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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。
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Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部:探索全球頂尖自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)
在自動(dòng)化測(cè)試的廣闊領(lǐng)域中,SPEA憑借飛針測(cè)試儀、功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備、MEMS測(cè)試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動(dòng)力,已然成為支撐汽車(chē)...
2024-12-06 標(biāo)簽:測(cè)試儀自動(dòng)化測(cè)量半導(dǎo)體測(cè)試 735 0
ATA-5620前置微小信號(hào)放大器如何進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體測(cè)試是電子行業(yè)中至關(guān)重要的環(huán)節(jié),它對(duì)于保證產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率起著至關(guān)重要的作用。在半導(dǎo)體測(cè)試過(guò)程中,我們需要采用一系列的方法和原理來(lái)確保芯片的...
2023-10-07 標(biāo)簽:芯片信號(hào)放大器半導(dǎo)體測(cè)試 735 0
高壓放大器在半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)的應(yīng)用
半導(dǎo)體測(cè)試是一項(xiàng)非常重要的工作,它涉及到對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行電氣、物理等方面的測(cè)試,以確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能。測(cè)試過(guò)程中需要使用高精度、高可靠性的測(cè)試設(shè)備和儀器...
2023-07-06 標(biāo)簽:高壓放大器半導(dǎo)體測(cè)試 726 0
半導(dǎo)體測(cè)試 | 新涌現(xiàn)的技術(shù)與物流挑戰(zhàn)
半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展迅猛而廣泛,目前已經(jīng)滲透并影響到我們生活的方方面面。半導(dǎo)體器件已經(jīng)應(yīng)用在我們的汽車(chē)、便攜式電子產(chǎn)品、辦公設(shè)備、醫(yī)療儀器、工業(yè)機(jī)械、通信基...
2022-09-15 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試 636 0
積極應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn) 加速科技助力行業(yè)“芯”升級(jí)
在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的今天,中國(guó)“芯”正迎來(lái)前所未有的發(fā)展機(jī)遇。AI、5G、物聯(lián)網(wǎng)、自動(dòng)駕駛、元宇宙、智慧城市等終端應(yīng)用方興未艾,為測(cè)試行業(yè)帶來(lái)新的...
2024-04-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試加速科技 628 0
Advantest CEO:先進(jìn)芯片測(cè)試需求大增
近日,半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)Advantest愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試集團(tuán)的首席執(zhí)行官Douglas Lefever在接受英國(guó)媒體采訪時(shí),就現(xiàn)代先進(jìn)芯片的測(cè)試需...
2025-01-03 標(biāo)簽:芯片測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試Advantest 518 0
泰克信號(hào)發(fā)生器的半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,半導(dǎo)體測(cè)試變得越來(lái)越復(fù)雜和具有挑戰(zhàn)性。在這種情況下,信號(hào)發(fā)生器作為測(cè)試設(shè)備的一個(gè)組成部分,扮演了越來(lái)越重要的角色。泰克信號(hào)發(fā)生...
2024-10-22 標(biāo)簽:信號(hào)發(fā)生器半導(dǎo)體測(cè)試 493 0
【展會(huì)回顧】NEPCON CHINA 2025 圓滿落幕
近日,NEPCONChina2025在上海世博展覽館圓滿收官。SPEA聚焦電子制造、LED測(cè)試、功率半導(dǎo)體測(cè)試等關(guān)鍵領(lǐng)域的熱門(mén)測(cè)試需求,以頂尖測(cè)試產(chǎn)品和...
2025-04-30 標(biāo)簽:電子制造半導(dǎo)體測(cè)試 326 0
吉時(shí)利2450源表在半導(dǎo)體測(cè)試中2線連接的優(yōu)劣對(duì)比
吉時(shí)利2450源表作為一款高精度、多功能電子測(cè)量?jī)x器,在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其靈活的連接方式,包括2線制和4線制(凱爾文連接),為不同測(cè)試場(chǎng)景...
2025-06-23 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試源表 40 0
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