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標(biāo)簽 > 測(cè)試軟件
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艾德克斯SPS5000軟件在BJT測(cè)試中的應(yīng)用
BJT即雙極性晶體管,俗稱三極管,是一種具有三個(gè)終端的電子器件,由三部分摻雜程度不同的半導(dǎo)體制成,晶體管中的電荷流動(dòng)主要是由于載流子在PN結(jié)處的擴(kuò)散作用...
IC測(cè)試,即集成電路測(cè)試,是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。它主要通過(guò)對(duì)集成電路的性能、功能和可靠性進(jìn)行測(cè)試,以確保集成電路在實(shí)際應(yīng)用中能夠滿足...
前面兩篇文章介紹了邊界掃描的基本原理和BSDL文件,本文文章介紹邊界掃描測(cè)試實(shí)際使用的兩款軟件工具,在后面的實(shí)戰(zhàn)應(yīng)用部分,會(huì)演示基于STM32和FPGA...
基于CP-132UL V2的標(biāo)定測(cè)試軟件實(shí)現(xiàn)完成對(duì)IMU的標(biāo)定工作
針對(duì)IMU的野外測(cè)試環(huán)境限制,需改進(jìn)其測(cè)試方法,則需用新的硬件采集電路實(shí)現(xiàn)。根據(jù)實(shí)際需要,在CP-132ULV2數(shù)據(jù)采集板的基礎(chǔ)上,采用VC6.0設(shè)計(jì)了...
2020-08-13 標(biāo)簽:電阻器測(cè)試軟件信號(hào)發(fā)生器 1364 0
CDS和Probe軟件利用統(tǒng)一測(cè)試終端相比較,通過(guò)CQT和DT分組測(cè)試,CDS測(cè)試指標(biāo)優(yōu)于Probe測(cè)試指標(biāo)。CDS軟件通過(guò)不同終端通過(guò)CQT和DT分組...
2018-02-01 標(biāo)簽:測(cè)試軟件 7403 0
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