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標(biāo)簽 > 白光干涉儀

白光干涉儀

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干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。

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白光干涉儀簡(jiǎn)介

  干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。

  光的干涉是指從目標(biāo)對(duì)象表面到某點(diǎn)的光距(光路)產(chǎn)生偏差時(shí),所發(fā)生的現(xiàn)象。利用這種現(xiàn)象測(cè)量目標(biāo)對(duì)象表面凹凸的就是光學(xué)干涉儀。右圖是干涉應(yīng)變計(jì)的結(jié)構(gòu)圖。從光源(半導(dǎo)體激光等)發(fā)出的光有一些透過(guò)分光鏡到達(dá)參考面上,其余被反射到樣本表面。透過(guò)的光經(jīng)參考面反射通過(guò)光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經(jīng)目標(biāo)對(duì)象表面反射透過(guò)分光鏡,同樣通過(guò)光接收元件即CCD元件成像。

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白光干涉儀知識(shí)

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白光干涉儀技術(shù)

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2025-02-11 標(biāo)簽:測(cè)量激光干涉儀白光干涉儀 309 0

外差式激光干涉和零差式激光干涉的區(qū)別

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外差式激光干涉和零差式激光干涉是兩種不同的激光干涉測(cè)量技術(shù),它們?cè)诠ぷ髟?、特點(diǎn)和應(yīng)用方面存在顯著的差異。以下是對(duì)這兩種技術(shù)的詳細(xì)比較: 一、工作原理 ...

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白光干涉儀資訊

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光通信模塊的頭部企業(yè),在制造過(guò)程中,會(huì)對(duì)產(chǎn)品做哪些維度的質(zhì)量把控與數(shù)據(jù)檢測(cè)。

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探索高精度測(cè)量世界,優(yōu)可測(cè)誠(chéng)邀您共赴四月行業(yè)盛會(huì)

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四月芳菲,萬(wàn)物競(jìng)發(fā)。優(yōu)可測(cè)將亮相多場(chǎng)行業(yè)盛會(huì),誠(chéng)邀您蒞臨指導(dǎo),共探精密制造的無(wú)限可能。

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測(cè)量精度小于1納米,性能進(jìn)入全球一梯隊(duì),優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布

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欲知優(yōu)可測(cè)旗艦產(chǎn)品白光干涉儀新技術(shù),盡在慕尼黑上海光博會(huì)優(yōu)可測(cè)展位E7.7550!

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入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布

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近年來(lái),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測(cè)、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高...

2025-02-24 標(biāo)簽:測(cè)量表面粗糙度白光干涉儀 406 0

氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)縮短至秒級(jí)!

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傳統(tǒng)AFM檢測(cè)氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)方案僅需3秒,百倍提升檢測(cè)效率!

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白光干涉中,通過(guò)樣品臺(tái)的移動(dòng),實(shí)現(xiàn)機(jī)械相移技術(shù)

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一、基本原理 在白光干涉儀中,光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束準(zhǔn)直后,通過(guò)分光棱鏡被分成兩束相干光:一束作為參考光,經(jīng)過(guò)固定的光路到達(dá)干涉儀的接收屏;另一束作為待測(cè)...

2025-01-06 標(biāo)簽:3D機(jī)械白光 280 0

白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用

白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用

白光干涉儀利用干涉原理測(cè)光程差,測(cè)物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車(chē)零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測(cè)量安全。

2024-12-13 標(biāo)簽:測(cè)量儀器白光干涉儀 948 0

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用

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2024-11-19 標(biāo)簽:干涉儀表面粗糙度白光干涉儀 514 0

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白光干涉儀數(shù)據(jù)手冊(cè)

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