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以復(fù)用為基礎(chǔ)，通過(guò)測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制（TAM, Test Access Mechanism）實(shí)現(xiàn)對(duì)深嵌在SOC（System On Chip）內(nèi)部的IP 核（Intellectual Property, 知識(shí)產(chǎn)權(quán)模塊）的測(cè)試，是解決SOC 測(cè)試的根本方法。本文將介紹現(xiàn)有的幾類典型的測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制：（1）直接測(cè)試訪問(wèn)，（2）基于總線的測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制，（3）基于透明模型的訪問(wèn)機(jī)制等。分析它們的特點(diǎn)，探討面臨的主要問(wèn)題。
關(guān)鍵詞：SOC IP 核測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制復(fù)用由來(lái)源不同、規(guī)模不同和描述不同的 IP 模塊構(gòu)成的SOC 的測(cè)試面臨著重大挑戰(zhàn)[1]，目前測(cè)試成本已經(jīng)占整個(gè)制造成本的50%。IEEE 于1997 年成立了IEEE P1500 工作組，著手制定與SOC 測(cè)試相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)[2]。該標(biāo)準(zhǔn)定義了測(cè)試復(fù)用的體系結(jié)構(gòu)，強(qiáng)調(diào)在一定TAM 下復(fù)用IP 模塊測(cè)試是解決SoC 測(cè)試問(wèn)題的根本。本文介紹了自SOC 興起以來(lái)的幾種重要和典型的測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制（TAM），分析比較了它們各自的特點(diǎn)，并討論日后有待解決的主要問(wèn)題。
關(guān)鍵詞：SOC IP 核測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制復(fù)用由來(lái)源不同、規(guī)模不同和描述不同的 IP 模塊構(gòu)成的SOC 的測(cè)試面臨著重大挑戰(zhàn)[1]，目前測(cè)試成本已經(jīng)占整個(gè)制造成本的50%。IEEE 于1997 年成立了IEEE P1500 工作組，著手制定與SOC 測(cè)試相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)[2]。該標(biāo)準(zhǔn)定義了測(cè)試復(fù)用的體系結(jié)構(gòu)，強(qiáng)調(diào)在一定TAM 下復(fù)用IP 模塊測(cè)試是解決SoC 測(cè)試問(wèn)題的根本。本文介紹了自SOC 興起以來(lái)的幾種重要和典型的測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制（TAM），分析比較了它們各自的特點(diǎn)，并討論日后有待解決的主要問(wèn)題。
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