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標簽 > 靜電放電
靜電放電(Electrostatic Discharge)是指具有不同靜電電位的物體互相靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。
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TDK株式會社推出用于汽車的兩款A(yù)VRH壓敏電阻系列新產(chǎn)品
TDK株式會社(TSE:6762)推出用于汽車的兩款A(yù)VRH壓敏電阻系列新產(chǎn)品。此兩款新品均具備較高的靜電放電(ESD)抗擾度,進而確保先進駕駛輔助系統(tǒng)...
靜電放電(ESD,electrostatic discharge)是電子工業(yè)最花代價的損壞原因之一,它會影響到生產(chǎn)合格率、制造成本、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性以及...
可控硅頻繁燒壞什么原因? 可控硅是一種半導體器件,也稱為晶閘管,它是用于控制高功率電流的重要元件。可控硅使用廣泛,應(yīng)用于電子設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、電動工具等諸...
人體放電模式(Human-Body Model, HBM)產(chǎn)生的ESD是指因人體在地上走動磨擦或其他因素在人體上已累積了靜電,當此人去碰觸到IC時,人體...
2017-02-09 標簽:靜電放電 9049 0
在本文中,我們將討論典型的靜電放電(ESD)問題和常見解決方案,靜電放電(ESD)是我們許多人每天遇到的常見現(xiàn)象,它是兩個不同電位(或電荷)物體之間突然...
為什么經(jīng)常見到電路板GND與外殼GND之間,接一個電阻一個電容?
為什么經(jīng)常見到電路板GND與外殼GND之間,接一個電阻一個電容? 電路板上的GND(地)與外殼GND之間常常接一個電阻和一個電容的原因是為了實現(xiàn)電磁兼容...
電子元件燒壞原因是什么?導致元器件燒蝕的原因? 電子元件燒壞是電子設(shè)備中常見的故障之一。當電子設(shè)備經(jīng)過長時間使用或由于其他因素導致等問題時,電子元件的電...
切換式電源產(chǎn)品在做驗證時,經(jīng)常會遭遇到ESD的相關(guān)問題,有時處理起來需花費非常多的時間,筆者從事切換式電源電路設(shè)計多年,希望能藉由之前ESD對策的經(jīng)驗與...
ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD(電靜電放電)失效和EOS(電壓過沖)失效是在電子設(shè)備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣問題,但其具...
ESD靜電放電有幾種主要的破壞機制 ESD失效的原因? 靜電放電(ESD)是由于靜電的積累導致電荷突然放電到不同電勢的物體上而引起的一系列現(xiàn)象。ESD可...
電子芯片故障原因有哪些?電子芯片故障分析? 電子芯片是現(xiàn)代生產(chǎn)、生活中不可或缺的電子元件,廣泛應(yīng)用于計算機、手機、家電、車載設(shè)備等各種電子產(chǎn)品中。然而,...
優(yōu)化ESD RF前端設(shè)計要考慮哪些因素?
在了解了 ESD 的基本概念及其與用于板載 ESD 保護的工具和組件后,Qorvo將全面介紹靜電放電和移動設(shè)備 ESD 系統(tǒng)設(shè)計建模技術(shù)和 RF 前端 ...
ESD靜電放電抗擾度測試中出現(xiàn)的問題主要表現(xiàn)在以下幾個方面。首先是手機通話中斷;其次是ESD靜電放電導致手機部分功能失效,但靜電放電過程結(jié)束后或者重新啟...
優(yōu)化ESD RF前端設(shè)計要考慮哪些因素?
在了解了 ESD 的基本概念及其與用于板載 ESD 保護的工具和組件后,Qorvo將全面介紹靜電放電和移動設(shè)備 ESD 系統(tǒng)設(shè)計建模技術(shù)和 RF 前端 ...
霍爾元件損壞的原因? 霍爾元件是一種廣泛應(yīng)用于傳感器、測量儀器和電子設(shè)備中的元件。它的主要功能是檢測電流、磁場和位置等物理量。然而,霍爾元件也會出現(xiàn)損壞...
本文介紹了手機靜電放電測試的要求和方法, 總結(jié)分析了手機靜電放電抗擾度試驗的主要失效現(xiàn)象和模式, 可供手機靜電放電抗擾度試驗及提高手機抗靜電能力設(shè)計時參考。
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