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從跨平臺(tái)測(cè)試用例復(fù)用想到IP測(cè)試意圖交付

路科驗(yàn)證 ? 來(lái)源:路科驗(yàn)證 ? 2023-04-25 11:08 ? 次閱讀
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記得在大概6、7年前的時(shí)候,我當(dāng)時(shí)看到這家公司海量的emulation資源時(shí)那種驚掉下巴的樣子現(xiàn)在都還記得?,F(xiàn)在國(guó)內(nèi)使用EMU也越來(lái)越多了,不過(guò)從測(cè)試用例的比重上看,EMU所占比例總體還是有較大空間提升的。這篇論文的格式更為自由一些,就跟聊天似的把他們?cè)谧隹缙脚_(tái)復(fù)用的動(dòng)機(jī)、架構(gòu)、方法都介紹了,不過(guò)更為細(xì)節(jié)的東西并沒(méi)有透露。但是從一個(gè)initiative的角度出發(fā),這篇論文還是能夠回答我在學(xué)習(xí)PSS(Portable Stimulus Standard)時(shí)的一個(gè)疑問(wèn),那就是在PSS execution層面的顆粒度應(yīng)該做到多大才合適。我們接下來(lái)且順著這篇論文的思路一起捋一遍。

Intel這樣的大公司,在產(chǎn)品線每年跟摩爾定律一樣按照產(chǎn)品路線推出芯片的時(shí)候,他們?cè)跍y(cè)試時(shí)的測(cè)試用例肯定不會(huì)跟初創(chuàng)公司似的,需要從零開(kāi)始構(gòu)建。大公司呆過(guò)的人都知道那里的流程封裝得多么完善,那里蹲著多少資深的工程師,當(dāng)然那里的測(cè)試用例也都是每個(gè)項(xiàng)目一個(gè)個(gè)地繼承下來(lái)的。

談到繼承,就不得不接著探討類似像這樣產(chǎn)品線穩(wěn)定,產(chǎn)品按版本、參數(shù)迭代的情況下,會(huì)對(duì)驗(yàn)證(文中稱為validation,即分為pre-validation和post)的要求有哪些大格局的要求。

SoC和子系統(tǒng)(subsystems)也是IP的集合,在SoC或者子系統(tǒng)層面驗(yàn)證時(shí),相比于IP驗(yàn)證時(shí)的功能深入,我們更關(guān)注于IP在系統(tǒng)中的角色、它與其它IP之間的互動(dòng)。而如果SoC類芯片一代一代滾動(dòng)起來(lái),那么代與代之間的配置、參數(shù)差異,以及同一代產(chǎn)品的各個(gè)小版本之間的差異,都將會(huì)給測(cè)試的復(fù)用帶來(lái)挑戰(zhàn)。

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此外,不同測(cè)試階段使用的工具、環(huán)境也會(huì)帶來(lái)挑戰(zhàn)。比如你在FPGA上面做原型驗(yàn)證它是可以帶著真實(shí)的外部板卡做測(cè)試的,但如果在EMU上面做,那么終端設(shè)備可能是真實(shí)板卡,也可以是虛擬板卡,還可以使用transactors去模擬IP和controller之間的數(shù)據(jù)交互。再比如,在制造環(huán)節(jié)篩選時(shí),也由于post-silicon平臺(tái)的制約,可能會(huì)采取不同的設(shè)備和其它組件用作測(cè)試。這種跨平臺(tái)的差異,也給測(cè)試用例的復(fù)用帶來(lái)了挑戰(zhàn)。

這里其實(shí)沒(méi)有談到有關(guān)UVM的部分,有的時(shí)候UVM環(huán)境和用例往往意味著IP/子系統(tǒng)層面的測(cè)試,而到了SoC層面的測(cè)試,會(huì)更多關(guān)注于系統(tǒng)各個(gè)資源建模和調(diào)度場(chǎng)景。而且,為什么以前國(guó)內(nèi)FPGA公司做產(chǎn)品會(huì)更早地在FPGA上線去跑應(yīng)用呢?除了系統(tǒng)沒(méi)有SoC復(fù)雜之外,F(xiàn)PGA研發(fā)團(tuán)隊(duì)距離客戶近、FPGA產(chǎn)品更方便迭代也是一個(gè)重要原因。

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在這篇論文里,沒(méi)有專門(mén)談到pre-silicon simulation的部分,這一點(diǎn)讀者們可能會(huì)好奇,但有的時(shí)候當(dāng)一家公司“財(cái)大氣粗”的時(shí)候,他們真的是有財(cái)力可以把多數(shù)測(cè)試用例放在硬件仿真資源EMU上面去跑的。所以,這篇論文的語(yǔ)境其實(shí)是,當(dāng)我們?cè)陂_(kāi)發(fā)一個(gè)SoC系統(tǒng)且已經(jīng)到了SoC測(cè)試階段的時(shí)候,我們?yōu)榱藴y(cè)試更多的應(yīng)用場(chǎng)景,如果在裸機(jī)(bare metal)上、最小OS kernel上、或者更大OS層面去運(yùn)行的時(shí)候,如何去解決這些跨平臺(tái)(wide diversity of platforms)、跨系統(tǒng)(various operating systems Windows/Linux etc)的挑戰(zhàn)?

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這里給的一個(gè)方案是提出IP validation software stack,即構(gòu)建出彈性的結(jié)構(gòu)以便讓IP測(cè)試時(shí)的測(cè)試意圖可以最終通過(guò)PSS生成測(cè)試代碼,而這些測(cè)試代碼可以利用這個(gè)IP validation software stack,根據(jù)所處的平臺(tái)、芯片系統(tǒng)的版本不同都能夠穩(wěn)定運(yùn)行,最終實(shí)現(xiàn)IP在集成層面的測(cè)試快速生成和運(yùn)行。

這篇論文的邏輯,是從底部往上走的,即先提出這個(gè)IP測(cè)試的軟件棧,解釋需要利用它的data generator來(lái)存儲(chǔ)和產(chǎn)生跨不同測(cè)試平臺(tái)、不同芯片版本的配置參數(shù),而后可以利用這些參數(shù),再與runtime driver+business logic結(jié)合,以便讓目標(biāo)IP得到恰當(dāng)?shù)呐渲茫畛跗ヅ涞男袨椤?/p>

為此,保存和產(chǎn)生系統(tǒng)相應(yīng)參數(shù)的data generator如下

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這些參數(shù)在獲取以后,可以利用IP驅(qū)動(dòng)(IPDMA)進(jìn)行配置,而在IPDMA內(nèi)可以“彈性”地根據(jù)IP功能來(lái)實(shí)現(xiàn)(即底層的OS/HAL+寄存器配置)。

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“IPDMA”也并不需要指出該DMA的版本、通道、緩存等具體信息,它“暴露”給測(cè)試人員的,也無(wú)需指出IP版本或者具體寄存器等信息。而在“IPDMA”內(nèi)可以利用“dp”來(lái)獲得該IP的參數(shù),再利用它們進(jìn)行功能配置。在配置時(shí),所使用的“mem_write”等函數(shù),也脫離實(shí)際的操作系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)更為底層的操作,即這些底層函數(shù)可以“剛性”地跨平臺(tái)(這一點(diǎn)不難做到)。

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有了這樣的一個(gè)IP測(cè)試的軟件棧,便可以理解跨平臺(tái)、芯片系統(tǒng)版本差異的問(wèn)題,繼而為各個(gè)IP和SoC系統(tǒng)測(cè)試意圖能夠在其之上進(jìn)一步完成創(chuàng)造了條件。

事實(shí)上,這個(gè)簡(jiǎn)化后的IP測(cè)試軟件棧也能解決一些讀者目前的困境,尤其是公司開(kāi)始批量出貨,既想要繼承以前的測(cè)試用例(但受限于系統(tǒng)差異無(wú)法做到直接復(fù)用),也想要節(jié)省人力(如果測(cè)試能夠繼承,那么節(jié)省人力也就自然可以達(dá)成)。

我在更早前已經(jīng)完整地梳理過(guò)一次PSS基礎(chǔ)語(yǔ)法,突出PSS的可移植特點(diǎn)也是體現(xiàn)在不同的測(cè)試平臺(tái)和測(cè)試語(yǔ)言層面,無(wú)論它解決的是測(cè)試平臺(tái)問(wèn)題,還是測(cè)試層次問(wèn)題,還是測(cè)試語(yǔ)言問(wèn)題,PSS呈現(xiàn)出的都是從更高的視角去給每個(gè)IP進(jìn)行建模,繼而將這些IP模型構(gòu)建成為一個(gè)更大的系統(tǒng),再在這個(gè)系統(tǒng)模型中去創(chuàng)建一些各個(gè)IP和資源之間的調(diào)度關(guān)系。也就是說(shuō),PSS做的是測(cè)試意圖(validation content)層面的工作,諸如PerSpec/inFact/Breker Trek做的是content2graph的工作即從意圖到測(cè)試場(chǎng)景生成的工作,而生成的測(cè)試場(chǎng)景,無(wú)論采用的是什么語(yǔ)言,都需要我們給到一個(gè)恰當(dāng)?shù)念w粒度。這樣才能把PSS在實(shí)際工作中運(yùn)用好。

PSS學(xué)前準(zhǔn)備篇(合輯)

PSS基礎(chǔ)篇(合輯)

PSS測(cè)試篇(合輯)

而這篇論文解決的正是“顆粒度”的這個(gè)問(wèn)題,通過(guò)論文作者他們已經(jīng)驗(yàn)證過(guò)的IP validation software stack,不但他們給出了諸如“IPDMA”這樣的顆粒度適合的接口,也可以在該接口內(nèi)部“彈性”地解決跨平臺(tái)、適配芯片系統(tǒng)版本差異的問(wèn)題。

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至于PSS的具體應(yīng)用,他們沒(méi)有在論文中談到(也不是他們要在論文中介紹的流程)。他們也提到了目前在應(yīng)用的是Cadence PerSpec工具和SLN(System Level Notation)語(yǔ)言,而且有計(jì)劃將現(xiàn)有的模型過(guò)渡到PSS標(biāo)準(zhǔn)。隨著2021 PSS 2.0版本的推出以及PerSpec已經(jīng)對(duì)PSS的支持來(lái)看,他們推進(jìn)模型轉(zhuǎn)換的工作是遲早的。這也讓我想起了當(dāng)時(shí)從OVM/VMM過(guò)渡到UVM的一段時(shí)間。

論文中同樣有價(jià)值的是作者在不同的項(xiàng)目之間,通過(guò)復(fù)用IP測(cè)試意圖,繼而由PerSpec生成可以跨平臺(tái)的測(cè)試用例以后,不但節(jié)省了很多的人力,也同樣提高了工作效率。下面是采取復(fù)用測(cè)試意圖生成測(cè)試用例所發(fā)現(xiàn)的bug數(shù)量,以及這些bug數(shù)量在每個(gè)項(xiàng)目中所占到的比重。無(wú)論是數(shù)量還是占比,這種復(fù)用方法,如果想要撥開(kāi)跨平臺(tái)、系統(tǒng)差異、測(cè)試語(yǔ)言這些紛亂的因素,那么測(cè)試意圖的復(fù)用將會(huì)讓不同平臺(tái)的測(cè)試人員之間達(dá)成一致(大家不再因?yàn)榧夹g(shù)因素而難以達(dá)成某種程度的聯(lián)合)。而且如果這種復(fù)用從一開(kāi)始的架構(gòu)就能夠規(guī)劃好,那么也將會(huì)在芯片代與代之間、產(chǎn)品與產(chǎn)品之間放大它的效力。

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繼而在增效的前提下,為接下來(lái)制造環(huán)節(jié)和人力環(huán)節(jié)的成本節(jié)省,也就理所應(yīng)當(dāng)了。從數(shù)字來(lái)看還是相當(dāng)可觀的,也許一些讀者目前還暫時(shí)沒(méi)有遇到這種處境(哎這也是產(chǎn)品線又長(zhǎng)又廣的毛病,可謂是大廠們有些凡爾賽的苦惱),但如果想增效,就應(yīng)該把測(cè)試層面去拔高,不管是simulation/emulation/fpga,還是pre-silicon/post-silicon,都應(yīng)該站在更大的一個(gè)格局去考慮這些事情,從大廠出來(lái)的人看待這些問(wèn)題更有視野,也更愿意在早期投入一部分精力去籌劃這些事情。

做久了工程,我常常覺(jué)得,你的團(tuán)隊(duì)未來(lái)的工作模式就來(lái)自于各條技術(shù)線的總監(jiān)在一開(kāi)始的架構(gòu)規(guī)劃。

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接下來(lái)再來(lái)談?wù)勎覀兤恼碌念}目“從跨平臺(tái)測(cè)試用例復(fù)用想到IP測(cè)試意圖交付”里的“IP測(cè)試意圖交付”。以前IP交付時(shí)不管是內(nèi)部IP還是第三方IP,并不會(huì)給我們交付RTL和功能文檔的同時(shí)交付功能測(cè)試點(diǎn)(因?yàn)檫@是人家內(nèi)部的文檔,也牽扯到IP的完整開(kāi)發(fā),更可能被反向做IP開(kāi)發(fā))。我們這個(gè)時(shí)候要集成IP做測(cè)試的時(shí)候,有兩部分可以借鑒。一部分是IP配置生成后的測(cè)試代碼(Verilog/UVM居多),一部分是IP文檔中有時(shí)會(huì)出現(xiàn)的programming case/scenario的例子。但更多是將IP作為一個(gè)獨(dú)立組件,就實(shí)現(xiàn)其某些功能,做的配置描述。有的時(shí)候,IP還會(huì)提供一些驅(qū)動(dòng)(這已經(jīng)很友好了),但至于拿到這些IP如何在系統(tǒng)環(huán)境中與其它IP/資源進(jìn)行交互,其實(shí)IP提供商是沒(méi)有這個(gè)義務(wù)的(他們不會(huì)包含在產(chǎn)品中,但你如果邀請(qǐng)他們提供service花這筆錢(qián)也是可以有的)。

在這種情況下,如果以后PSS普及、且PSS測(cè)試意圖到測(cè)試代碼的實(shí)現(xiàn)也更為規(guī)范的話,那么IP提供商是可以在交付IP的時(shí)候,同時(shí)交付這個(gè)IP的PSS模型的,以便我們以后既可以集成在上層系統(tǒng)模型中,也可以利用它的action在系統(tǒng)層面構(gòu)建一些activity。只不過(guò)在文中也談到,這樣的要求有些不合理(unreasonable requirement)。

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為什么需要IP的PSS模型,以及針對(duì)它們構(gòu)建的集成測(cè)試PSS場(chǎng)景呢?因?yàn)槿绻辛诉@樣高層次的描述,我們?cè)谀玫揭粋€(gè)IP以后做集成測(cè)試的時(shí)候,也就有了指向性更為明確的方向。不然就容易造成目前國(guó)內(nèi)很多SoC公司在集成IP時(shí)有些尷尬的情況,花了幾十個(gè)million買(mǎi)的各類IP,在集成測(cè)試的時(shí)候都有點(diǎn)盲人趕路,戰(zhàn)戰(zhàn)兢兢的(這個(gè)事實(shí)往往在初創(chuàng)公司都心照不宣了吧)。

要解決這個(gè)問(wèn)題,就需要考慮實(shí)現(xiàn)“IP測(cè)試意圖交付”。目前大廠里不同平臺(tái)的人員針對(duì)IP集成測(cè)試,或者是看測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試點(diǎn),或者是看各個(gè)參考用例,可這是建立在驗(yàn)證人員有經(jīng)驗(yàn)的情況下的。一旦脫離了這個(gè)條件,要在大的方向上完成“及格測(cè)試”,都會(huì)有些困難。于是乎,我們目前提出了在UVM/C層面的IP測(cè)試復(fù)用建議,該建議要求針對(duì)每個(gè)IP在SoC層面測(cè)試時(shí),利用一致化的測(cè)試指令(例如V3課程提供的Liezhen平臺(tái)),構(gòu)建每一個(gè)測(cè)試用例,而這些測(cè)試用例在項(xiàng)目發(fā)生變化時(shí),可以較為方便地移植到(畢竟標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試平臺(tái)的底層指令是一樣的,無(wú)論是simulation還是emulation,無(wú)論是UVM還是C)。

這種方案可以在客戶那里將前期項(xiàng)目中的測(cè)試更早地標(biāo)準(zhǔn)化下來(lái),也便于在接下來(lái)的項(xiàng)目中復(fù)用,更實(shí)際地說(shuō),也較為符合我們國(guó)內(nèi)公司目前普遍發(fā)展的階段。

只不過(guò),我們?nèi)绻鼮殚L(zhǎng)遠(yuǎn)地看,想要實(shí)現(xiàn)更多跨平臺(tái)的復(fù)用,就不能只在測(cè)試用例復(fù)用、測(cè)試指令標(biāo)準(zhǔn)化、測(cè)試平臺(tái)自動(dòng)化上面下功夫,下一個(gè)要考慮的還是PSS、IP建模和測(cè)試意圖復(fù)用。這一階段我們總歸是要走到的,目前國(guó)內(nèi)已經(jīng)有小比例的公司在試行PSS和相應(yīng)工具了。也希望這篇論文的解讀,能夠在接下來(lái)芯片一代代產(chǎn)品測(cè)試復(fù)用時(shí)帶來(lái)啟發(fā),也希望讀者們(如果)在的初創(chuàng)公司能走到芯片量產(chǎn),擁有這種一代一代芯片測(cè)試的幸福煩惱。

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:DVCon文賞-2023w17 從跨平臺(tái)測(cè)試用例復(fù)用想到IP測(cè)試意圖交付

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    前幾年在大連出差的時(shí)候,幫一個(gè)項(xiàng)目做測(cè)試,順便寫(xiě)下這個(gè)檢查表,這個(gè)檢查表對(duì)測(cè)試的初學(xué)者積累經(jīng)驗(yàn)比較有用,實(shí)際對(duì)于有經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試人員尤其對(duì)于測(cè)試業(yè)務(wù)管理信息系統(tǒng),基本上大量的
    的頭像 發(fā)表于 06-29 10:50 ?2948次閱讀

    測(cè)試用的管理 介紹測(cè)試用的幾種管理方法

    摘要 隨著軟件系統(tǒng)規(guī)模的持續(xù)增大,業(yè)務(wù)復(fù)雜度的持續(xù)增加,軟件測(cè)試的復(fù)雜度也隨之越來(lái)越大。而軟件測(cè)試工作復(fù)雜度的直接體現(xiàn),就是測(cè)試用編寫(xiě)、維護(hù)、執(zhí)行和管理,所以編寫(xiě)易讀、易維護(hù)和易管理
    的頭像 發(fā)表于 11-26 15:13 ?7031次閱讀
    <b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>的管理 介紹<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>的幾種管理方法

    測(cè)試用質(zhì)量的重要性

    在進(jìn)行測(cè)試時(shí),通常會(huì)花很多精力選擇“正確”的測(cè)試工具。這其實(shí)只是為了實(shí)現(xiàn)次要目標(biāo)。當(dāng)然,一個(gè)適合開(kāi)發(fā)環(huán)境、項(xiàng)目和流程的工具是重要的。然而,對(duì)于良好測(cè)試而言,最重要的是測(cè)試用
    的頭像 發(fā)表于 09-03 15:13 ?1071次閱讀
    <b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>質(zhì)量的重要性

    篇 | 單元測(cè)試用復(fù)用到集成測(cè)試?Testlet Library來(lái)助力?。ㄉ希?/a>

    提高搭建測(cè)試用效率的方法,比如自動(dòng)生成測(cè)試用。除此以外,TPT還提供了TestletLibrary,可以復(fù)用Testlet,以及將一個(gè)工
    的頭像 發(fā)表于 11-04 10:14 ?1177次閱讀
    用<b class='flag-5'>例</b>篇 | 單元<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b><b class='flag-5'>復(fù)用</b>到集成<b class='flag-5'>測(cè)試</b>?Testlet Library來(lái)助力!(上)

    一文了解導(dǎo)入測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)化生成測(cè)試用的方法

    復(fù)用,比如在MiL階段回放HiL階段的測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)debug,又如需要通過(guò)Excel實(shí)現(xiàn)測(cè)試用的存儲(chǔ)等等。上述問(wèn)題TPT提供了非常契合的功能——Generate
    的頭像 發(fā)表于 11-23 08:24 ?1429次閱讀
    一文了解導(dǎo)入<b class='flag-5'>測(cè)試</b>數(shù)據(jù)自動(dòng)化生成<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>的方法

    磁盤(pán)eCryptfs加密測(cè)試用

    apt安裝用戶態(tài)工具ecryptfs-utils即可。 4.1、測(cè)試用 下圖是一個(gè)腳本基礎(chǔ)測(cè)試用。先創(chuàng)建test目錄和文件hello,
    的頭像 發(fā)表于 11-29 11:27 ?1775次閱讀
    磁盤(pán)eCryptfs加密<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>

    端到端測(cè)試用怎么寫(xiě)

    編寫(xiě)端到端測(cè)試用是確保軟件系統(tǒng)從頭到尾能夠正常工作的關(guān)鍵步驟。以下是一個(gè)詳細(xì)的指南,介紹如何編寫(xiě)端到端測(cè)試用: 一、理解端到端測(cè)試 端到
    的頭像 發(fā)表于 09-20 10:29 ?958次閱讀