近日，安捷倫科技在在深圳舉辦了亞洲區(qū)最大的測試測量科技盛會全方位展現(xiàn)了安捷倫電子測試測量的魅力。

　　模塊化測試設備

　　安捷倫從2010年10月至今已推出50余款 PXI 和AXIe產(chǎn)品，將測試與測量系列產(chǎn)品擴展到模塊化產(chǎn)品領域。當前制造業(yè)面臨的最大問題是，單一的平臺無法應對所有的測試情況，必須使用大量測試設備，耗費時間導致成本上升。

　　與傳統(tǒng)的整體化測試儀器相比，模塊化有著更靈活多變，升級擴展容易等優(yōu)勢限，為客戶節(jié)約測試時間和人力成本。但安捷倫表示今后不會放棄傳統(tǒng)儀器這一塊，模塊化與整體化將并存發(fā)展，并且在保持AXIe總線產(chǎn)品主導的同時，增加對PXI總線產(chǎn)品的投入。

　　PCI-e 2.0 機箱為業(yè)界首款，以及M9392A VSA，業(yè)界第一款由單個廠商生產(chǎn)的 PXI 微波矢量信號分析儀，并通過功能強大、廣泛應用的 Agilent 89600 VSA 軟件得到了增強。該產(chǎn)品組合能夠對通信、雷達和航空電子信號(高達 26.5 GHz)進行詳細分析，并為下一代無線系統(tǒng)和其他應用提供業(yè)界領先的 250 MHz 瞬時帶寬。配合超寬帶下變頻器，可實現(xiàn)對超過1GHz帶寬的信號捕獲和分析。此外，微波矢量信號分析儀(VSA)也成為解決寬帶功放預失真測試(DPD)有力手段。

　　PXT 儀器是 LTE 終端測試領域的一項重大突破。它提供靈活的基站/網(wǎng)絡仿真和射頻參數(shù)測試功能，是安捷倫針對 LTE 開發(fā)和驗證的測試產(chǎn)品系列中又一出色的測試解決方案。

　　PXT 具有最大的靈活性，可配置各種連接和網(wǎng)絡參數(shù)，進行測量和調試所設計的協(xié)議和數(shù)據(jù)處理能力，包括下行 2x2 MIMO (兩步法模擬)和切換(I-RAT)?？蛇x的應用軟件支持更詳細的協(xié)議和應用測試及分析?？梢赃B續(xù)記錄幾天不間斷測試產(chǎn)生的數(shù)據(jù)，并且通過遠程協(xié)助功能(System-View)幫助工程師解決測試中遇到的實際問題。

　　然而最大的亮點還是針對LTE移動設備的耗電量模擬測試。當今各種智能手機、平板電腦的功能越來越強大，電池卻越來越不夠用。如何幫助終端廠商優(yōu)化電源設計?PXT有辦法。

　　PXT 儀器還可用于安捷倫的設計驗證和一致性測試解決方案，覆蓋整個LTE研發(fā)周期。借助這款全新產(chǎn)品，就能更迅速、更高效地將設計推向市場，并繼續(xù)提供適用于產(chǎn)品生命周期各個階段的全套工具。

　　隨著HDMI1.4，USB3.0,Display Port等各種高速數(shù)據(jù)線纜的廣泛使用，高速數(shù)據(jù)線纜的測試成為線纜廠商的一大挑戰(zhàn)，安捷倫元器件測試工廠市場應用工程師真鍋秀一先生(HidekazuManabe)，為我們介紹了網(wǎng)絡分析儀E5071C選件TDR。它可以既進行傳統(tǒng)的S參數(shù)測試，又可以進行TDR各項指標的測試。

　　傳統(tǒng)上，基于采樣示波器的時域反射計 (TDR) 一直用于電纜和印刷電路板的測試。由于這種示波器的噪聲相對較大，同時實現(xiàn)高動態(tài)范圍和快速測量具有一定難度，雖然通過取平均法可以降低噪聲，但是這會影響測量速度。示波器上用于測量時序偏差的多個信號源之間的抖動，也會導致測量誤差。此外，給TDR 示波器設計靜電放電 (ESD) 保護電路非常困難，因此TDR 示波器容易被ESD 損壞。這些問題只憑TDR 示波器基本上很難解決，只有通過E5071C-TDR — 基于矢量網(wǎng)絡分析儀 (VNA) 的TDR 解決方案才能解決。

　　與傳統(tǒng)TDR相比，基于ENA的TDR操作上更簡單，測量更快速精確，并且通過其測試的線材均可達到HDMI,SATA等實驗室認證標準。所以廠商無須花大價錢去購買整套測試設備，只須在TDR上進行預測，便可送實驗室進行認證。當然，如果不放心，預測時可以適當加嚴。TDR選件目前已經(jīng)覆蓋到5Gbps的總線速度標準，并且提供在線免費固件升級服務。