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標(biāo)簽 > 芯片測(cè)試
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國(guó)芯科技與上海汽車芯片工程中心達(dá)成戰(zhàn)略合作
近日,蘇州國(guó)芯科技股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱“國(guó)芯科技”)董事長(zhǎng)鄭茳一行專程拜訪了上海汽車芯片工程中心有限公司(以下簡(jiǎn)稱“工程中心”),雙方就汽車芯片領(lǐng)域的...
昂科技術(shù)完成億元級(jí)B輪融資,加快新產(chǎn)品研發(fā)并開(kāi)拓國(guó)際市場(chǎng)
除ATE、PSV(Post-Silicon Validation)、存儲(chǔ)測(cè)試儀、系統(tǒng)級(jí)別測(cè)試SLT、Burn-In老化測(cè)試儀V9000外,昂科技術(shù)的全系...
江波龍獲賠1418.34萬(wàn)元,因三被告侵犯商業(yè)秘密
隨后,江波龍?jiān)?023年12月22日向廣東高院提交了《上訴狀》,要求維持一審判決中的第一項(xiàng),但請(qǐng)求取消一審判決中的第二和第三項(xiàng),并改判盧浩、趙迎和晶存公...
據(jù)悉,近日,江波龍收到深圳中院出具的(2020)粵03民初3333號(hào)《民事判決書(shū)》。深圳中院認(rèn)為,深圳晶存科技有限公司未經(jīng)過(guò)允許就在LPDDR3芯片測(cè)試...
正式發(fā)布! 加速科技ST2500A飆速趕來(lái)!
在新場(chǎng)景、新應(yīng)用海量增長(zhǎng)的驅(qū)動(dòng)下,芯片測(cè)試需求也在日益多元化和快速擴(kuò)展。加速科技始終致力于以客戶的實(shí)際需求為導(dǎo)向,基于領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)為千行百業(yè)提供...
2023-12-05 標(biāo)簽:芯片測(cè)試測(cè)試機(jī)半導(dǎo)體測(cè)試 1039 0
芯片出廠前的測(cè)試主要包括芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試和可靠性測(cè)試,這三大類測(cè)試是缺一不可的。
2023-11-21 標(biāo)簽:芯片測(cè)試 836 0
長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)”半導(dǎo)體芯片測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)“專利獲授權(quán)
根據(jù)專利摘要,該公開(kāi)提供屬于半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域的半導(dǎo)體芯片測(cè)試方法、裝置、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行直流應(yīng)力試驗(yàn),得出直流應(yīng)力試驗(yàn)結(jié)果,直流...
2023-11-17 標(biāo)簽:存儲(chǔ)介質(zhì)芯片測(cè)試半導(dǎo)體制造 1068 0
半導(dǎo)體股推動(dòng)日經(jīng)指數(shù)達(dá)年內(nèi)最高點(diǎn) 英偉達(dá)是幕后推手
芯片測(cè)試設(shè)備企業(yè)advanced測(cè)試的股價(jià)在盤(pán)中一度上漲了8%。日本最大的芯片制造設(shè)備供應(yīng)企業(yè)東京電子和advanced test上升了170點(diǎn)以上。
芯片檢測(cè)是芯片設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、制造成過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),檢測(cè)芯片的質(zhì)量、性能、功能等,以滿足設(shè)計(jì)要求和市場(chǎng)需求,確保芯片可以長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。芯片測(cè)試內(nèi)容眾多,檢...
2023-11-13 標(biāo)簽:芯片設(shè)計(jì)芯片測(cè)試 5271 0
什么是ATE測(cè)試?ATE測(cè)試的工作內(nèi)容和要求?
測(cè)試過(guò)程是否有誤?制造過(guò)程是否存在缺陷?設(shè)計(jì)是否存在偏差?用戶提出的設(shè)計(jì)需求是否存在矛盾? 隨著芯片設(shè)計(jì)的發(fā)展,芯片內(nèi)部的集成度越來(lái)越高,芯片測(cè)試...
2023-10-27 標(biāo)簽:集成電路IC設(shè)計(jì)芯片測(cè)試 1.2萬(wàn) 0
電壓檢測(cè)芯片是一種常見(jiàn)的集成電路芯片,用來(lái)監(jiān)測(cè)電路中的電壓變化,防止電路受到過(guò)電壓和欠電壓的損壞。電源電壓檢測(cè)芯片被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,比如手機(jī)、...
芯片電學(xué)測(cè)試是什么?都有哪些測(cè)試參數(shù)?
電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
凝聚技術(shù)力量 共建測(cè)試生態(tài) ——集成電路測(cè)試技術(shù)交流日成功舉辦
10月18日下午,凝聚技術(shù)力量,共建測(cè)試生態(tài)?——集成電路測(cè)試技術(shù)交流會(huì)在上海成功舉辦。來(lái)自全國(guó)各地知名專家學(xué)者、技術(shù)大咖及企業(yè)代表齊聚一堂,共同探討封...
手機(jī)市場(chǎng)或迎復(fù)蘇,芯片測(cè)試與封測(cè)供應(yīng)鏈積極應(yīng)對(duì)
半導(dǎo)體封測(cè)供應(yīng)鏈傳出從10月開(kāi)始,手機(jī)系統(tǒng)大廠終于開(kāi)始有明顯的庫(kù)存回補(bǔ)動(dòng)作,鎖定如聯(lián)發(fā)科等一線手機(jī)SoC從業(yè)者的「舊款芯片」備貨。
如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化?
芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng),今天...
2023-10-16 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試 1142 0
電子元器件測(cè)試軟件助力可靠性測(cè)試,保證器件性能和質(zhì)量
電子元器件可靠性測(cè)試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目,同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見(jiàn)的可靠性測(cè)試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測(cè)試、高溫存儲(chǔ)測(cè)試、溫度循壞測(cè)...
ESD抗干擾測(cè)試是什么?防止ESD的常見(jiàn)方法有哪些
ESD靜電放電在芯片實(shí)際使用過(guò)程中越來(lái)越影響到芯片的可靠性,是影響芯片質(zhì)量和性能的重要因素之一。因此,ESD抗干擾測(cè)試是非常重要的,防止ESD對(duì)芯片造成損壞。
芯片靜態(tài)功耗是什么?如何產(chǎn)生?ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試?
在芯片的眾多測(cè)試項(xiàng)目中芯片的功耗測(cè)試可謂重中之重,因?yàn)樾酒墓牟粌H關(guān)系著芯片的整體工作性能也對(duì)芯片的效率有著非常重大的影響。ATECLOUD-IC芯片...
芯片測(cè)試工具之ATECLOUD-IC系統(tǒng)如何測(cè)試電源芯片的穩(wěn)壓反饋?
電源芯片穩(wěn)壓反饋的測(cè)試需要一臺(tái)多通道直流電源和一臺(tái)數(shù)字萬(wàn)用表,測(cè)試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流,保證芯片正常啟動(dòng),之后只需要...
ATECLOUD芯片測(cè)試系統(tǒng)如何對(duì)芯片靜態(tài)功耗進(jìn)行測(cè)試?
靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流,是指芯片在靜止?fàn)顟B(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗是衡量芯片功耗與效率地重要指標(biāo)。
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