上一篇文章中,介紹了在探討輸出電流較大的應(yīng)用時應(yīng)該注意的兩個注意事項中的第一項。關(guān)鍵要點是要想提高輸出電流,需要使用導(dǎo)通電阻低的MOSFET,提高開關(guān)速度,并選用DCR低的電感。本文將介紹注意事項中的第二項。
探討高輸出電流應(yīng)用時的注意事項其2
如上一篇文章中所介紹的,要想提高輸出電流,需要使用導(dǎo)通電阻小的MOSFET。然而,高耐壓且低導(dǎo)通電阻的MOSFET通常會具有較大的柵極電容,并且往往具有較高的Qg,因此,需要注意柵極電荷損耗。
下面將在此前使用的條件下,在柵極電荷Qg具有從1nC到50nC的范圍條件下,來探討損耗。
?柵極電荷損耗

下圖表示Qg和損耗之間的關(guān)系。當Qg增加時,柵極電荷損耗也會隨之增加。
對策
作為應(yīng)對這種損耗增加問題的對策,可探討使用輸出電流增加時所需的低導(dǎo)通電阻的MOSFET,且Qg低的MOSFET。實際上存在導(dǎo)通電阻低且Qg足夠低的MOSFET,這是可以避免的問題。
需要注意的是,Qg低的MOSFET可能會具有急劇的開關(guān)上升/下降,這可能會導(dǎo)致開關(guān)噪聲變大。雖然這種對策具有提高開關(guān)速度、降低開關(guān)損耗的優(yōu)點,但需要充分評估EMI問題,也需要考慮PCB設(shè)計。
總結(jié)
由于探討高輸出電流應(yīng)用時的注意事項是分兩篇文章進行介紹的,因此在此作一下總結(jié)。
在探討輸出電流大的應(yīng)用時,需要使用導(dǎo)通電阻低的MOSFET,提高開關(guān)速度,并選擇DCR低的電感。
關(guān)于MOSFET,需要選擇導(dǎo)通電阻低、Qg低的產(chǎn)品。在這種情況下,開關(guān)速度往往會提高,因此需要確認開關(guān)噪聲是否有增加。
審核編輯:湯梓紅
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