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溝槽結構SiC MOSFET常見的類型

電子工程師筆記 ? 來源:松哥電源 ? 2023-04-01 09:37 ? 次閱讀
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SiC MOSFET溝槽結構將柵極埋入基體中形成垂直溝道,盡管其工藝復雜,單元一致性比平面結構差。但是,溝槽結構可以增加單元密度,沒有JFET效應,寄生電容更小,開關速度快,開關損耗非常低;而且,通過選取合適溝道晶面以及優(yōu)化設計的結構,可以實現(xiàn)最佳的溝道遷移率,明顯降低導通電阻,因此,新一代SiC MOSFET主要研究和采用這種結構。

這種結構柵極溝槽底部氧化層的工作電場強度高,在高的反向偏置電壓下,此處成為器件最薄弱的環(huán)節(jié)。溝槽結構SiC MOSFET的技術演進方向,就是采用優(yōu)化的內(nèi)部結構,減小溝槽底部氧化層工作電場強度,本文列出了一些常見結構。

1、Rohm的雙溝槽結構

柵極溝槽底部氧化層外二側(cè)P-體區(qū)下移,下移P-體區(qū)和溝槽底部附近的N-區(qū)漂移層的PN結,形成耗盡層,也就是空間電荷區(qū),降低柵極溝槽底部氧化層內(nèi)的工作電場強度,這是一種最為經(jīng)典、實用的專利結構。

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a)Rohm雙溝槽結構

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b)電場分布

圖1Rohm雙溝槽結構及電場分布

2、Infineon非對稱溝槽結構

柵極溝槽底部氧化層外P-體區(qū)單側(cè)下移,半包裹柵極溝槽底部區(qū)域,下移P-體區(qū)和溝槽底部附近N-區(qū)漂移層的PN結,形成耗盡層、也就是空間電荷區(qū),降低柵極溝槽底部氧化層內(nèi)的工作電場強度。

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圖2Infineon非對稱溝槽結構

3、普渡大學Integral Oxide Protection綜合氧化保護結構

綜合氧化保護結構IOP改進地方有3部分:整個柵極溝槽氧化層外,包括底部和側(cè)壁,使用低摻雜薄層N-型SiC,把柵極氧化層隔開;柵極溝槽下部,再增加一層P+型SiC;P-體區(qū)和N-漂移層之間增加一層高摻雜N+型SiC。

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圖3 普渡大學IOP溝槽結構

器件處于反向偏置時,柵極溝槽下面新增PN結形成空間電荷區(qū),也就是耗盡層,可以對柵極氧化層起到屏蔽電場作用,將柵極氧化層內(nèi)最大電場轉(zhuǎn)移到PN結,減小柵極氧化層內(nèi)的工作電場,甚至讓柵極氧化層電場減少到0,有效消除柵極氧化層被電場擊穿可能性。

柵極溝槽側(cè)壁薄層低摻雜N-型SiC,可以降低SiC-SiO 界面態(tài)對溝道電子散射作用,提高電子遷移率,降低器件導通電阻。器件導通時,P-體區(qū)和N-漂移層之間新增高摻雜N+型層,促進溝道電子進入漂移區(qū)后立即擴展,進一步降低導通電阻。

4、Mitsubishi溝槽結構

采用非對稱溝槽結構,柵極溝槽底部區(qū)域有3個結構:底部P+電場限制結構,側(cè)接地電場限制層(圖4中溝槽底部左側(cè)P區(qū))、高濃度N+摻雜導電區(qū)(圖4中溝槽底部右側(cè)N+區(qū))。柵極溝槽底部的P+電場限制結構和N-漂移層形成PN結,PN結的耗盡層、也就是空間電荷區(qū),將加在柵極氧化層的電場強度降低到普通平面結構的水平,側(cè)接地電場限制層將電場限制層連接到源極,形成側(cè)接地,實現(xiàn)高速開關。高濃度摻雜導電區(qū),降低電流通路的導通電阻。

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圖4Mitsubishi溝槽結構

其改進結構如圖5所示,溝槽底部區(qū)域變?yōu)?個結構:溝槽底部的P+電場限制結構和溝槽底部周圍的高濃度摻雜N+導電區(qū)(圖5中溝槽底部二側(cè)N+)。P+電場限制結構將加在柵極溝槽氧化層的電場強度降低,高濃度摻雜N+導電區(qū)降低電流通路的導通電阻。

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圖5Mitsubishi改進溝槽結構

5、Fuji Electric

柵極溝槽二側(cè)的P-體區(qū)部分下移,使用高摻雜P+;柵極溝槽底部氧化層外,增加掩埋的P+浮島結構,和N-漂移層形成PN結,PN結的耗盡層、也就是空間電荷區(qū),降低柵極溝槽底部氧化層內(nèi)的工作電場強度。

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圖6 Fuji溝槽結構

6、日本住友/豐田

柵極溝槽二側(cè)P-體區(qū)部分下移,使用高摻雜P+,在溝槽底部氧化層外附近區(qū)域,下移P+區(qū)截面積變寬,延伸到柵極溝槽底部氧化層外附近區(qū)域,讓下移的P+區(qū)和柵極溝槽底部附近的N-漂移層形成PN結,PN結的耗盡層,降低柵極溝槽底部氧化層內(nèi)的電場強度,溝槽采用V形結構。

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圖7 日本住友/豐田溝槽結構

7、日本Denso電裝

類似于住友的溝槽結構,只是改為U形溝槽。

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圖8日本Denso溝槽結構

總結:這些結構核心就是在柵極溝槽底部或柵極溝槽底部附近區(qū)域,增加P型結構,形成耗盡層(空間電荷區(qū)),從而,把柵極溝槽底部氧化層電場,部分轉(zhuǎn)移到耗盡層中,減小柵極溝槽底部的電場。






審核編輯:劉清

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原文標題:幾種常見的溝槽結構SiC MOSFET類型

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