關(guān)于9V2.5A、4S倍頻反激式電源選型及調(diào)試

關(guān)于9V2.5A、4S倍頻反激式電源選型及調(diào)試【樣機(jī)芯片介紹】本次調(diào)試的樣機(jī)主控IC為思睿達(dá)主推的成都啟臣微CR6900E，CR6900E是一款高集成、...

2024-12-11 標(biāo)簽：反激式電源測(cè)試思睿達(dá) 878 0

康謀方案 | 多源相機(jī)數(shù)據(jù)采集與算法集成測(cè)試方案

如何滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景下對(duì)圖像采集和算法測(cè)試的多樣化需求？本文為您帶來(lái)多源相機(jī)數(shù)據(jù)采集與算法集成測(cè)試方案，通過(guò)BRICKplus/BRICK2與ADTF的...

2024-12-11 標(biāo)簽：測(cè)試汽車(chē)電子數(shù)據(jù)采集 3373 0

AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)下的混合氣體測(cè)試

在汽車(chē)電子領(lǐng)域，電子組件必須能夠在各種惡劣環(huán)境下保持性能穩(wěn)定，以確保車(chē)輛系統(tǒng)的安全和可靠運(yùn)行。為此，混合氣體試驗(yàn)成為了一種關(guān)鍵的測(cè)試方法，用以評(píng)估這些組...

2024-12-10 標(biāo)簽：測(cè)試汽車(chē)電子氣體檢測(cè) 416 0

UPS電源“十全十測(cè)”之5：同步精度測(cè)試

一、什么是同步精度UPS同步精度指的是不間斷電源（UPS）的輸出頻率與市電頻率之間的同步程度。在正常情況下，UPS的逆變器會(huì)跟蹤市電的頻率，確保輸出頻率...

2024-12-07 標(biāo)簽：測(cè)試示波器UPS電源 625 0

電源紋波是什么_電源紋波多少算正常

電源紋波大的問(wèn)題通常和使用的示波器探頭以及前端的連接方式有關(guān)。 什么是電源紋波？ 電源紋波指標(biāo)是開(kāi)關(guān)電源模塊一項(xiàng)很重要的參數(shù)。電源紋波可以理解為電源模塊...

2024-12-09 標(biāo)簽：測(cè)試示波器電源紋波 1999 0

功率半導(dǎo)體模塊的可靠性評(píng)估：功率循環(huán)測(cè)試研究

功率半導(dǎo)體概述功率半導(dǎo)體是一種特殊的半導(dǎo)體器件，它們?cè)陔娏ο到y(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色。這些器件能夠高效地控制和調(diào)節(jié)電力的流動(dòng)，包括電壓和頻率的轉(zhuǎn)換，以及...

2024-12-06 標(biāo)簽：測(cè)試功率半導(dǎo)體半導(dǎo)體器件 962 0

一文學(xué)會(huì)RK3588核心板存儲(chǔ)性能測(cè)試

前言：在使用RK3588開(kāi)發(fā)板進(jìn)行項(xiàng)目開(kāi)發(fā)時(shí)，掌握各種功能的調(diào)試方法是快速上手并實(shí)現(xiàn)項(xiàng)目需求的關(guān)鍵。本文作為功能調(diào)試系列指南的第二部分，將帶你深入了解幾...

2024-12-06 標(biāo)簽：測(cè)試核心板RK3588 1190 0

不同制造商TOPCon光伏組件的老化測(cè)試：性能、穩(wěn)定性與可靠性

隨著TOPCon技術(shù)市場(chǎng)份額的快速增長(zhǎng)，對(duì)其可靠性評(píng)估需求迫切。盡管早期報(bào)告認(rèn)為T(mén)OPCon比PERC更可靠，但該技術(shù)在光伏組件可靠性方面經(jīng)驗(yàn)不足，仍存...

2024-12-05 標(biāo)簽：測(cè)試檢測(cè)設(shè)備光伏組件 1262 0

WLAN MIMO測(cè)試

CMW500/CMW270在WLAN測(cè)試方面非常強(qiáng)，如：射頻測(cè)試、應(yīng)用層吞吐量測(cè)試等。本文用一臺(tái)CMW做2x2MIMO測(cè)試，儀器設(shè)備的要求至少包含1*B500

2024-12-05 標(biāo)簽：WLAN測(cè)試MIMO 405 0

示波器的觸發(fā)功能（上）

示波器的觸發(fā)功能在正確的信號(hào)點(diǎn)同步水平掃描，這對(duì)清楚地檢定信號(hào)至關(guān)重要。觸發(fā)控制功能可以穩(wěn)定重復(fù)的波形，捕獲單次波形。通過(guò)重復(fù)顯示輸入信號(hào)的同一部分觸發(fā)...

2024-12-05 標(biāo)簽：測(cè)試示波器顯示屏 543 0

LED光源抗硫化實(shí)驗(yàn)

在照明技術(shù)迅速發(fā)展的今天，LED光源憑借其高效率、耐用性和環(huán)境友好性，已成為市場(chǎng)上的主流選擇。盡管如此，LED光源在實(shí)際應(yīng)用中仍面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是硫化...

2024-12-04 標(biāo)簽：led測(cè)試光源 1505 0

什么是RoHS測(cè)試？

RoHS，全稱(chēng)為《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，是一個(gè)旨在限制電子電氣產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)使用的法規(guī)。歐盟于2006年7月1日實(shí)施了RoHS...

2024-12-04 標(biāo)簽：測(cè)試電氣RoHS 1063 0

Wi-Fi 7 4X4 MIMO測(cè)試解決方案

按照下圖搭建測(cè)試環(huán)境，被測(cè)件的四根天線，一根要選第一臺(tái)CMP180上面第一排射頻端口進(jìn)行連接，第二根要選下面第二排射頻端口進(jìn)行連接，依次類(lèi)推，分別接到4...

2024-12-03 標(biāo)簽：測(cè)試射頻MIMO 1049 0

金屬方塊電阻的測(cè)試條件

CMOS 工藝平臺(tái)的金屬方塊電阻的測(cè)試結(jié)構(gòu)包含該平臺(tái)的所有金屬層，例如如果該平臺(tái)使用五層金屬層，那么金屬方塊電阻的測(cè)試結(jié)構(gòu)就有第一層金屬（M1）方塊電阻...

2024-12-03 標(biāo)簽：CMOS電阻測(cè)試 577 0

鍵合絲焊接質(zhì)量控制說(shuō)明

本文重點(diǎn)圍繞焊點(diǎn)機(jī)械性能指標(biāo)的測(cè)試方法和判定標(biāo)準(zhǔn)，介紹了焊點(diǎn)測(cè)試、過(guò)程能力指數(shù)以及焊接不良的分析。 ? 鍵合絲焊接質(zhì)量控制鍵合絲焊接質(zhì)量的控制需綜合考慮...

2024-12-03 標(biāo)簽：測(cè)試焊接焊點(diǎn) 505 0

什么是高低溫濕熱試驗(yàn)（THB）？

濕熱試驗(yàn)概述濕熱試驗(yàn)是環(huán)境工程領(lǐng)域中一種關(guān)鍵的測(cè)試方法，通過(guò)在控制的高溫和高濕環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行暴露，以評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中對(duì)潮濕環(huán)境的適應(yīng)性和耐久性。這...

2024-12-02 標(biāo)簽：測(cè)試恒定濕熱試驗(yàn)濕熱試驗(yàn) 935 0

FIB測(cè)試技術(shù)

聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱(chēng)FIB）技術(shù)是一種精密的微納加工手段，它通過(guò)將離子束聚焦到極高的精度，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的精確蝕刻和加工。FIB技...

2024-12-02 標(biāo)簽：測(cè)試fib離子束 577 0

Poly方塊電阻的測(cè)試條件

CMOS工藝平臺(tái)的Poly 方塊電阻有四種類(lèi)型的電阻，它們分別是n型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、P型金屬硅化物 Poly 方塊電阻、n 型非金屬硅化...

2024-11-29 標(biāo)簽：CMOS電阻測(cè)試 1188 0

PW方塊電阻的測(cè)試條件

圖5-34所示為PW方塊電阻的版圖，圖5-35所示為它的剖面圖。PW方塊電阻是通過(guò)DNW 隔離襯底（P-sub），如果沒(méi)有DNW的隔離，這個(gè)PW 方塊電...

2024-11-29 標(biāo)簽：電阻測(cè)試 533 1

淺談WAT測(cè)試類(lèi)型

雖然 WAT測(cè)試類(lèi)型非常多，不過(guò)業(yè)界對(duì)于 WAT測(cè)試類(lèi)型都有一個(gè)明確的要求，就是包括該工藝技術(shù)平臺(tái)所有的有源器件和無(wú)源器件的典型尺寸。芯片代工廠會(huì)依據(jù)這...

2024-11-27 標(biāo)簽：CMOS測(cè)試工藝 1083 0