測(cè)試環(huán)境

本次演示，我們用到的是一臺(tái)泰克的MSO 5系示波器，一個(gè)TDP1500 1.5G差分探頭，以及一個(gè)以太網(wǎng)的專用測(cè)試夾具。

通過這些設(shè)備，我們將測(cè)試一臺(tái)是德科技的網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071C，查看一下其網(wǎng)卡的千兆以太網(wǎng)性能。我們可以在每日E問APP上查看該網(wǎng)分儀的具體參數(shù)和配置文檔等資料。

測(cè)試步驟

我們將設(shè)備和產(chǎn)品進(jìn)行連接，連接方式很簡(jiǎn)單，類似于百兆的以太網(wǎng)測(cè)試。通過示波器和探頭引出，接到以太網(wǎng)測(cè)試夾具上。

我們今天測(cè)的是千兆，目前先用TCR來做測(cè)試。這上面有四個(gè)Pair對(duì)，每一個(gè)Pair對(duì)都可以支持250兆的速率，組合在一起可以實(shí)現(xiàn)千兆的速率測(cè)試。

本次演示的測(cè)試條件不需要用到任意波形發(fā)生器，所以我們選擇TC2端口來做測(cè)試。如果在某些場(chǎng)景下需要用到AWG，那我們可以選擇TC5這個(gè)端口。

我們看一下以太網(wǎng)的Tx一致性測(cè)試軟件界面，界面由4個(gè)部分組成。

第一部分是選擇測(cè)試速率，本次我們選擇千兆測(cè)試。在千兆測(cè)試選項(xiàng)中，可以看到有模板峰值電壓的測(cè)試、抖動(dòng)和失真測(cè)試、回波損耗測(cè)試和CM電壓。

在模板測(cè)試中我們選擇A點(diǎn)，在配置中選擇選用默認(rèn)配置，這里的連接地方可以選擇Help，看一下它的連接導(dǎo)向圖。

這里的導(dǎo)向圖也分兩種，一種是使用干擾源，也就是一個(gè)AWG來配合測(cè)試。我們目前的場(chǎng)景沒有干擾源，那就直接跟產(chǎn)品相連。

選擇TC2這個(gè)端口，選擇4個(gè)Pair對(duì)其中的一個(gè)來測(cè)試，此時(shí)可以看到波形是不對(duì)的。需要在DUT這端，用千兆以太網(wǎng)的控制軟件強(qiáng)制讓它來發(fā)一個(gè)千兆的包。

現(xiàn)在我們已經(jīng)切到了一個(gè)Test Mode1的狀態(tài)，再來看一下這個(gè)波形，就是一個(gè)它向?qū)Ю锸痉兜牟ㄐ巍?/p>

這個(gè)時(shí)候我們點(diǎn)擊測(cè)試，測(cè)試的過程中我們說一下這個(gè)DUT的設(shè)置。

網(wǎng)卡的這個(gè)類型改成千兆的一個(gè)模式，在速率和雙功里一定要將其改為千兆的全雙功模式，它才可以進(jìn)行千兆的碼型發(fā)射。

另外用這個(gè)專門針對(duì)Intel芯片的工具，在這里可以選擇Test mode1/2/3/4，我們?cè)诓煌臏y(cè)試項(xiàng)目里會(huì)需要測(cè)試不同的mode。

比如說電壓和下垂的這個(gè)測(cè)試需要要用Test mode1.抖動(dòng)測(cè)試用Test mode2，失真測(cè)試要用Test mode4，如果選擇錯(cuò)誤，那么測(cè)出來的波形就是不對(duì)的，結(jié)果也是無效的。

現(xiàn)在我們可以看到這個(gè)測(cè)試模板，它和百兆的區(qū)別就是這不是用一個(gè)眼圖的形式描述的。

此時(shí)我們這個(gè)A點(diǎn)的測(cè)試模板已經(jīng)結(jié)束了，我們可以點(diǎn)擊屏幕右下角保存測(cè)試報(bào)告，其他測(cè)試的項(xiàng)目都是類似的。

要注意不同的測(cè)試項(xiàng)目下選擇切換到不同的測(cè)試模式，還要注意千兆的產(chǎn)品一般都不帶外部時(shí)鐘，所以這里的時(shí)鐘都要選擇為無時(shí)鐘。

以上便是“千兆以太網(wǎng)的Tx測(cè)試”的詳細(xì)方法。

審核編輯：劉清