什么是PCB的CAF效應(yīng)？

導(dǎo)電陽極絲（CAF）現(xiàn)象及其影響在高科技電子產(chǎn)品制造中，尤其是在對環(huán)境適應(yīng)性要求極高的汽車電子和軍工領(lǐng)域，產(chǎn)品的耐高溫和高濕性能顯得尤為重要。隨著電子產(chǎn)...

2024-12-14 標(biāo)簽：pcbSEMCAF 1329 0

從外觀到參數(shù),芯片失效的檢測方法

眾所周知，芯片作為智能設(shè)備的“心臟”，承載核心功能；其設(shè)計復(fù)雜度與集成度提升，加之應(yīng)用環(huán)境多樣化，致失效問題凸顯，或?qū)⒊蔀閼?yīng)用工程師設(shè)計周期內(nèi)的重大挑戰(zhàn)...

2024-12-09 標(biāo)簽：芯片SEM失效分析 1705 0

電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）：原理、測試方法與應(yīng)用領(lǐng)域

電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)（EBSD），作為一種尖端的材料分析手段，融合了掃描電子顯微鏡（SEM）的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣...

2024-12-02 標(biāo)簽：探測器SEM顯微鏡 892 0

三維電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)：FIB-SEM與EBSD的結(jié)合應(yīng)用案例

三維電子背散射衍射技術(shù)（3D-EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域，對材料的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確分析是至關(guān)重要的。傳統(tǒng)的電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)主要提供樣品表面的...

2024-11-29 標(biāo)簽：SEMfib三維電子 858 0

FIB-SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)

BlackPad簡介目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大，ENIG金屬Ni層以NiP成分為主，在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕（后面稱blackpad）。退金后...

2024-11-29 標(biāo)簽：SEMfib電鏡 595 0

FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域及工作原理解析

集成化微納加工平臺雙束聚焦離子束-掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）系統(tǒng)代表了微納加工技術(shù)的前沿，它巧妙地融合了單束FIB和SEM的優(yōu)勢，為用戶提供了一個...

2024-11-27 標(biāo)簽：SEM顯微鏡fib 683 0

聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）技術(shù)原理、樣品制備要點(diǎn)及常見問題解答

納米級材料分析的革命性技術(shù)在現(xiàn)代科學(xué)研究和工程技術(shù)中，對材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的深入理解是至關(guān)重要的。聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）技術(shù)應(yīng)運(yùn)而...

2024-11-23 標(biāo)簽：SEMfib電鏡 1188 0

場發(fā)射掃描電鏡（FESEM）與常規(guī)掃描電鏡（SEM）：技術(shù)對比及優(yōu)勢分析

場發(fā)射掃描電鏡與SEM的比較及優(yōu)勢在微觀世界的研究中，掃描電鏡（SEM）一直是科學(xué)家們探索材料表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步，場發(fā)射掃描電鏡（...

2024-11-21 標(biāo)簽：測試SEM掃描電鏡 1289 0

什么是掃描電鏡（SEM）？

掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電子顯微鏡（SEM）是現(xiàn)代科學(xué)探索微觀世界的一把關(guān)鍵鑰匙。它通過高分辨率的電子成像技術(shù)，使我們能夠洞察物質(zhì)的微觀構(gòu)造，從而在...

2024-11-20 標(biāo)簽：SEM顯微鏡掃描電鏡 1228 0

電子背散射衍射（EBSD）：揭示材料晶體學(xué)信息的窗口

什么是電子背散射衍射（EBSD）？電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)中扮演著至關(guān)重要的角色，尤其是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一...

2024-11-18 標(biāo)簽：材料SEM晶體學(xué) 1297 0

聚焦離子束一電子束(FIB-SEM)雙束系統(tǒng)原理

納米科技是當(dāng)前科學(xué)研究的前沿領(lǐng)域，納米測量學(xué)和納米加工技術(shù)在其中扮演著至關(guān)重要的角色。電子束和離子束等工藝是實(shí)現(xiàn)納米尺度加工的關(guān)鍵手段。特別是聚焦離子束...

2024-11-14 標(biāo)簽：SEMfib電子束 856 0

電子背散射衍射（EBSD）：材料科學(xué)的顯微分析利器

EBSD：材料微觀結(jié)構(gòu)分析電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)，依托于掃描電子顯微鏡（SEM），作為一種尖端的材料分析手段，能夠深入探究材料的微觀結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)對...

2024-11-14 標(biāo)簽：材料SEM顯微鏡 967 0

場發(fā)射電鏡（FESEM）應(yīng)用領(lǐng)域及案例分析

1?設(shè)備型號3臺和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM），能夠?yàn)榭蛻籼峁I(yè)的材料分析服務(wù)。2?原理場發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場發(fā)...

2024-11-14 標(biāo)簽：SEM顯微鏡電鏡 802 0

鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)：氬離子拋光SEM電鏡測試效果展示

在現(xiàn)代材料科學(xué)和工程領(lǐng)域，對材料微觀結(jié)構(gòu)的精確分析是至關(guān)重要的。特別是在鋰電池技術(shù)迅速發(fā)展的今天，對電極片的微觀結(jié)構(gòu)分析是優(yōu)化電池性能和壽命的關(guān)鍵。氬離...

2024-11-11 標(biāo)簽：鋰電池SEM電鏡 712 0

EBSD技術(shù)：解析其工作原理、數(shù)據(jù)采集與分辨率能力

EBSD技術(shù)：材料顯微學(xué)的先進(jìn)工具電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種在材料科學(xué)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的顯微學(xué)技術(shù)，它通過分析樣品與高能電子束相互作用時產(chǎn)生的反射...

2024-11-07 標(biāo)簽：數(shù)據(jù)采集SEM電子束 1095 0

掃描電鏡工作原理

電子束與樣品相互作用的深入解析掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進(jìn)的儀器，用于觀察和分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)。該設(shè)備通過電子槍發(fā)射的電子束，經(jīng)過電磁透鏡的聚...

2024-11-07 標(biāo)簽：SEM儀器掃描電鏡 944 0

背散射電子衍射（EBSD）的原理與應(yīng)用領(lǐng)域

No.1EBSD從原理到應(yīng)用電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域中扮演著重要角色，特別是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一種獲取樣...

2024-11-05 標(biāo)簽：設(shè)備SEM顯微鏡 1317 0

一文搞懂掃描電鏡（SEM）技術(shù)解讀與大功率半導(dǎo)體模塊封裝解析

從本質(zhì)上講，SEM "觀察"樣品表面的方式可以比作一個人獨(dú)自在暗室中使用手電筒（窄光束）掃描墻上的物體。從墻的一側(cè)到另一側(cè)進(jìn)行掃描，...

2024-08-08 標(biāo)簽：封裝SEM功率半導(dǎo)體 7095 0

利用定向陶瓷纖維電解質(zhì)構(gòu)建高壓固態(tài)鋰電池中堅固的富LiF界面

隨著對電動汽車和便攜式電子設(shè)備的電力需求持續(xù)增加，全固態(tài)鋰電池（ASSLBs）由于其在安全性和能量密度方面的優(yōu)勢，已成為當(dāng)前研究的熱點(diǎn)。

2024-05-06 標(biāo)簽：電動汽車SEM電解質(zhì) 1143 0

用于高能量密度全固態(tài)電池的無裂紋單晶LiNiO2

具有高理論容量的高鎳LiNi1-x-yMnxCoyO2 (NMC)層狀氧化物正極已經(jīng)在固態(tài)電池中成功地實(shí)現(xiàn)了各種ISEs。

2024-04-23 標(biāo)簽：鋰離子電池SEM充電電壓 1229 0