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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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季豐嘉善車(chē)規(guī)芯片量產(chǎn)測(cè)試線(xiàn)能力介紹——三溫CP、三溫FT、Burn-in、三溫SLT
芯片測(cè)試是每一顆芯片進(jìn)入市場(chǎng)前的必經(jīng)環(huán)節(jié)。和消費(fèi)類(lèi)芯片不同,汽車(chē)芯片對(duì)安全性、可靠性有著更嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn),自然也對(duì)測(cè)試提出了更高的要求,這不僅關(guān)乎用戶(hù)體驗(yàn),...
2023-03-21 標(biāo)簽:測(cè)試車(chē)規(guī)芯片季豐電子 1.5萬(wàn) 0
存儲(chǔ)中NVME、PCIE和SFF8639三者有什么關(guān)系?
最近做了個(gè)NVME4.0的一致性測(cè)試夾具如下圖,SFF8639接口,PCIE的傳輸模式,現(xiàn)在捋一捋這三位啥關(guān)系。 先說(shuō)接觸最廣的PCIE,這個(gè)不難理解,...
什么是芯片?芯片是導(dǎo)體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱(chēng),是集成電路的一個(gè)載體。芯片作為半導(dǎo)體領(lǐng)域的核心科技產(chǎn)物,在多個(gè)領(lǐng)域有著至關(guān)重要的位置。那么芯片是如何制造出來(lái)的呢?...
常見(jiàn)的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
引 言 大家可能常常會(huì)遇到這種情況,產(chǎn)品完成了功能開(kāi)發(fā)、功能驗(yàn)證,但換個(gè)環(huán)境就不能工作了。還有的產(chǎn)品在實(shí)驗(yàn)室可以正常工作,到了客戶(hù)的環(huán)境,可能會(huì)遇到按鍵...
RF 是射頻的縮寫(xiě)。RF是與無(wú)線(xiàn)電波傳播相關(guān)的電磁頻譜內(nèi)的任何頻率。當(dāng)向天線(xiàn)提供射頻電流時(shí),會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),然后該電磁場(chǎng)能夠在空間中傳播或傳播。許多無(wú)...
軟件測(cè)試方法一般分為兩種:白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試。其中,白盒測(cè)試又稱(chēng)為結(jié)構(gòu)測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于程序本身的測(cè)試,著重于程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及算法,通常不關(guān)心功能...
2013-01-14 標(biāo)簽:測(cè)試自動(dòng)測(cè)試黑盒測(cè)試 1.5萬(wàn) 0
而在接收端方面,DP1.4則設(shè)計(jì)了DFE以及10種不同的CTLE來(lái)對(duì)高速訊號(hào)做運(yùn)算還原,CTLE為一種針對(duì)不同頻率的轉(zhuǎn)移函數(shù),此轉(zhuǎn)移函數(shù)會(huì)將訊號(hào)的高頻成...
越來(lái)越多的可穿戴設(shè)備涌入生活中, 人們開(kāi)始追求一種便攜式的生活方式, 便攜式設(shè)備被要求在化繁為簡(jiǎn)的同時(shí)提供豐富的功能滿(mǎn)足生活、工作、學(xué)習(xí)的需求,因此在設(shè)...
示波器以太網(wǎng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試項(xiàng)目與測(cè)試描述
SMA 轉(zhuǎn) BNC 線(xiàn) 1 條連接 ZTF100B 的 TX-P 和示波器的通道 2,另 1 條連接 TX-N 和通道 3,這是默認(rèn)的接線(xiàn)方式。
EDA技術(shù)進(jìn)行系統(tǒng)的設(shè)計(jì)的幾個(gè)特點(diǎn)
EDA技術(shù)進(jìn)行系統(tǒng)的設(shè)計(jì),具有以下幾個(gè)特點(diǎn): 1. 軟件硬化,硬件軟化 軟件硬化是指所有的軟件設(shè)計(jì)最后轉(zhuǎn)化成硬件來(lái)實(shí)現(xiàn),用軟件方式設(shè)計(jì)的系統(tǒng)到硬件系統(tǒng)的...
1、測(cè)觸點(diǎn)電阻 用萬(wàn)用表的電阻棒測(cè)量常閉觸點(diǎn)的電阻和移動(dòng)點(diǎn)的電阻,(臺(tái)灣松川繼電器)常開(kāi)觸點(diǎn)的電阻和移動(dòng)點(diǎn)的電阻為無(wú)窮大。 由此可以區(qū)分哪個(gè)是常閉觸點(diǎn)和...
光纜單盤(pán)測(cè)試步驟的詳細(xì)說(shuō)明
光纜單盤(pán)檢驗(yàn)是光纜線(xiàn)路工程施工中很重要的一個(gè)環(huán)節(jié),檢驗(yàn)光纜的各項(xiàng)指標(biāo)是否符合設(shè)計(jì)要求;確定光纜長(zhǎng)度,下面科蘭通訊小編為大家介紹一下超實(shí)用的光纜單盤(pán)測(cè)試步驟。
DisplayPort? 2.0 (簡(jiǎn)稱(chēng) DP 2.0),在 2019 年6月VESA正式釋出了DP 2.0的規(guī)范,其中導(dǎo)入了與以往DP 1.4不同的物...
介紹兩種目前市場(chǎng)上流行的氣密性測(cè)試方法
以前比較傳統(tǒng)的用泡水法來(lái)檢測(cè)氣密性已經(jīng)被智能氣密性測(cè)試儀取代了,智能氣密性測(cè)試儀目前已經(jīng)成為了氣密性測(cè)試市場(chǎng)上的主流測(cè)試方式。
2022-09-06 標(biāo)簽:測(cè)試 1.2萬(wàn) 0
iPhone 12的續(xù)航和充電測(cè)試,最終的續(xù)航略差于iPhone 11
綜合續(xù)航測(cè)試模型:屏幕亮度手動(dòng)控制在200nit(中心全屏白底),插一張聯(lián)通4G卡,連接WiFi網(wǎng)絡(luò),先打一個(gè)小時(shí)王者榮耀(分辨率調(diào)至高,其余選項(xiàng)均打開(kāi)...
線(xiàn)束世界|一文搞懂HSD與FAKRA性能測(cè)試要求
1前言本文寫(xiě)了音視頻傳輸連接器FAKRA和HSD的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法,編寫(xiě)的初衷是方便主機(jī)廠(chǎng)對(duì)HSD和FAKRA產(chǎn)品的應(yīng)用、選型、還有性能驗(yàn)證提供一些參...
科技日新月異,最新推出的Thunderbolt? 4 筆記本電腦全面支持Modern Standby,但你真的了解什么是Modern Standby嗎?...
2021-04-30 標(biāo)簽:測(cè)試計(jì)算機(jī)電腦 1.1萬(wàn) 0
電驅(qū)失效類(lèi)型和風(fēng)險(xiǎn)分析,如何從測(cè)試端提升電驅(qū)可靠性?
電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道(文/吳子鵬)近日,北理工電動(dòng)車(chē)輛國(guó)家工程研究中心主任王志福在演講中表示,“我們現(xiàn)在越來(lái)越多地關(guān)注電驅(qū)系統(tǒng)的故障問(wèn)題,比如短路、斷路、失...
2024-06-24 標(biāo)簽:測(cè)試失效分析電驅(qū)動(dòng) 1.1萬(wàn) 0
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