AEC：汽車電子行業(yè)的質(zhì)量聯(lián)盟

AEC（Automotive Electronics Council）——即汽車電子委員會(huì)，是一個(gè)由美國三大汽車公司Chrysler、Ford和GM共同創(chuàng)立的國際性組織，成立于1994年。該組織集合了全球的汽車生產(chǎn)商、汽車電子組件制造商以及電子元件供應(yīng)商，共同目標(biāo)是提高汽車電子產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為一家提供檢測、鑒定、認(rèn)證和研發(fā)服務(wù)的第三方檢測與分析機(jī)構(gòu)，我們遵循AEC的高標(biāo)準(zhǔn)，為汽車電子產(chǎn)品提供全面的測試和認(rèn)證服務(wù)。

AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)是由AEC委員會(huì)開發(fā)的一項(xiàng)針對汽車用集成電路（IC）的測試和認(rèn)證程序，該程序基于失效機(jī)制，為車用IC芯片提供了一套全面的可靠性測試和認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)是芯片產(chǎn)品進(jìn)入汽車行業(yè)的基準(zhǔn)，自1995年首次發(fā)布后，經(jīng)過多輪修訂，目前實(shí)施的是2014年發(fā)布的H版標(biāo)準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)涵蓋的產(chǎn)品類型

AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)覆蓋了廣泛的單顆IC產(chǎn)品，包括但不限于以下類別：

微控制器（MCU）

微處理器（MPU）

存儲(chǔ)器芯片

計(jì)算芯片

安全芯片

LED驅(qū)動(dòng)芯片

電源管理芯片

運(yùn)算放大器

比較器

傳感器模擬芯片

通信芯片

測試類別及項(xiàng)目

AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了7大類別共41項(xiàng)測試，這些測試類別包括：

1. 群組A - 加速環(huán)境應(yīng)力測試：包括壓力 cooker（PC）、高溫高濕偏置（THB）、高加速應(yīng)力（HAST）、加速條件（AC）、超高溫存儲(chǔ)（UHST）、溫度沖擊（TH）、溫度循環(huán)（TC）、功率循環(huán)（PTC）、高溫存儲(chǔ)壽命（HTSL）等6項(xiàng)測試。

2. 群組B - 加速生命周期模擬測試：包括高溫操作壽命（HTOL）、早期壽命故障率（ELFR）、動(dòng)態(tài)熱應(yīng)力（EDR）等3項(xiàng)測試。

3. 群組C - 封裝組裝完整性測試：包括焊球剪切（WBS）、焊球拉力（WBP）、側(cè)向拆分（SD）、劈裂（PD）、拉伸斷裂（SBS）、漏電流（LI）等6項(xiàng)測試。

4. 群組D - 芯片制造可靠性測試：包括電遷移（EM）、時(shí)間相關(guān)介質(zhì)擊穿（TDDB）、高電流注入（HCI）、負(fù)偏溫不穩(wěn)定性（NBTI）、閂鎖（SM）等5項(xiàng)測試。

5. 群組E - 電性驗(yàn)證測試：包括測試（TEST）、最終檢測（FG）、人體模型（HBM/MM）、電荷破壞性（CDM）、漏電流（LU）、電遷移（ED）、特性（CHAR）、電磁兼容性（EMC）、靜電（SC）、系統(tǒng)效應(yīng)（SER）等11項(xiàng)測試。

6. 群組F - 缺陷篩選測試：包括參數(shù)測試（PAT）、掃描電子顯微鏡（SBA）等2項(xiàng)測試。

7. 群組G - 腔體封裝完整性測試：包括模塑應(yīng)力（MS）、振動(dòng)疲勞（VFV）、裂紋聲發(fā)射（CA）、玻璃流動(dòng)（GFL）、跌落（DROP）、壽命（LT）、干燥（DS）、內(nèi)部濕蒸汽（IWV）等8項(xiàng)測試。

測試流程與執(zhí)行

AEC-Q100的測試流程是一套嚴(yán)格的程序，從樣品的準(zhǔn)備到測試的執(zhí)行，再到結(jié)果的分析，每一步都有明確的指導(dǎo)和標(biāo)準(zhǔn)。每個(gè)測試項(xiàng)目都規(guī)定了具體的樣品數(shù)量、測試批次、接受標(biāo)準(zhǔn)和測試方法。

結(jié)論

AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)是汽車電子領(lǐng)域中至關(guān)重要的質(zhì)量控制工具，確保汽車電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性始終符合行業(yè)最高標(biāo)準(zhǔn)。