兩顆電容解決可控硅產(chǎn)生的二次放電問題

原因不明的二次放電

修改了過零檢測(cè)電路、可控硅觸發(fā)變壓器驅(qū)動(dòng)電路，

安排上了通過二次電流、二次電壓采用積分、微分計(jì)算的軟件閃絡(luò)檢測(cè)算法，

甚至加上通過微分電路實(shí)現(xiàn)的硬件閃絡(luò)檢測(cè)方法；

然而，在上周末的測(cè)試時(shí)，仍然碰到無法及時(shí)控制電場(chǎng)閃絡(luò)的情況。

當(dāng)把放電錘固定在一個(gè)位置，可控硅導(dǎo)通角上升，升到某個(gè)電壓時(shí)，電場(chǎng)被擊穿放電，發(fā)生閃絡(luò)；

此時(shí)，控制應(yīng)該及時(shí)檢測(cè)到閃絡(luò)，并迅速關(guān)閉可控硅輸出，然后又控制導(dǎo)通角上升，如此循環(huán)，就能聽到有規(guī)律的清脆的電場(chǎng)放電聲音；

在實(shí)測(cè)時(shí)，時(shí)不時(shí)聽得到并不是那么清脆的放電聲，像是第一次放電沒有及時(shí)控制住，馬上又發(fā)生了電流更大的放電，發(fā)生更響的拖尾聲。

抽絲剝繭，找出問題

正常運(yùn)行時(shí)，二次電壓為鋸齒狀的波形，二次電流為饅頭形狀的波形。

圖1. 正常運(yùn)行時(shí)的二次電流、二次電壓的波形

當(dāng)發(fā)生閃絡(luò)時(shí)，二次電壓快速降低，二次電壓快速升高。

圖2. 發(fā)生閃絡(luò)時(shí)二次電流、二次電壓的波形

為了方便測(cè)量，定時(shí)器中斷時(shí)檢測(cè)到閃絡(luò)時(shí)，翻轉(zhuǎn)用于測(cè)試的GPIO口，通過二次電流的觸發(fā)電平，讓示波器捕捉未能及時(shí)關(guān)閉的閃絡(luò)波形。

圖3. 未及時(shí)控制閃絡(luò)時(shí)的二次電流、二次電壓波形

從波形上看，軟件已經(jīng)檢測(cè)到了閃絡(luò)，那為什么二次電流仍在下一個(gè)半波急劇升高。

既然閃絡(luò)檢測(cè)沒有問題，難道是軟件沒有及時(shí)關(guān)閉可控硅觸發(fā)脈沖串？

圖4. 未及時(shí)控制閃絡(luò)時(shí)的觸發(fā)脈沖串波形

用示波器同時(shí)測(cè)量DSP輸出的脈沖串波形，發(fā)現(xiàn)DSP在檢測(cè)到閃絡(luò)之后的下一個(gè)半波已經(jīng)及時(shí)關(guān)閉了脈沖串輸出。

及時(shí)檢測(cè)到閃絡(luò)又及時(shí)關(guān)閉了觸發(fā)脈沖串，為什么二次電流仍然在下一個(gè)半波急劇上沖，難道是因?yàn)榘l(fā)生閃絡(luò)時(shí)，電流劇變產(chǎn)生強(qiáng)大的干擾通過有線傳導(dǎo)或者無線輻射在可控硅的GK極之間產(chǎn)生異常電壓，導(dǎo)致了可控硅的誤觸發(fā)。