一文了解材料耐候老化測試

高分子材料老化現(xiàn)象高分子材料在其整個生命周期，包括合成、貯存、加工以及最終應(yīng)用階段，都面臨著變質(zhì)的風(fēng)險，這種變質(zhì)表現(xiàn)為材料性能的惡化。具體而言，可能出現(xiàn)...

2025-03-27 標(biāo)簽：材料老化測試 156 0

工廠老化測試解決方案：GCOM80-2NET-E如何賦能智能制造

老化測試是產(chǎn)品質(zhì)量把控的關(guān)鍵，但傳統(tǒng)方式效率低、成本高。GCOM80-2NET-E通過智能協(xié)議解析、多設(shè)備兼容和數(shù)據(jù)輕量化，大幅提升測試效率，縮短周期，...

2025-03-18 標(biāo)簽：老化測試智能制造 279 0

臭氧老化試驗箱：材料老化測試的關(guān)鍵設(shè)備

在材料科學(xué)領(lǐng)域，臭氧老化試驗箱是一種至關(guān)重要的設(shè)備，用于評估材料在臭氧環(huán)境下的老化性能。臭氧作為一種強(qiáng)氧化劑，能與許多材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，加速其老化過程，...

2025-03-10 標(biāo)簽：試驗箱老化測試 194 0

老化試驗箱：加速集成電路壽命評估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽

在集成電路研發(fā)中，傳統(tǒng)自然老化測試需耗時數(shù)年，無法匹配產(chǎn)品快速迭代需求。老化試驗箱通過模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環(huán)境，將數(shù)年老化過程壓縮至數(shù)百小時，...

2025-03-08 標(biāo)簽：試驗箱老化測試試驗設(shè)備 366 0

艾德克斯IT2700在電源管理芯片老化測試中的應(yīng)用

在半導(dǎo)體領(lǐng)域，電源管理芯片老化測試是評估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計中的薄弱點(diǎn)。隨著電子設(shè)備的...

2025-03-04 標(biāo)簽：半導(dǎo)體電源管理艾德克斯 399 0

紫外(UV)老化測試：7個關(guān)鍵問題解析

紫外線對產(chǎn)品的影響在自然界中，陽光中的紫外線是導(dǎo)致產(chǎn)品光降解和光老化的主要原因。這種無形的輻射不僅對人體健康構(gòu)成威脅，對產(chǎn)品的損害同樣不容忽視。產(chǎn)品或材...

2024-12-24 標(biāo)簽：紫外線太陽光老化測試 594 0

IC芯片老化測試以及方案詳解

芯片老化試驗是一種對芯片進(jìn)行長時間運(yùn)行和負(fù)載測試的方法，以模擬芯片在實際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負(fù)載情況下...

2024-11-23 標(biāo)簽：IC芯片模擬芯片老化測試 1960 0

耐久性測試：氙燈加速老化測試

在自然界中，產(chǎn)品經(jīng)常遭受光照的影響，尤其是太陽光中的紫外線（UV），結(jié)合溫度和濕度的變化，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降、表面裂紋、脫落、色澤變暗、變色、粉化等老...

2024-11-04 標(biāo)簽：測試耐久性老化測試 368 0

LED如何做老化測試

LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長壽命，廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號等領(lǐng)域。然而，為了確保LED在實際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性，進(jìn)行老化測試是不可或缺的一步...

2024-10-26 標(biāo)簽：試驗箱測試設(shè)備老化 1482 0

高溫老化試驗房的故障處理方案

高溫老化試驗房作為一種重要的測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天等行業(yè)，用于評估材料和組件在高溫環(huán)境下的性能和可靠性。然而，在使用過程中，試驗房可能...

2024-10-26 標(biāo)簽：試驗箱測試設(shè)備老化測試 337 0

普賽斯儀表 | 創(chuàng)新技術(shù)突破,激光器老化測試系統(tǒng)解決方案

大功率激光器在光束質(zhì)量、工作效率、結(jié)構(gòu)體積、壽命和系統(tǒng)維護(hù)等方面具有明顯的優(yōu)勢。但與此同時,由于單顆芯片出光功率大，單位面積產(chǎn)生的熱量大，如果不做好散熱...

2024-06-07 標(biāo)簽：激光器老化測試激光器老化 1112 0

電子元器件老化測試項目及注意事項

在電子產(chǎn)品在加工過程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能...

2020-09-18 標(biāo)簽：電子元器件老化測試 1.3萬 0

基于LabVIEW的三極管老化測試系統(tǒng)設(shè)計

電子元器件的老化測試就是仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，通過測試，將不符合器件剔除，將電子產(chǎn)品的質(zhì)量在加工初期進(jìn)行有效地控制，以保證電子產(chǎn)品使用的可靠性和穩(wěn)...

2016-01-19 標(biāo)簽：FPGA三極管LabVIEW 5329 0

高精度低成本：一款LED老化測試方案

LED照明產(chǎn)品的老化試驗是一個非常重要的測試，通過老化測試可以及早發(fā)現(xiàn)LED 產(chǎn)品在長期使用中可能產(chǎn)生的故障。本文所介紹的一種LED 老化測試方案，主要...

2013-09-23 標(biāo)簽：LEDLED照明老化測試 2631 2