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基于3D閃測(cè)技術(shù)的接插件瑕疵檢測(cè)應(yīng)用

海伯森技術(shù) ? 來(lái)源:海伯森技術(shù) ? 2023-12-18 16:23 ? 次閱讀
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隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜,對(duì)其所應(yīng)用的電子元器件的性能要求也越來(lái)越高。而接插件的性能、可靠性則直接影響到電子設(shè)備的性能及可靠性。這就使得接插件的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、制造工藝、裝配等過(guò)程環(huán)節(jié)技術(shù)難度加大,不可靠因素增多,且變得更加復(fù)雜,因此,對(duì)接插件的檢測(cè)方法進(jìn)行研究就顯得愈加重要。

應(yīng)用實(shí)測(cè)

使用合適的檢測(cè)設(shè)備可以對(duì)連接器的毛邊、變形、劃傷、壓傷、缺料、色差、盲孔等各類缺陷進(jìn)行快速精準(zhǔn)檢測(cè),還能夠測(cè)量連接器的輪廓尺寸等數(shù)據(jù),高效快速地判斷產(chǎn)品是否合格。

02

檢測(cè)要求

產(chǎn)品名稱 接插件
測(cè)量項(xiàng)目 外觀瑕疵檢測(cè)
測(cè)量要求 獲取接插件外觀3D形貌
接插件插針2D尺寸和高度信息
1秒內(nèi)檢測(cè)完成

03

檢測(cè)過(guò)程

采用3D閃測(cè)傳感器HPS-DBL60對(duì)樣品進(jìn)行掃描。

HPS-DBL60采用新型3D閃測(cè)技術(shù),無(wú)需一秒即可完成62*62mm工作區(qū)域的2D尺寸和3D輪廓的測(cè)量,具備識(shí)別精度高、測(cè)量視野廣和檢測(cè)節(jié)拍快等特點(diǎn),重復(fù)測(cè)量精度可達(dá)到1μm,可滿足既定測(cè)量要求。

檢測(cè)結(jié)果

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使用海伯森3D閃測(cè)傳感器HPS-DBL60對(duì)樣品進(jìn)行精密測(cè)量,可以在0.73秒內(nèi)獲取接插件外觀3D形貌及接插件插針2D尺寸和高度信息:

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插針高度 0.592mm

橫截面積 8.4327mm

間距 2.738mm

傾斜角度 1.216°

高度 8.5614mm

斷差 5.444mm

凹坑深度 0.3075mm

孔徑 3.1914mm

通過(guò)系統(tǒng)對(duì)比可以發(fā)現(xiàn)樣品表面有明顯凹坑,判定樣品有缺陷;同時(shí),不到1秒的耗時(shí),極大提高了檢測(cè)效率。

Hypersen

Part Two

產(chǎn)品介紹

海伯森HPS-DBL系列,是一種2D、3D復(fù)合的高精度視覺(jué)檢測(cè)傳感器,采用投影方式向測(cè)量對(duì)象上投射出結(jié)構(gòu)光圖案和不同波長(zhǎng)的不同均勻光,并采集物體表面圖像數(shù)據(jù)信息,通過(guò)控制系統(tǒng)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理,獲取到全視角彩色3D圖像。

01

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及特點(diǎn)

產(chǎn)品配備精密CMOS感光元件,四位一體彩色投光單元,超低畸變遠(yuǎn)心鏡頭,并內(nèi)置自研AI投光及圖像優(yōu)化算法,具有檢測(cè)全方位、高精度、速度快、無(wú)檢測(cè)死角和系統(tǒng)簡(jiǎn)單,易于集成等特點(diǎn)。

484639f2-9d7b-11ee-8b88-92fbcf53809c.png

02

行業(yè)應(yīng)用

可應(yīng)用于各種產(chǎn)品外觀尺寸的2D/3D在線檢測(cè)場(chǎng)景中,實(shí)現(xiàn)3C、半導(dǎo)體、鋰電、金屬工件、PCB等復(fù)雜材料外觀的微米級(jí)檢測(cè)。







審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:行業(yè)應(yīng)用丨基于3D閃測(cè)技術(shù)的接插件瑕疵檢測(cè)應(yīng)用

文章出處:【微信號(hào):hypersen,微信公眾號(hào):海伯森技術(shù)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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