美國進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例

上海伯東美國 KRi 大尺寸考夫曼離子源 KDC 160 適用于 2-4英寸的硅片刻蝕和清潔應(yīng)用, KRi KDC 160 是直流柵網(wǎng)離子源, 高輸出離...

2024-09-13 標(biāo)簽：電流硅片離子束 678 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)：芯片調(diào)試的利器

FIB技術(shù)在芯片調(diào)試中的關(guān)鍵應(yīng)用1.電路修改與修復(fù)在芯片設(shè)計(jì)和制造過程中，由于種種原因可能會(huì)出現(xiàn)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或制造缺陷。FIB技術(shù)能夠?qū)π酒娐愤M(jìn)行精細(xì)的修...

2025-02-17 標(biāo)簽：芯片fib離子束 636 0

聚焦離子束技術(shù)的歷史發(fā)展

聚焦離子束（FIB）技術(shù)的演變與應(yīng)用聚焦離子束（FIB）技術(shù)已經(jīng)成為現(xiàn)代科技領(lǐng)域中不可或缺的一部分，尤其是在半導(dǎo)體制造和微納加工領(lǐng)域。盡管FIB技術(shù)已經(jīng)...

2024-12-05 標(biāo)簽：fib離子束 634 0

氬離子束拋光：EBSD樣品制備的高效策略

EBSD技術(shù)的重要性電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是材料科學(xué)中用于揭示材料微觀結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工具。它詳細(xì)描述了材料在凝固、塑性變形、相變以及斷裂等物理過程中...

2024-11-08 標(biāo)簽：fib測試設(shè)備離子束 614 0

聚焦離子束雙束系統(tǒng)在微機(jī)電系統(tǒng)失效分析中的應(yīng)用

聚焦離子束（FIB）技術(shù)概述聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種通過離子源產(chǎn)生的離子束，經(jīng)過過濾和靜電磁場聚焦，形成直徑為納米級(jí)的高能離子束。這種技術(shù)用于對(duì)樣...

2025-01-24 標(biāo)簽：SEM微機(jī)電fib 601 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)在芯片逆向工程中的應(yīng)用

聚焦離子束（FIB）技術(shù)概覽聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）技術(shù)在微觀尺度的研究和應(yīng)用中扮演著重要角色。這種技術(shù)以其超高精度和操作靈活...

2025-01-17 標(biāo)簽：芯片pcb離子束 572 0

什么是聚焦離子束（FIB）？

什么是聚焦離子束？聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段，近年來在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了...

2025-02-13 標(biāo)簽：fib電子顯微鏡離子束 565 0

雙束聚焦離子束-掃描電鏡（FIB）：TEM樣品制備

雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進(jìn)的微觀加工與分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研...

2025-02-28 標(biāo)簽：fib離子束掃描電鏡 564 0

EBSD樣品制備技術(shù)的對(duì)比分析

電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)因其能夠揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)特征而變得不可或缺。這項(xiàng)技術(shù)依賴于對(duì)樣品表面的精確分析，因此，制備符合要求的EBSD樣品是實(shí)現(xiàn)有...

2024-12-05 標(biāo)簽：顯微鏡離子束EBSD 553 0

FIB聚焦離子束切片分析

FIB（聚焦離子束）切片分析作為一種前沿的材料表征技術(shù)，憑借其高精度和多維度的分析能力，在材料科學(xué)、電子器件研究以及納米技術(shù)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它...

2025-02-21 標(biāo)簽：fib離子束切片 541 0

聚焦離子束技術(shù)：原理、特性與應(yīng)用

聚焦離子束（Focused-Ion-Beam,FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工與分析手段。其基本原理是通過電場和磁場的作用，將離子束聚焦到亞微米甚至納米...

2025-03-27 標(biāo)簽：fib離子束 495 0

聚焦離子束技術(shù)中液態(tài)鎵作為離子源的優(yōu)勢

聚焦離子束（FIB）在芯片制造中的應(yīng)用聚焦離子束（FIB）技術(shù)在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它不僅能夠進(jìn)行精細(xì)的結(jié)構(gòu)切割和線路修改，還能用于...

2025-01-10 標(biāo)簽：芯片制造fib離子源 476 0

聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）的用途

離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM...

2025-03-12 標(biāo)簽：fib電子顯微鏡離子束 475 0

聚焦離子束與掃描電鏡結(jié)合：雙束FIB-SEM切片應(yīng)用

聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段，近年來在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子...

2025-02-24 標(biāo)簽：SEM離子束掃描電鏡 470 0

鋰電池電極的掃描電鏡表征與離子束截面技術(shù)

隨著全球?qū)Νh(huán)境可持續(xù)性的關(guān)注日益增加，尋找清潔能源解決方案變得尤為迫切。在這一背景下，鋰離子電池以其卓越的環(huán)保特性和高效能量轉(zhuǎn)換能力，成為了新能源技術(shù)，...

2025-01-02 標(biāo)簽：鋰電池XRD離子束 460 0

FIB常見應(yīng)用明細(xì)及原理分析

統(tǒng)及原理雙束聚焦離子束系統(tǒng)可簡單地理解為是單束聚焦離子束和普通SEM之間的耦合。單束聚焦離子束系統(tǒng)包括離子源，離子光學(xué)柱，束描畫系統(tǒng)，信號(hào)采集系統(tǒng)，樣品...

2025-01-28 標(biāo)簽：SEMfib離子束 459 0

聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）

聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù)，憑借其強(qiáng)大的功能和多面性，在材料科學(xué)研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入...

2025-03-19 標(biāo)簽：fib離子束掃描電鏡 456 0

聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用技術(shù)

技術(shù)概述聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種融合高分辨率成像與微納加工能力的前沿設(shè)備，主要由掃描電鏡（SEM）、聚焦離子束（FIB）和氣...

2025-02-25 標(biāo)簽：fib離子束掃描電鏡 451 0

氬離子拋光技術(shù)之高精度材料表面處理

氬離子拋光技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表面處理方法，該技術(shù)的核心原理是利用氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精細(xì)拋光，通過精確控制離子束的能量、角度和作用時(shí)間，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品...

2025-03-10 標(biāo)簽：表面處理離子束拋光 450 0

FIB測試技術(shù)：從原理到應(yīng)用

FIB技術(shù)的核心價(jià)值聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種在微納尺度上實(shí)現(xiàn)材料精確加工的先進(jìn)技術(shù)。它通過將離子束聚焦到極高的精度，能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行納米級(jí)的蝕刻和加...

2025-03-18 標(biāo)簽：測試fib離子束 443 0