設(shè)計壓阻式壓力傳感器等 MEMS 設(shè)備是一項極富挑戰(zhàn)的工作,這是因為精確描述此類設(shè)備的工作條件需要基于多個物理場的耦合分析。借助 COMSOL Multiphysics?,您便可以輕松地耦合多物理場仿真,進(jìn)而便捷地測試設(shè)備性能并獲取精確的分析結(jié)果。今天,我們將通過一個示例來展示軟件的這一強(qiáng)大功能。
壓阻式壓力傳感器的優(yōu)勢
壓阻式壓力傳感器是首款商用的 MEMS 設(shè)備。作為壓力傳感器市場占有率最高的產(chǎn)品,此類設(shè)備在眾多應(yīng)用領(lǐng)域擁有著極為廣泛的用途。血壓測量儀和汽車發(fā)動機(jī)中的油(氣)量表是其最常見的應(yīng)用示例。
壓阻式壓力傳感器在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域及汽車行業(yè)的應(yīng)用。左圖:血壓測量裝置。圖像由 Andrew Butko 拍攝。已獲 CC BY-SA 3.0 許可,通過 Wikimedia Commons 共享。右圖:汽車油表。圖像由 Marcus Yeagley 拍攝。已獲 CC BY-SA 2.0 許可,通過 Flickr Creative Commons 共享。
相比于電容式壓力傳感器,壓阻式壓力傳感器雖然耗電量較高、噪聲相對較大,但它卻擁有電容式壓力傳感器不具備的許多優(yōu)點,例如壓阻式壓力傳感器能更容易地與電子設(shè)備相集成。不僅如此,它對壓力的響應(yīng)更為線性,并且還能屏蔽射頻噪聲的干擾。
壓阻式壓力傳感器同其他 MEMS 設(shè)備一樣,其設(shè)計中也包含了多個物理場。為了準(zhǔn)確地評估傳感器性能,需要借助可靠工具來對不同的物理場進(jìn)行耦合,并描述它們之間的相互作用。COMSOL Multiphysics 的豐富特征和功能絕對可以滿足您的需求。精確的仿真結(jié)果讓您進(jìn)行實際制造前,便能準(zhǔn)確地了解設(shè)備的性能。
我們從“案例下載”中選取了一個示例,來讓您更深入地了解 COMSOL 軟件的強(qiáng)大功能。
借助 COMSOL Multiphysics? 評估壓阻式壓力傳感器的性能
“壓阻式壓力傳感器,殼”教學(xué)模型的設(shè)計基于原摩托羅拉(Motorola)公司半導(dǎo)體事業(yè)部制造的一款壓力傳感器,該部門后來發(fā)展成為飛思卡爾半導(dǎo)體有限公司(Freescale Semiconductor)。該型號的傳感器現(xiàn)已停產(chǎn),文末的參考文獻(xiàn) 1 提供了該傳感器的詳細(xì)分析,參考文獻(xiàn) 2 提供了制造商的存檔數(shù)據(jù)表。
模型的幾何結(jié)構(gòu)由一個厚度為 20 μm、邊長為 1 mm 的正方形隔膜組成。隔膜的周圍是寬 0.1 mm 的支撐區(qū)域,該區(qū)域固定在隔膜下側(cè),與設(shè)備中的半導(dǎo)體材料粗柄相連??拷裟さ倪吘壧帲梢钥吹揭粋€ X 形的壓敏電阻 Xducer? (以下簡稱 X)及與其相連的線。該區(qū)域內(nèi)僅加入了少量的互連線,這些連接線的電導(dǎo)率足夠高,故不會對設(shè)備的輸出產(chǎn)生影響。
傳感器模型的幾何結(jié)構(gòu)(左圖)和壓敏電阻幾何結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)圖(右圖)。
如果我們向 X 中沿 [100] 方向的臂施加一個電壓,則會有電流沿臂流過。當(dāng)壓力導(dǎo)致植入的傳感器的隔膜發(fā)生變形時,設(shè)備中會產(chǎn)生剪切應(yīng)力。由于產(chǎn)生了剪切應(yīng)力,X 中沿 [010] 方向的臂內(nèi)會產(chǎn)生與電流方向垂直的電場或電勢梯度——這是由壓阻效應(yīng)產(chǎn)生的。換能器寬度上的電勢梯度逐漸相加,最終使 X的 [010] 臂兩端之間產(chǎn)生電壓差。
在這種情況下,我們假設(shè)壓敏電阻的厚度為 400 nm,密度為 1.31×1019 cm-3 的均勻 p 型半導(dǎo)體。由于連接線具有相同的厚度,故我們假設(shè)其摻雜密度為 1.45×1020 cm-3。
對于方向來說,半導(dǎo)體材料的邊必須與模型的 x 軸,y 軸和硅的 [110] 方向?qū)R。與此同時,壓敏電阻與材料邊緣成 45o 角,也就是它位于晶體的 [100] 方向。為了確定晶體方向,可將模型的坐標(biāo)系關(guān)于 z 軸旋轉(zhuǎn) 45o。借助 COMSOL 軟件中的旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系 特征,我們可以輕易完成上述操作。
在此案例中,我們使用壓阻效應(yīng),邊界電流 接口來對結(jié)構(gòu)方程式和薄層上的電氣方程進(jìn)行模擬,此薄層與結(jié)構(gòu)上的邊界相重合。使用此類二維“殼”公式可以大大降低模擬薄層結(jié)構(gòu)占用的計算資源。請注意,我們同時選擇了“MEMS 模塊”與“結(jié)構(gòu)力學(xué)模塊”來執(zhí)行分析。
結(jié)果比較
首先,讓我們觀察一下施加了 100 kPa 壓力后隔膜的位移情況。在下方的仿真繪圖中,我們可以觀察到隔膜中心的位移為 1.2 μm,參考文獻(xiàn) 1 中各向同性模型預(yù)計該點處的位移為 4 μm??紤]到分析模型是基于粗略的猜想,故可以認(rèn)為此案例的結(jié)果與文獻(xiàn)中的結(jié)果是相匹配的。
施加 100 kPa壓力后隔膜的位移情況。
當(dāng)在局部坐標(biāo)系中對隔膜邊緣中點處取更為精確剪切應(yīng)力值時,參考文獻(xiàn) 1 表示局部剪切應(yīng)力為 35 MPa。這一結(jié)果與本文仿真研究中的最小值 38 MPa 非常吻合。從理論上講,隔膜邊緣中點處的剪切應(yīng)力應(yīng)最大。
壓敏電阻局部坐標(biāo)系中的剪切應(yīng)力。
下圖展示了隔膜邊緣上的剪切應(yīng)力。每條邊的中心處,局部剪切應(yīng)力最大,為 38 MPa。
沿兩條隔膜邊緣的局部剪切應(yīng)力。
鑒于設(shè)備尺寸和摻雜度估算值,在正常運行下,模型輸出與制造商數(shù)據(jù)表中的信息十分吻合。舉例來說,在該模型中,施加3 V 的偏壓后可以得到 5.9 mA 的工作電流。數(shù)據(jù)表中記錄有一個相似的 6 mA 電流。此外,該模型的電壓輸出為 54 mV。如數(shù)據(jù)表所示,設(shè)備產(chǎn)生的實際電位差為 60 mV。
最后,讓我們看看 Xducer? 傳感器的電流與電壓分布詳情。參考文獻(xiàn) 3 中提到,當(dāng)電壓傳感元件中的載流硅線的局部寬度增大時,可能會發(fā)生“短路效應(yīng)”。該效應(yīng)的本質(zhì)原因是電流擴(kuò)散到了 X 形壓敏電阻的傳感臂中。具體情況請參見下圖。此外,下圖還突出顯示了不對稱電位,它也由壓阻效應(yīng)產(chǎn)生的。
3 V 的偏壓、100 kPa 壓力時,設(shè)備的電流密度和電勢。
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