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高度加速壽命測試是什么 高度加速壽命測試技術(shù)細(xì)節(jié)

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2018-05-14 08:31:2370498

什么是壽命試驗_高加速壽命試驗是什么意思

本文首先介紹了壽命試驗的優(yōu)點和壽命試驗的類別,其次介紹了壽命試驗設(shè)計方法與高加速壽命試驗的概念,最后介紹了高加速壽命試驗功能及其優(yōu)點。
2018-05-14 09:07:134859

壽命試驗的可靠性測試詳解

本文首先介紹了可靠性測試的概念與分類,其次介紹了壽命測試屬于可靠性測試及其作用,最后介紹了有效的壽命測試項目及壽命試驗相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 09:40:4616177

微動開關(guān)壽命測試電路圖

微動開關(guān)壽命測試是一個重要的環(huán)節(jié)。筆者設(shè)計了一款微動開關(guān)壽命測試電路,現(xiàn)介紹如下。
2019-02-07 08:33:005747

基于Xilinx FPGA的Memcached硬件加速器的介紹

本教程討論基于Xilinx FPGA的Memcached硬件加速器的技術(shù)細(xì)節(jié),該硬件加速器可為10G以太網(wǎng)端口提供線速Memcached服務(wù)。
2018-11-27 06:41:003433

淺談LED燈具壽命測試標(biāo)準(zhǔn)和方案

LED產(chǎn)品目前倍受青睞的一個重要原因是其節(jié)能和壽命因素,節(jié)能是非常容易看到的,而壽命測試一直是讓業(yè)界深感困惑。
2019-01-01 04:16:006407

要想電流測得準(zhǔn),一定不能忽視的技術(shù)細(xì)節(jié)(第二講)

要想電流測得準(zhǔn),一定不能忽視的技術(shù)細(xì)節(jié)(第二講)
2019-07-02 11:40:482480

美國能源部公布第三份基于長期加速壽命測試的LED驅(qū)動器可靠性報告

據(jù)外媒報道,美國能源部(DOE)日前公布了第三份基于長期加速壽命測試的LED驅(qū)動器可靠性報告。美國能源部固態(tài)照明(SSL)研究人員認(rèn)為,最新的結(jié)果都證實了加速壓力測試(AST)方法,在各種惡劣條件下都顯示出了良好的性能。此外,測試結(jié)果及測定的失敗因素都能告知驅(qū)動器開發(fā)人員進(jìn)一步提升可靠性的相關(guān)策略。
2019-08-23 14:34:281475

基于LED芯片使用壽命的實驗測試方案

隨著LED生產(chǎn)技術(shù)水平的提高,產(chǎn)品的壽命和可靠性大為改觀,LED的理論壽命為10萬小時,如果仍采用常規(guī)的正常額定應(yīng)力下的壽命試驗,很難對產(chǎn)品的壽命和可靠性做出較為客觀的評價,而我們試驗的主要目的是,通過壽命試驗掌握LED芯片光輸出衰減狀況,進(jìn)而推斷其壽命。
2019-10-04 16:44:00977

基于利用MEMS加速計傳感器提高電池壽命的設(shè)計方案

低功耗可利用MEMS加速計(Accelerometer)傳感器來增加電池壽命。傳感器變得越來越省電,所嵌入的各種功能也有助于減少整體系統(tǒng)能耗。
2019-11-05 15:36:37936

電瓶人們最關(guān)心的問題—壽命

單體電池壽命定義和測試程序已被人們普遍接受并形成許多標(biāo)準(zhǔn),測試壽命時,可保證不過充、過放,也就不會提前失效,與單體不同。 電瓶修復(fù) 電池組的壽命測試目前的做法不科學(xué),在一定程度上限制了動力鋰電池
2020-02-27 14:32:461477

基于采用LabWindows/CVI虛擬儀器技術(shù)實現(xiàn)高度測試系統(tǒng)的設(shè)計

高度測試系統(tǒng)測試對象是一部由鋸齒波信號調(diào)制的調(diào)頻連續(xù)波、恒定差拍自動跟蹤式c波段的某型無線電高度表。該高度表由發(fā)射組合、接收組合、伺服輸出組合和收發(fā)鑒頻組合組成,其工作原理如圖1所示。
2020-08-28 09:52:25723

HALT和HASS測試方法對電信PCB組件的重要性是什么?

當(dāng)涉及到 PCB 組裝時,穩(wěn)健測試的重要性不可低估,因為最終產(chǎn)品的功效取決于 PCB 。對于電信行業(yè)中使用的 PCB ,它們需要通過以下程序進(jìn)行嚴(yán)格的測試: l 高度加速壽命測試或 HALT
2020-11-02 19:29:542476

揭秘賽靈思計算平臺ACAP技術(shù)細(xì)節(jié)

? 在日前召開的FPGA領(lǐng)域的學(xué)術(shù)頂會--2019年“FPGA國際研討會”上,賽靈思發(fā)表了兩篇長論文,詳細(xì)介紹了賽靈思“自適應(yīng)計算加速平臺”ACAP的系統(tǒng)架構(gòu)和技術(shù)細(xì)節(jié)。本文將對ACAP的主要架構(gòu)
2021-01-04 09:53:242928

大功率半導(dǎo)體激光器加速壽命測試方法

大功率半導(dǎo)體激光器的應(yīng)用領(lǐng)域越來越廣泛,其可靠性非常重要,且壽命是衡量可靠性的重要指標(biāo)之一。然而,大功率激光器的工作壽命還沒有一個國際標(biāo)準(zhǔn)定義,也沒有標(biāo)準(zhǔn)的加速檢測方法。
2021-03-24 15:55:046

液位高度測量方案簡述

要求掃描測量4瓶膠水的高度 首先先把要測量的4瓶膠水整齊的放在運動裝置上,固定90度鏡頭位置,并以陶瓷量塊高度作為一個基準(zhǔn)線。 ? 本次測試采用立儀科技H4UC全量程控制器,鏡頭采用D35A7R16
2022-06-28 15:46:03903

測試套件加速 SPE 汽車設(shè)計

測試套件加速 SPE 汽車設(shè)計
2023-01-05 09:43:38489

萬能試驗機(jī)高度在不同行業(yè)的應(yīng)用

高度的精準(zhǔn)控制和測量。在進(jìn)行高度控制和測量時,需要注意操作細(xì)節(jié)和安全問題,保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-03-14 14:21:15343

汽車電子壽命測試概念及技術(shù)細(xì)節(jié)

壽命測試是對組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在其預(yù)期或指定的使用壽命條件下進(jìn)行的測試。它的目的是評估和驗證產(chǎn)品在實際使用壽命期間的可靠性和性能。
2023-07-25 11:51:11417

可靠性證明測試高度加速壽命測試

壽命測試是一種重要的可靠性測試方法,用于評估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測試旨在模擬實際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力,例如時間、溫度、振動、沖擊、電壓等,并通過持續(xù)的測試和監(jiān)測來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505

PCB的環(huán)境測試有哪些類型

加速試驗包括高加速壽命試驗(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測試評估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性,包括高溫、高濕和設(shè)備通電時的振動/沖擊測試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測試期間,產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗通常包括在一個小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗。
2023-08-17 13:43:08291

加速壽命測試HALT HASS HASA

加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS和高加速應(yīng)力稽核測試HASA,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性??煽啃愿?b class="flag-6" style="color: red">加速壽命測試圖源:華南檢測中心HALT測試
2023-08-18 08:35:29611

可靠性測試中HALT實驗與HASS實驗的區(qū)別

電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢,跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206

加速壽命試驗對焊點的可靠性評估

加速壽命試驗是加速電子產(chǎn)品在實際使用中會出現(xiàn)的損壞因素,以比實際使用更短的時間引發(fā)失效,藉此鑒定產(chǎn)品是否符合設(shè)計要求,以及對失效模式分析并提出改進(jìn)方案。
2024-01-31 09:28:50168

快充技術(shù)會影響電池壽命嗎?

快充技術(shù)可能會對電池壽命產(chǎn)生一定的影響。雖然快充技術(shù)能夠顯著縮短充電時間,但是大電流和高電壓的充電方式可能會加速電池的損耗,導(dǎo)致電池壽命的縮短。具體來說,快充技術(shù)通常需要更高的充電電壓或電流,這會
2024-02-06 15:44:29612

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