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標(biāo)簽 > 開關(guān)損耗
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雜散電感對(duì)IGBT開關(guān)過程的影響(1)
IGBT的開關(guān)損耗特性研究對(duì)IGBT變流器設(shè)計(jì)具有重要的意義,在有結(jié)構(gòu)緊湊性要求或可靠性要求較高或散熱條件特殊的場(chǎng)合,都需要嚴(yán)格按器件損耗特性進(jìn)行大余量...
安森美 (onsemi)的1200V 分立器件和模塊中的 M3S 技術(shù)已經(jīng)發(fā)布。M3S MOSFET 的導(dǎo)通電阻和開關(guān)損耗均較低,提供 650 V 和 ...
MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的開關(guān)...
2024-09-14 標(biāo)簽:MOSFET半導(dǎo)體開關(guān)損耗 1619 0
MOSFET的操作可以分為兩種基本模式:線性模式和開關(guān)模式。在線性模式下,晶體管的柵源電壓足以使電流通過通道,但通道電阻相對(duì)較高。通道上的電壓和通過通道...
2024-06-13 標(biāo)簽:MOSFET晶體管開關(guān)損耗 2232 0
電源開關(guān)損耗是電子電路中一個(gè)重要的性能指標(biāo),它反映了開關(guān)器件在開關(guān)過程中產(chǎn)生的能量損失。準(zhǔn)確測(cè)量電源開關(guān)損耗對(duì)于優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、提高系統(tǒng)效率具有重要意義。...
2024-05-27 標(biāo)簽:示波器電源開關(guān)開關(guān)損耗 1816 0
使用Cauer網(wǎng)絡(luò)仿真熱行為與對(duì)開關(guān)損耗影響的評(píng)估
過去,仿真的基礎(chǔ)是行為和具有基本結(jié)構(gòu)的模型,它們主要適用于簡(jiǎn)單集成電路技術(shù)中使用的器件。但是,當(dāng)涉及到功率器件時(shí),這些簡(jiǎn)單的模型通常無法預(yù)測(cè)與為優(yōu)化器件...
Ton和Toff已經(jīng)接近圖二要求的時(shí)間,MOS管24V時(shí)帶載27歐,輸出功率21.3W,輸出電壓正常,MOS管基本不發(fā)熱。 總結(jié)一:MOS管發(fā)熱原因小結(jié)...
2023-12-11 標(biāo)簽:電路設(shè)計(jì)限流電阻開關(guān)損耗 1150 0
問題1:在功率MOSFET管應(yīng)用中,主要考慮哪些參數(shù)?在負(fù)載開關(guān)的功率MOSFET管導(dǎo)通時(shí)間計(jì)算,通常取多少比較好?相應(yīng)的PCB設(shè)計(jì),銅箔面積布設(shè)多大散...
2023-12-03 標(biāo)簽:負(fù)載開關(guān)功率MOSFET管MOSFET管 1544 0
MOSFET 的選擇關(guān)乎效率,設(shè)計(jì)人員需要在其傳導(dǎo)損耗和開關(guān)損耗之間進(jìn)行權(quán)衡。傳導(dǎo)損耗發(fā)生在在 MOSFET 關(guān)閉期間,由于電流流過導(dǎo)通電阻而造成;開關(guān)...
并網(wǎng)逆變器學(xué)習(xí)筆記5---三電平DPWM立即下載
類別:電子資料 2023-03-03 標(biāo)簽:逆變器DPWM開關(guān)損耗 669 0
FGH60N60SMD 60A600V IGBT單管在工業(yè)逆變應(yīng)用中的解決方案立即下載
類別:電子資料 2023-02-24 標(biāo)簽:IGBT單管開關(guān)損耗 445 0
IGBT數(shù)據(jù)手冊(cè)中開關(guān)損耗圖表的理解立即下載
類別:電子資料 2023-02-23 標(biāo)簽:IGBT開關(guān)損耗 481 0
類別:電子資料 2023-02-23 標(biāo)簽:IGBT開關(guān)損耗導(dǎo)通損耗 903 0
類別:電子資料 2023-02-22 標(biāo)簽:IGBT開關(guān)損耗 532 0
類別:實(shí)用工具 2021-10-22 標(biāo)簽:開關(guān)電源電源開關(guān)開關(guān)管 1358 0
類別:電子資料 2021-04-16 標(biāo)簽:MOSFET開關(guān)損耗 1341 1
雙晶體管正激有源鉗位軟開關(guān)電源設(shè)計(jì)解析立即下載
類別:開關(guān)電源 2017-11-16 標(biāo)簽:鉗位雙晶體管開關(guān)損耗 1046 0
無源無損軟開關(guān)雙降壓式全橋逆變器_尹培培立即下載
類別:電源技術(shù) 2016-11-05 標(biāo)簽:軟開關(guān)無源無損開關(guān)損耗 809 0
類別:電源技術(shù) 2016-05-11 標(biāo)簽:開關(guān)損耗同步整流管驅(qū)動(dòng)損耗 1378 0
芯干線GaN/SiC功率器件如何優(yōu)化開關(guān)損耗
在功率器件的世界里,開關(guān)損耗是一個(gè)繞不開的關(guān)鍵話題。
差分探頭在測(cè)量開關(guān)損耗中的應(yīng)用
開關(guān)損耗是電力電子設(shè)備中的一個(gè)重要性能指標(biāo),它直接影響到設(shè)備的效率和熱管理。差分探頭作為一種高精度的測(cè)量工具,在開關(guān)損耗的測(cè)量中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。本文將介...
2024-08-09 標(biāo)簽:差分探頭開關(guān)損耗 567 0
SiC MOSFET的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)——如何平衡性能與可靠性
碳化硅(SiC)的性能潛力是毋庸置疑的,但設(shè)計(jì)者必須掌握一個(gè)關(guān)鍵的挑戰(zhàn):確定哪種設(shè)計(jì)方法能夠在其應(yīng)用中取得最大的成功。
2023-05-04 標(biāo)簽:MOSFETSiC開關(guān)損耗 795 0
利用示波器探頭進(jìn)行開關(guān)損耗測(cè)試
如今的開關(guān)電源技術(shù)很大程度上依托于電源半導(dǎo)體開關(guān)器件,如MOSFET和IGBT。這些器件提供了快速開關(guān)速度,能夠耐受沒有規(guī)律的電壓峰值。同時(shí)在On或Of...
半導(dǎo)體器件并不完美——所有二極管和晶體管都因開關(guān)和導(dǎo)通而產(chǎn)生功率損耗。開關(guān)損耗發(fā)生在結(jié)的通斷狀態(tài)之間的間隔期間,此時(shí)器件端子上既有電壓又有電流流過。傳導(dǎo)...
2022-04-21 標(biāo)簽:電子設(shè)備半導(dǎo)體器件開關(guān)損耗 4043 0
開關(guān)損耗測(cè)量中的注意事項(xiàng)及影響因素解析
功率損耗是開關(guān)器件性能評(píng)估的重要環(huán)節(jié),也是工程師在選配時(shí)重點(diǎn)關(guān)注的一項(xiàng)高級(jí)功能。雖然很多實(shí)驗(yàn)室配備了功率損耗測(cè)量環(huán)境,對(duì)設(shè)備和探頭也投入不菲,但如果工程...
2021-12-15 標(biāo)簽:示波器探頭開關(guān)損耗 925 0
一個(gè)高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達(dá)95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測(cè)量開關(guān)器件的損耗,對(duì)于效率分析是非常關(guān)鍵的。...
2019-06-26 標(biāo)簽:開關(guān)損耗 1004 0
Avnet Design Service電源實(shí)驗(yàn)室開發(fā)出薄板電視SPS電源解決方案。滿負(fù)荷工作條件下,電源模塊輸出總功率達(dá)175 W。解決方案提供多種組...
理解MOSFET開關(guān)損耗和主導(dǎo)參數(shù)
為了使MOSFET整個(gè)開關(guān)周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實(shí)現(xiàn)其在開通過程的ZVS。如同步BUCK電路下側(cè)續(xù)流管,由于其寄生的二極管或...
2012-04-12 標(biāo)簽:MOSFET開關(guān)損耗 6.3萬 1
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