝詳解

單晶硅刻蝕用來(lái)形成相鄰晶體管間的絕緣區(qū),多晶硅刻蝕用于形成柵極和局部連線。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-13 11:13 ?11311次閱讀
半導(dǎo)體制造之刻蝕工藝詳解

單晶硅刻蝕與多晶硅刻蝕的區(qū)別在哪?

磷酸硅(Si3(PO4)4)和氨氣(NH3)這兩種副產(chǎn)品都可以溶于水。LOCOS工藝的場(chǎng)區(qū)氧化層生成....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-13 11:11 ?4608次閱讀

濕法刻蝕工藝的流程包括哪些?

濕法刻蝕利用化學(xué)溶液溶解晶圓表面的材料,達(dá)到制作器件和電路的要求。濕法刻蝕化學(xué)反應(yīng)的生成物是氣體、液....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-10 11:03 ?6781次閱讀

刻蝕工藝基礎(chǔ)知識(shí)簡(jiǎn)析

刻蝕速率是測(cè)量刻蝕物質(zhì)被移除的速率。由于刻蝕速率直接影響刻蝕的產(chǎn)量,因此刻蝕速率是一個(gè)重要參數(shù)。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-06 15:06 ?7199次閱讀

濕法和干法刻蝕圖形化的刻蝕過(guò)程討論

刻蝕是移除晶圓表面材料,達(dá)到IC設(shè)計(jì)要求的一種工藝過(guò)程??涛g有兩種:一種為圖形 化刻蝕,這種刻蝕能將....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 02-01 09:09 ?3585次閱讀

等離子體工藝回顧

在ICP反應(yīng)室中加入射頻偏壓系統(tǒng)就可以產(chǎn)生自偏壓并控制離子的轟擊能量。由于在高密度等離子體中的離子轟....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 01-15 14:45 ?2767次閱讀

半導(dǎo)體行業(yè):等離子工藝(十一)

電介質(zhì)薄膜經(jīng)常使用氧氣濺射刻蝕反應(yīng)室進(jìn)行某些處理,例如在間隙填充前首先在間隙邊緣形成傾斜的側(cè)壁,以及....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 01-08 10:19 ?1448次閱讀

半導(dǎo)體制造之等離子工藝詳解

與濕式刻蝕比較,等離子體刻蝕較少使用化學(xué)試劑,因此也減少了化學(xué)藥品的成本和處理費(fèi)用。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 12-29 17:28 ?2976次閱讀

CVD過(guò)程中的等離子工藝

CVD過(guò)程中,不僅在晶圓表面出現(xiàn)沉積,工藝室的零件和反應(yīng)室的墻壁上也都會(huì)有沉積。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 12-27 15:34 ?3213次閱讀

半導(dǎo)體行業(yè):等離子工藝(七)

下圖顯示了在一個(gè)不對(duì)稱電極等離子體源中的電壓情況,這兩個(gè)電極具有不同面積。電流的連續(xù)性將產(chǎn)生所謂的自....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 12-19 15:11 ?9100次閱讀

磁場(chǎng)中的帶電粒子介紹

低頻功率時(shí),離子所獲得的能量比在高頻功率獲得的能量稍高。低頻使離子有較多的反應(yīng)時(shí)間,所以能把離子加速....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 12-07 17:00 ?4191次閱讀

等離子第一個(gè)電子是從哪里及如何產(chǎn)生的?

當(dāng)兩個(gè)電極通過(guò)射頻高電壓時(shí),它們之間就產(chǎn)生一個(gè)交流電場(chǎng)。如果射頻功率足夠高,自由電子受到交流電場(chǎng)的影....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 11-21 10:24 ?3522次閱讀

加熱工藝發(fā)展趨勢(shì)

RTCVD過(guò)程可以用來(lái)沉積多晶硅、氮化硅和二氧化硅,例如在淺溝槽隔離工藝中使用CVD氧化硅填充溝槽。
的頭像 FindRF 發(fā)表于 11-08 09:52 ?1212次閱讀

RTO工藝的流程圖

RTCVD過(guò)程是在一個(gè)單晶圓、冷壁式的反應(yīng)室中進(jìn)行的加熱CVD工藝,具有快速改變溫 度并精確控制溫度....
的頭像 FindRF 發(fā)表于 11-01 10:05 ?4692次閱讀