完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>
標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來(lái),能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來(lái)組合而成,又稱(chēng)為復(fù)式顯微鏡
文章:521個(gè) 瀏覽:23866次 帖子:45個(gè)
計(jì)量學(xué)是推動(dòng)當(dāng)前及未來(lái)幾代半導(dǎo)體器件開(kāi)發(fā)與制造的重要基石。隨著技術(shù)節(jié)點(diǎn)不斷縮小至100納米,甚至更小的線(xiàn)寬,以及高深寬比結(jié)構(gòu)的廣泛應(yīng)用,掃描電子顯微鏡(...
掃描透射電子顯微鏡(STEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)是一種融合了透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)部分特點(diǎn)的先進(jìn)顯微技術(shù)。該技術(shù)...
負(fù)剛度隔振平臺(tái)在原子力顯微鏡中的應(yīng)用
原子力顯微鏡(AFM)已成為在納米尺度上對(duì)材料和細(xì)胞進(jìn)行成像與測(cè)量的最重要工具之一。原子力顯微鏡能夠揭示原子級(jí)別的樣品細(xì)節(jié),分辨率可達(dá)幾分之一納米量級(jí),...
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)的應(yīng)用領(lǐng)域
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密...
工具顯微鏡:精密測(cè)量與微觀分析的創(chuàng)新解決方案
工具顯微鏡通過(guò)將微觀世界可視化與數(shù)據(jù)化,幫助企業(yè)實(shí)現(xiàn)質(zhì)量管控前移,減少返工成本;其高效、非接觸的測(cè)量方式,尤其適合精密零部件、微型電子元件等領(lǐng)域的全生命...
2025-04-01 標(biāo)簽:測(cè)量顯微鏡測(cè)量?jī)x器 169 0
透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中,透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用,成為了材料...
透射電子顯微鏡(TEM)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用
鋰電池材料微觀結(jié)構(gòu)研究在新能源技術(shù)迅猛發(fā)展的當(dāng)下,鋰電池材料研究的重要性日益凸顯。深入鉆研鋰電池材料的原子與電子結(jié)構(gòu),為材料設(shè)計(jì)的優(yōu)化與電池性能的提升筑...
氬離子截面技術(shù)與SEM在陶瓷電阻分析中的應(yīng)用
SEM技術(shù)及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強(qiáng)大的微觀分析工具,能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過(guò)SEM測(cè)試,可以清晰地觀察到陶...
掃描電子顯微鏡(SEM)原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后,形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。電子束與樣品表面相互作用,激發(fā)出二次電子、背...
銅引線(xiàn)鍵合由于在價(jià)格、電導(dǎo)率和熱導(dǎo)率等方面的優(yōu)勢(shì)有望取代傳統(tǒng)的金引線(xiàn)鍵合, 然而 Cu/Al 引線(xiàn)鍵合界面的金屬間化合物 (intermetallic ...
氬離子拋光如何應(yīng)用于材料微觀結(jié)構(gòu)分析
微觀結(jié)構(gòu)的分析氬離子束拋光技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表面處理方法,憑借其精確的工藝參數(shù)控制,能夠有效去除樣品表面的損傷層,為高質(zhì)量的成像和分析提供理想的樣品...
在材料科學(xué)的微觀研究領(lǐng)域,電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細(xì)結(jié)構(gòu),為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。掃...
氬離子拋光儀技術(shù)在石油地質(zhì)的應(yīng)用
解鎖石油勘探掃描電子顯微鏡(SEM)作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器,憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測(cè)能力,對(duì)沉積巖中的有機(jī)質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲(chǔ)集巖等...
三角形柵線(xiàn)印刷技術(shù):從遮光到增效,美能3D顯微鏡助力柵線(xiàn)的精密檢測(cè)
正面柵線(xiàn)遮光對(duì)太陽(yáng)電池光學(xué)損失遮光效應(yīng):正面柵線(xiàn)是太陽(yáng)電池表面的金屬電極,用于收集光生電流。然而,這些金屬柵線(xiàn)會(huì)遮擋部分入射光,導(dǎo)致電池的有效光照面積減...
2025-02-17 標(biāo)簽:印刷技術(shù)顯微鏡精密檢測(cè)儀器 575 0
聚焦離子束顯微鏡(FIB):原理揭秘與應(yīng)用實(shí)例
工作原理聚焦離子束顯微鏡的原理是通過(guò)將離子束聚焦到納米尺度,并探測(cè)離子與樣品之間的相互作用來(lái)實(shí)現(xiàn)成像。離子束可以是氬離子、鎵離子等,在加速電壓的作用下,...
掃描電鏡作為一種用于微觀結(jié)構(gòu)分析的重要儀器,在材料科學(xué)、生命科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、電子信息等多個(gè)領(lǐng)域都有重要作用。它具有以下顯著特征:1.高分辨率成像:能夠清...
FIB-SEM 雙束技術(shù)簡(jiǎn)介及其部分應(yīng)用介紹
摘要結(jié)合聚焦離子束(FIB)技術(shù)和掃描電子顯微鏡(SEM)的FIB-SEM雙束系統(tǒng),通過(guò)整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測(cè)器以及可控樣品臺(tái)等附件,已...
制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品
氬離子束拋光技術(shù)(ArgonIonBeamPolishing,AIBP),一種先進(jìn)的材料表面處理工藝,它通過(guò)精確控制的氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行加工,以實(shí)現(xiàn)...
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語(yǔ)言教程專(zhuān)題
電機(jī)控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動(dòng)駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
無(wú)刷電機(jī) | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
直流電機(jī) | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
步進(jìn)電機(jī) | SPWM | 充電樁 | IPM | 機(jī)器視覺(jué) | 無(wú)人機(jī) | 三菱電機(jī) | ST |
伺服電機(jī) | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國(guó)民技術(shù) | Microchip |
Arduino | BeagleBone | 樹(shù)莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |