'ACT8990測試總線控制器（TBC）是德州儀器SCOPE ^TM 可測性集成電路系列的成員。該系列元件支持IEEE標準1149.1-1990（JTAG）邊界掃描，便于測試復雜的電路板組件。 'ACT8990與其他SCOPE ^TM 集成電路不同。它們的功能是控制JTAG串行測試總線，而不是目標邊界可掃描設備。

JTAG串行測試總線所需的信號 - 測試時鐘（TCK），測試模式選擇（TMS），測試數(shù)據(jù)輸入（TDI）和測試數(shù)據(jù)輸出（TDO）可以從TBC到目標設備沒有額外的邏輯。這是作為IEEE標準1149.1-1990邊界可掃描組件的鏈完成的，它們共享相同的串行測試總線。 TBC為其目標生成TMS和TDI信號，從其目標接收TDO信號，并將其測試時鐘輸入（TCKI）緩沖到測試時鐘輸出（TCKO）以分發(fā)到其目標。 TMS，TDI和TDO信號可以直接或通過流水線連接到目標，重定時延遲高達31位。由于TBC可配置為生成多達六個獨立的TMS信號[TMS（5-0）]，因此可用于控制多達六個并行連接的目標掃描路徑（即共享公共TCK，TDI和TDO信號）。

雖然TBC的大多數(shù)操作與TCKI同步，但是為目標接口的輸出控制提供了測試關閉（TOFF \）輸入，并且測試復位（TRST \）輸入用于TBC的硬件/軟件復位。另外，提供四個事件[EVENT（3-0）] I /O用于與目標設備的異步通信。每個事件都有自己的事件生成/檢測邏輯，檢測到的事件可以由兩個16位計數(shù)器計數(shù)。

TBC通過5位地址總線在主機微處理器/微控制器的控制下運行[ADRS（4-0）]和16位讀/寫數(shù)據(jù)總線[DATA（15-0）]。實現(xiàn)讀（RD \）和寫（WR \）選通，使得關鍵主機接口時序獨立于TCKI周期?？梢詫ぶ?4個寄存器中的任何一個用于讀取和/或寫入操作。除控制和狀態(tài)寄存器外，TBC還包含兩個命令寄存器，一個讀緩沖區(qū)和一個寫緩沖區(qū)。 TBC的狀態(tài)通過就緒（RDY \）和中斷（INT \）輸出傳輸?shù)街鳈C。

主機可以發(fā)出主要命令，使TBC生成移動所需的TMS序列目標從任何穩(wěn)定的測試訪問端口（TAP）控制器狀態(tài)到任何其他穩(wěn)定的TAP狀態(tài)，執(zhí)行Run-Test /Idle TAP狀態(tài)的指令，或通過目標掃描指令或測試數(shù)據(jù)（s） ）。可以預設一個32位計數(shù)器，以允許執(zhí)行預定數(shù)量的執(zhí)行或掃描操作。

在選定的TDI輸入（TDI1或TDI0）上出現(xiàn)的串行數(shù)據(jù)被傳輸?shù)阶x緩沖區(qū)，可以是由主機讀取以獲得最多16位的串行數(shù)據(jù)流。從TDO輸出發(fā)送的串行數(shù)據(jù)由主機寫入寫緩沖區(qū)。

SN54ACT8990的特點是在-55°C的整個軍用溫度范圍內工作至125°C。 SN74ACT8990的工作溫度范圍為0°C至70°C。

NC - 無內部連接