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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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漏測(cè)Bug是指產(chǎn)品邏輯缺陷在測(cè)試過(guò)程中沒(méi)有被發(fā)現(xiàn)(尤其是測(cè)試環(huán)境可以重現(xiàn)的缺陷),上線版本發(fā)布后或者在用戶使用體驗(yàn)后發(fā)現(xiàn)并反饋回來(lái)的缺陷??赡茉斐删€上故...
鎳鈦合金絲拉伸測(cè)試步驟詳解:如何利用拉力試驗(yàn)機(jī)測(cè)量其性能?
在當(dāng)今充滿科技奇跡的世界,材料科學(xué)不斷突破創(chuàng)新,為各個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)步提供了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。其中,鎳鈦合金絲作為一種備受關(guān)注的材料,以其獨(dú)特的特性引起了廣泛的贊...
2023-08-02 標(biāo)簽:測(cè)試拉力試驗(yàn)機(jī) 1413 0
RZ/G2L核心板-不同規(guī)格品牌TF卡讀寫測(cè)試
通過(guò)進(jìn)行TF卡讀寫測(cè)試,開(kāi)發(fā)人員可以找到可能存在的性能和穩(wěn)定性問(wèn)題,并對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行優(yōu)化,以最大限度地提高讀寫速度和可靠性。此外,比較不同品牌和規(guī)格的TF卡...
測(cè)試產(chǎn)品:電源適配器浪涌測(cè)試?yán)酌畬?shí)驗(yàn)室溫濕度:26度,61%測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):需通過(guò)IEC61000-4-5,測(cè)試電涌≥600V;測(cè)試目的:測(cè)試電源適配器加上雷...
半導(dǎo)體集成電路引線疲勞測(cè)試作用與方法介紹!廠家技術(shù)解答
半導(dǎo)體集成電路測(cè)試技術(shù)伴隨著集成電路的飛速發(fā)展而發(fā)展,對(duì)促進(jìn)集成電路的進(jìn)步和廣泛應(yīng)用作出了巨大的貢獻(xiàn)。在集成電路研制、生產(chǎn)、應(yīng)用等各個(gè)階段都要進(jìn)行反復(fù)多...
航天器上的 EMC 測(cè)試與地面設(shè)備測(cè)試沒(méi)有什么不同,只是航天器生活在不同的電磁環(huán)境中。 ? 在地球上,每件電子設(shè)備都必須與其電磁環(huán)境抗衡。 諸如附近設(shè)備...
武漢凱迪正大蓄電池修復(fù)儀電池充放電一體機(jī)介紹
凱迪正大蓄電池單體活化儀產(chǎn)品概述 凱迪正大蓄電池活化儀是針對(duì)電池電壓為2V、6V或12V,因極板硫化結(jié)晶造成容量落后的閥控式鉛酸蓄電池(以下簡(jiǎn)稱蓄電池)...
安捷倫科技公司(NYSE:A)日前宣布面向移動(dòng)計(jì)算客戶推出全面的 MIPI M-PHY 測(cè)試解決方案。Infiniium 90000 X 系列示波器提供...
迅為電子RK3588S開(kāi)發(fā)板第三章Buildroot系統(tǒng)功能測(cè)試
迅為電子RK3588S開(kāi)發(fā)板第三章Buildroot系統(tǒng)功能測(cè)試
2024-09-02 標(biāo)簽:測(cè)試開(kāi)發(fā)板rk3588s 1407 0
AEC-Q101的認(rèn)證對(duì)象和測(cè)試項(xiàng)目
USAEC-Q101認(rèn)證的概念A(yù)EC-Q101:車用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證。半導(dǎo)體分立器件被廣泛應(yīng)用到消費(fèi)電子、計(jì)算機(jī)及外設(shè)、網(wǎng)絡(luò)...
光模塊是進(jìn)行光電和電光轉(zhuǎn)換的光電子器件,準(zhǔn)確來(lái)說(shuō),光模塊是多種模塊類別的統(tǒng)稱,具體包括:光接收模塊,光發(fā)送模塊,光收發(fā)一體模塊和光轉(zhuǎn)發(fā)模塊等?,F(xiàn)今我們通...
干擾對(duì)CDMA手機(jī)接收器測(cè)試的影響
本文介紹CDMA手機(jī)接收器在測(cè)試時(shí)遇到的干擾特性,并加以詳細(xì)分析,提出參考解決方案。
羅德與施瓦茨聯(lián)合中關(guān)村泛聯(lián)院構(gòu)建通信感知一體化測(cè)試解決方案
中關(guān)村泛聯(lián)移動(dòng)通信技術(shù)創(chuàng)新應(yīng)用研究院(以下簡(jiǎn)稱“中關(guān)村泛聯(lián)院”)自2021年成立以來(lái)圍繞信息通信領(lǐng)域前沿技術(shù)及其應(yīng)用,推動(dòng)基礎(chǔ)理論和關(guān)鍵技術(shù)攻關(guān)、產(chǎn)業(yè)路...
基于STM32采用CS創(chuàng)世 SD NAND(貼片SD卡)完成FATFS文件系統(tǒng)移植與測(cè)試
一、前言在STM32項(xiàng)目開(kāi)發(fā)中,經(jīng)常會(huì)用到存儲(chǔ)芯片存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。比如:關(guān)機(jī)時(shí)保存機(jī)器運(yùn)行過(guò)程中的狀態(tài)數(shù)據(jù),上電再?gòu)拇鎯?chǔ)芯片里讀取數(shù)據(jù)恢復(fù);在存儲(chǔ)芯片里也會(huì)存...
為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能,高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的重要一環(huán),電源模塊高低溫...
顯微紅外熱像系統(tǒng)在PCB器件檢測(cè)的應(yīng)用
任何具有一定電阻的電子元件在通過(guò)一定電流時(shí)都會(huì)消耗能量,導(dǎo)致元件溫度上升,相當(dāng)一部分熱量會(huì)轉(zhuǎn)化為紅外輻射并消散。當(dāng)電路板通過(guò)插件板初始輸入端加上電源或施...
虹科分享 | 如何進(jìn)行Mapping溫度分布驗(yàn)證?概念、原理與方法(二)
點(diǎn)擊藍(lán)字關(guān)注我們→前文回顧虹科分享|如何進(jìn)行Mapping溫度分布驗(yàn)證?概念、原理與方法(一)在上一篇文章中我們對(duì)Mapping溫度分布驗(yàn)證的概念與原理...
2022-07-19 標(biāo)簽:測(cè)試 1400 0
飛針測(cè)試是目前電氣測(cè)試一些主要問(wèn)題的最佳解決辦法。它用探針來(lái)取代針床,使用多個(gè)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測(cè)量。P...
IXIA發(fā)布虛擬化數(shù)據(jù)中心IxLoad-VM測(cè)試解決方案
Ixia將發(fā)布 IxLoad-VM,這是一種獨(dú)一無(wú)二的測(cè)試虛擬化數(shù)據(jù)中心及其基礎(chǔ)架構(gòu)的解決方案。IxLoad-VM 評(píng)估云數(shù)據(jù)中心組件、應(yīng)用程序以及網(wǎng)絡(luò)...
2011-09-01 標(biāo)簽:測(cè)試數(shù)據(jù)中心IXIA 1400 0
光纖系統(tǒng)通常指光纖通信系統(tǒng)。光纖通信系統(tǒng)是以光為載體,以高純凈度玻璃制作而成的極細(xì)光纖為傳輸介質(zhì)的通信系統(tǒng),并利用光通過(guò)光電轉(zhuǎn)換傳輸信息 MTI Ins...
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