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標(biāo)簽 > 擊穿電壓
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局部放電是指電氣設(shè)備的內(nèi)部局部地區(qū)發(fā)生的放電現(xiàn)象,其注意在變壓器的工作中產(chǎn)生,尤其是高壓的變壓器中。
功率MOSFET在電力電子設(shè)備中應(yīng)用十分廣泛,因其故障而引起的電子設(shè)備損壞也比較常見。分析研究功率MOSFET故障的原因、后果,對于MOSFET的進(jìn)一步...
IGBT的終端耐壓結(jié)構(gòu)—平面結(jié)和柱面結(jié)的耐壓差異(2)
下面對電場積分,我們看看隨著增長,即耗盡區(qū)深度的增長,柱面結(jié)與平面結(jié)所承受電壓分布的差異。
IGBT的物理結(jié)構(gòu)模型—PIN&MOS模型(3)
這里需要注意的是,載流子電流為零并不意味著載流子濃度為零,反之亦然。對于PIN1結(jié)構(gòu),因為陽極和陰極的多子濃度遠(yuǎn)大于少子濃度,所以可以忽略少子電流;
芯片的幾個重要測試環(huán)節(jié)-CP、FT、WAT
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成。而測試環(huán)節(jié)主要集中在CP(chip probing)、FT(Final Test)和WAT...
基于碰撞電離率模型的Miller公式S參數(shù)擬合分析
我們應(yīng)用簡單的Fulop模型對平行平面結(jié)進(jìn)行了分析,對復(fù)雜的Chynoweth模型進(jìn)行了化簡,由化簡的公式可得碰撞電離率積分和外加電壓之間存在一定的關(guān)系。
功率半導(dǎo)體器件設(shè)計的基礎(chǔ)是平行平面結(jié),結(jié)的擊穿與體內(nèi)載流子的碰撞電離密切相關(guān),本次研究的重點結(jié)構(gòu)是晶閘管,而晶閘管的阻斷與開啟都與體內(nèi)載流子的運(yùn)動有關(guān)。
PN結(jié)曲率效應(yīng)的產(chǎn)生及其對擊穿電壓的影響
在我們現(xiàn)有的功率半導(dǎo)體器件中,PN結(jié)占據(jù)了極其重要的地位,其正向阻斷能力的優(yōu)劣直接決定著功率半導(dǎo)體器件的可靠性及適用范圍。
2023-11-24 標(biāo)簽:PN結(jié)擊穿電壓功率半導(dǎo)體 2691 0
產(chǎn)品發(fā)射區(qū)結(jié)構(gòu)設(shè)計為梳狀結(jié)構(gòu)。晶體管版圖中發(fā)射區(qū)半寬度選擇為30μm。
2023-07-05 標(biāo)簽:串聯(lián)電阻晶體管擊穿電壓 1069 0
齊納二極管(Zener diode)又叫穩(wěn)壓二極管,也是一種特殊用途二極管,但由于齊納二極管的是如此之重要,內(nèi)容又比較多,所以這里單獨拉出來作為一個小節(jié)講。
2023-02-07 標(biāo)簽:二極管電路穩(wěn)壓二極管 2711 0
有源鉗位吸收器電路設(shè)計與數(shù)字實現(xiàn)方式
隨著MOSFET擊穿電壓額定值的增大,導(dǎo)通電阻也會增大。在這樣場景中如何消除同步整流器上的電壓尖峰和振鈴,另外有源-鉗位方案優(yōu)勢有哪些?
本文開始介紹了擊穿電壓的概念和擊穿電壓的主要因素,其次闡述了擊穿電壓的工作原理以及介紹了影響介電擊穿強(qiáng)度的因素,最后介紹了電壓擊穿儀器使用時的注意事項。
2018-04-03 標(biāo)簽:擊穿電壓 6.3萬 0
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