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標(biāo)簽 > 測(cè)試

測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試資訊

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冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時(shí)間...

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高低溫試驗(yàn)測(cè)試流程

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會(huì)議邀請(qǐng)|2023柔性電子技術(shù)與應(yīng)用創(chuàng)新論壇!

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展會(huì)邀請(qǐng)|Aigtek安泰電子誠(chéng)邀您蒞臨第5屆中國(guó)國(guó)際計(jì)量測(cè)試技術(shù)與設(shè)備博覽會(huì)

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2023年5月17日-19日,第5屆中國(guó)國(guó)際計(jì)量測(cè)試技術(shù)與設(shè)備博覽會(huì)將于上海世博展覽館舉辦,屆時(shí)Aigtek安泰電子將攜一眾明星產(chǎn)品及專業(yè)測(cè)試解決方案亮...

2023-05-09 標(biāo)簽:測(cè)試計(jì)量 750 0

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2023-05-08 標(biāo)簽:測(cè)試以太網(wǎng) 1681 0

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在TPT 19中,首次有了最壞情況執(zhí)行時(shí)間的早期預(yù)警系統(tǒng)——這已經(jīng)在本地主機(jī)上用于測(cè)試執(zhí)行。 ? 基本原則:對(duì)每個(gè)測(cè)試步驟的執(zhí)行時(shí)間進(jìn)行測(cè)量。這使您可以...

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2023-04-25 標(biāo)簽:測(cè)試嵌入式 555 0

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《進(jìn)網(wǎng)檢驗(yàn)要求文件》實(shí)行定期及動(dòng)態(tài)更新原則,其中檢測(cè)項(xiàng)目應(yīng)能體現(xiàn)進(jìn)網(wǎng)監(jiān)管的職責(zé)定位。第一部分基本功能性能第二部分空間性能SAR新版進(jìn)網(wǎng)檢驗(yàn)要求細(xì)化了各場(chǎng)...

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2023-04-25 標(biāo)簽:電源測(cè)試 1161 0

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    特性阻抗又稱特征阻抗,它不是直流電阻,屬于長(zhǎng)線傳輸中的概念。特性阻抗是射頻傳輸線影響無(wú)線電波電壓、電流的幅值和相位變化的固有特性,等于各處的電壓與電流的比值,用V/I表示。在射頻電路中,電阻、電容、電感都會(huì)阻礙交變電流的流動(dòng),合稱阻抗。電阻是吸收電磁能量的,理想電容和電感不消耗電磁能量。
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    貼片磁珠
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    導(dǎo)熱硅脂
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5G m2m DSP MCU ASIC CPU ROM DRAM
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Type-C USB 以太網(wǎng) 仿真器 RISC RAM 寄存器 GPU
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