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深圳力鈦科技術(shù)有限公司

深圳力鈦科技術(shù)有限公司是一家集研發(fā)生產(chǎn)和銷售為一體的高新技術(shù)企業(yè)。專注于功率半導(dǎo)體測試設(shè)備,推出了靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)等設(shè)備。

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動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

型號: LET-2000D

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 采集帶寬 500 MHz/1 GHz
  • 電壓測量 標(biāo)配2000V
  • 電流測量 標(biāo)配300A,精度±2%
  • 測量項(xiàng)? 開關(guān)參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)
  • 測量器件 單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD

--- 產(chǎn)品詳情 ---

LET-2000D系列是力鈦科公司開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗(yàn)證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)等需要半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導(dǎo)體的測試,LET-2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬和測

試精度,可以有效準(zhǔn)確的測量出實(shí)際的器件參數(shù)。

 

硬件優(yōu)勢>>>

■ 采用LECROY全球最先進(jìn)12bit示波器,測試結(jié)果更準(zhǔn)確

■ 高帶寬的電壓探測,能滿足SIC/GAN的測量要求

■ 可以滿足上/下管同時(shí)測試,避免頻繁連接探頭

■ 電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展

■ 器件驅(qū)動設(shè)計(jì)支持SIC/GAN器件

■ 可根據(jù)客戶需求定制

■ 可以增加器件的溫度特性測試

■ 硬件可以升級自動機(jī)械手

 

軟件特點(diǎn)>>>

■ 測量參數(shù)齊全:開關(guān)參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、短路參數(shù)、雪崩測試

■ 支持器件類型多:單管/模塊,MOSFET、IGBT

■ 離線數(shù)據(jù)分析:既可以在線測量,也可

■ 以記錄數(shù)據(jù)離線分析

■ 測試方式:單脈沖、多脈沖

■ 可靈活設(shè)置測試項(xiàng)目

■ 軟件具有較強(qiáng)的擴(kuò)展能力

■ 測量項(xiàng)目及器件支持?jǐn)U展

 

參數(shù)系統(tǒng)>>>

名稱

說明

采集帶寬

500 M Hz/1 GHz

采樣率

10 Gsa/S

系統(tǒng)電壓

DC—2000V/6000V

電壓輸出精度

±0.2%最?量程

最大電流

300A—3000A

短路電流

2000A—10000A

測量精度

2%量程(典型值)

驅(qū)動電壓范圍

±20V

測量參數(shù)

Vce/Vds、Ic/Id、Vgs/Vge、toff、td(off)、tf(Ic)、Eoff、Ton、 td(on)、tr(Ic)、Eon、dI/dt、dv/dt、Err、Qrr、trr、Irr等

測量項(xiàng)?

開關(guān)參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、短路參數(shù)、雪崩能量測試

測量器件

單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD 

脈寬

20ns-1000us.

脈沖數(shù)

單脈沖、2-5脈沖

測量標(biāo)準(zhǔn)

IEC60747-8、IEC60747-9、JEDEC JEP173

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    產(chǎn)品型號:LET-2000D 采集帶寬:500 MHz/1 GHz 電壓測量 :標(biāo)配2000V 電流測量:標(biāo)配300A,精度±2% 測量項(xiàng)?:開關(guān)參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù) 測量器件:單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD
  • 靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)2025-06-05 09:49

    產(chǎn)品型號:LET-5000 集電極-發(fā)射極 電壓:0--8000V 集電極-發(fā)射極 電流: 0--6000A 柵極-發(fā)射極 電壓:0--300V 柵極-發(fā)射極 電流:0--30A 電容測試頻率范圍:10Hz~1MHz