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標(biāo)簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。
干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。
光的干涉是指從目標(biāo)對(duì)象表面到某點(diǎn)的光距(光路)產(chǎn)生偏差時(shí),所發(fā)生的現(xiàn)象。利用這種現(xiàn)象測(cè)量目標(biāo)對(duì)象表面凹凸的就是光學(xué)干涉儀。右圖是干涉應(yīng)變計(jì)的結(jié)構(gòu)圖。從光源(半導(dǎo)體激光等)發(fā)出的光有一些透過(guò)分光鏡到達(dá)參考面上,其余被反射到樣本表面。透過(guò)的光經(jīng)參考面反射通過(guò)光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經(jīng)目標(biāo)對(duì)象表面反射透過(guò)分光鏡,同樣通過(guò)光接收元件即CCD元件成像。
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀和薄膜厚度測(cè)量?jī)x:如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”
ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測(cè)亞納米級(jí)檢測(cè)ITO薄膜黃金參數(shù),幫助廠(chǎng)家優(yōu)化產(chǎn)品性能,實(shí)現(xiàn)降本增效。
表面形貌分析中,波紋度和粗糙度是兩種關(guān)鍵特征。通過(guò)濾波技術(shù)設(shè)置截止波長(zhǎng),可將兩者分離。分離后,通過(guò)計(jì)算參數(shù)或FFT驗(yàn)證效果。這種分析有助于優(yōu)化加工工藝、...
除了邁克爾遜干涉和Linnik型干涉外,常見(jiàn)的干涉設(shè)計(jì)還有哪些?
除了邁克爾遜干涉和Linnik型干涉外,常見(jiàn)的干涉設(shè)計(jì)還有多種,以下是一些主要的類(lèi)型: 馬赫-增德?tīng)枺∕ach-Zehnder)干涉: 原理:通過(guò)分束器...
繼經(jīng)典邁克爾遜干涉后的零差式激光干涉技術(shù)的出現(xiàn)
零差式激光干涉技術(shù)是在經(jīng)典邁克爾遜干涉原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種高精度測(cè)量技術(shù)。以下是對(duì)這一技術(shù)的詳細(xì)介紹: 一、經(jīng)典邁克爾遜干涉原理 邁克爾遜干涉儀是...
外差式激光干涉和零差式激光干涉是兩種不同的激光干涉測(cè)量技術(shù),它們?cè)诠ぷ髟?、特點(diǎn)和應(yīng)用方面存在顯著的差異。以下是對(duì)這兩種技術(shù)的詳細(xì)比較: 一、工作原理 ...
白光干涉儀的膜厚測(cè)量模式原理主要基于光的干涉原理,通過(guò)測(cè)量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來(lái)精確計(jì)算薄膜的厚度。以下是該原理的詳細(xì)解釋?zhuān)?一、基本原理 ...
白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對(duì)該原理的詳細(xì)解釋?zhuān)?一、基本原理 白光干涉儀利用干涉原理測(cè)量光程之差,從而測(cè)定有關(guān)物理量...
白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,它利用白光干涉原理來(lái)測(cè)量物體表面的形貌和高度等信息。在白光干涉儀中,垂直掃描干涉測(cè)量模式(VSI)、相移干涉測(cè)量模...
邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理
邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理是光學(xué)研究中的重要內(nèi)容。以下是對(duì)這些方面的詳細(xì)解釋?zhuān)?一、邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn) 邁克耳孫...
白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用立即下載
類(lèi)別:電子資料 2024-12-16 標(biāo)簽:光學(xué)原理光學(xué)測(cè)量白光干涉儀
類(lèi)別:電子資料 2024-03-06 標(biāo)簽:涂層厚度測(cè)量精密測(cè)量影像測(cè)量?jī)x
類(lèi)別:電子資料 2023-03-01 標(biāo)簽:光學(xué)檢測(cè)白光干涉儀
類(lèi)別:電子資料 2023-02-03 標(biāo)簽:三維形貌光學(xué)測(cè)量白光干涉儀
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力提升光模塊信息質(zhì)量
光通信模塊的頭部企業(yè),在制造過(guò)程中,會(huì)對(duì)產(chǎn)品做哪些維度的質(zhì)量把控與數(shù)據(jù)檢測(cè)。
納米級(jí)形貌快速測(cè)量,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展
研究摩擦學(xué),能帶來(lái)什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
探索高精度測(cè)量世界,優(yōu)可測(cè)誠(chéng)邀您共赴四月行業(yè)盛會(huì)
四月芳菲,萬(wàn)物競(jìng)發(fā)。優(yōu)可測(cè)將亮相多場(chǎng)行業(yè)盛會(huì),誠(chéng)邀您蒞臨指導(dǎo),共探精密制造的無(wú)限可能。
2025-03-27 標(biāo)簽:白光干涉儀優(yōu)可測(cè)閃測(cè)儀 211 0
一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平,測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦白光干涉儀發(fā)布
測(cè)量精度小于1納米,性能進(jìn)入全球一梯隊(duì),優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布
重磅新品發(fā)布,優(yōu)可測(cè)與您相約慕尼黑上海光博會(huì) | 三月展會(huì)預(yù)告
欲知優(yōu)可測(cè)旗艦產(chǎn)品白光干涉儀新技術(shù),盡在慕尼黑上海光博會(huì)優(yōu)可測(cè)展位E7.7550!
2025-02-28 標(biāo)簽:顯微鏡白光干涉儀優(yōu)可測(cè) 210 0
入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布
近年來(lái),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測(cè)、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高...
氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)縮短至秒級(jí)!
傳統(tǒng)AFM檢測(cè)氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)方案僅需3秒,百倍提升檢測(cè)效率!
白光干涉中,通過(guò)樣品臺(tái)的移動(dòng),實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移技術(shù)
一、基本原理 在白光干涉儀中,光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束準(zhǔn)直后,通過(guò)分光棱鏡被分成兩束相干光:一束作為參考光,經(jīng)過(guò)固定的光路到達(dá)干涉儀的接收屏;另一束作為待測(cè)...
白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用
白光干涉儀利用干涉原理測(cè)光程差,測(cè)物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車(chē)零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測(cè)量安全。
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用
手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿(mǎn)足消費(fèi)者需求。其中,影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計(jì)、粗糙度等。...
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