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標(biāo)簽 > PDK
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模擬IC是負(fù)責(zé)生產(chǎn)、放大和處理各類模擬信號的電路,工程師通過模擬電路把模擬信號放大縮小后,再全部記錄下來,是連續(xù)的信號;而數(shù)字IC則是通過0和1兩個代號...
打開版圖界面后,調(diào)取器件不顯示,左邊LSW為空或者全部無效,可能時當(dāng)前的Library未正確Attach到PDK,解決辦法:CIW-tools》Tech...
如何將Klayout Cell動態(tài)導(dǎo)入Lumerical Multiphysics
在本例中,演示了如何將KLayout Library Cell動態(tài)導(dǎo)入 Lumerical 以執(zhí)行設(shè)計掃描和表征。該功能支持動態(tài)導(dǎo)入到Lumerical...
Texas Instruments TAA3020EVM-PDK評估模塊數(shù)據(jù)手冊
Texas Instruments TAA3020EVM-PDK產(chǎn)品開發(fā)套件 (PDK) 設(shè)計用于快速、輕松地演示TAA3020的功能,這是一款立體聲通...
Texas Instruments ADC168M102REVM-PDK性能演示套件數(shù)據(jù)手冊
Texas Instruments ADC168M102REVM-PDK性能演示套件 (PDK) 用于評估16位、8通道1MSPS同步采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (...
2025-07-04 標(biāo)簽:adc模數(shù)轉(zhuǎn)換器PDK 140 0
Texas Instruments TAA3040EVM-PDK評估模塊數(shù)據(jù)手冊
Texas Instruments TAA3040EVM-PDK產(chǎn)品開發(fā)套件 (PDK) 設(shè)計用于快速、輕松地演示TAA3040的功能,這是一款四通道、...
2025-07-07 標(biāo)簽:adc四通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器 123 0
Texas Instruments AMP-PDK-EVM子板開發(fā)套件數(shù)據(jù)手冊
Texas Instruments AMP-PDK-EVM子板開發(fā)套件設(shè)計用于搭配AMP-PDK-EVM主板使用。子板套件選項適用于不同封裝型號。引腳數(shù)...
超經(jīng)典的邏輯單元版圖設(shè)計及 LVS 驗(yàn)證立即下載
類別:信號處理電路 2014-07-28 標(biāo)簽:邏輯單元版圖LVS 驗(yàn)證PDK 1114 0
類別:電子資料 2024-11-06 標(biāo)簽:adc模數(shù)轉(zhuǎn)換器評估模塊 234 0
類別:電子資料 2024-11-28 標(biāo)簽:模數(shù)轉(zhuǎn)換器EVMPDK 215 0
PDK是什么,它在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)起著什么樣的作用
PDK,全稱Process Design Kit,翻譯成「工藝設(shè)計套件」或「制程設(shè)計套件」,它是溝通IC設(shè)計公司、代工廠與EDA廠商的橋梁。具體來說,P...
CUMEC宣布將向全球正式發(fā)布制造工藝PDK 并對外提供流片服務(wù)
近日,重慶市委書記陳敏爾在專題調(diào)研西永微電園時指出,人才是第一資源,要以事業(yè)引人才,以環(huán)境留人才,讓重慶成為各類人才向往之地、集聚之地。
先進(jìn)工藝推進(jìn)至3nm,10nm以下的成熟工藝有開源的可能嗎?
電子發(fā)燒友網(wǎng)報道(文/周凱揚(yáng))在晶圓廠的諸多資產(chǎn)中,光刻機(jī)等各種設(shè)備決定了是否能制造出先進(jìn)芯片的硬件實(shí)力,而PDK(工藝設(shè)計套件)則決定了工藝細(xì)節(jié)、差異...
光子學(xué)將獨(dú)樹一幟 進(jìn)入發(fā)展的曲線階段
歷史上,光子學(xué)一直是GaAs砷化鎵的技術(shù);過去是,現(xiàn)在是,將來也是。分析師永遠(yuǎn)都在預(yù)測光子學(xué)何時能夠崛起;2020年,隨著摩爾定律在電子領(lǐng)域的終結(jié)或放緩...
新產(chǎn)品可為實(shí)驗(yàn)室測試提供靈活性,并能夠提高PIC設(shè)計精度,從而加快上市時間 加利福尼亞州山景城2023年3月3日?/美通社/ -- 為提高對工藝技術(shù)的熟...
西門子EDA通過創(chuàng)新推進(jìn)硅光子物理驗(yàn)證
集成電路 (IC) 設(shè)計流程(特別是較舊的節(jié)點(diǎn))曾經(jīng)認(rèn)為所繪即是交付物(設(shè)計到掩膜再到硅片)。而且在過去,只需電子設(shè)計自動化 (EDA) 行業(yè)提供些許幫...
IMEC推出針對N2節(jié)點(diǎn)的設(shè)計探路PDK
IMEC在2024年IEEE國際固態(tài)電路會議(ISSCC)上推出了 開放式設(shè)計探路(design pathfinding)工藝設(shè)計套件(PDK) ,并通...
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