概述

總線干擾儀是CAN/CANFD總線一致性測(cè)試中必不可少的重要設(shè)備，用于實(shí)現(xiàn)采樣點(diǎn)以及故障注入等測(cè)試項(xiàng)配合桌面式車(chē)載網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)TESTBASE-DESKNAT以及基于VBA的CAN/CANFD一致性測(cè)試套件可以便捷、高效、精準(zhǔn)的完成CAN/CANFD總線一致性測(cè)試。

TESTBASE-BDI及采樣點(diǎn)測(cè)試波形

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 支持CAN/CANFD干擾，CANFD最高可支持到5M波特率
• 支持單部件測(cè)試，也支持通過(guò)兩路接口串入系統(tǒng)
• 支持多種觸發(fā)條件及干擾類(lèi)型
• 支持高測(cè)試精度
• 支持與VBA無(wú)縫集成，并內(nèi)置干擾儀自動(dòng)化測(cè)試函數(shù)，包含采樣點(diǎn)測(cè)試統(tǒng)一封裝函數(shù)
• 支持時(shí)間同步接口
• 支持IO資源

產(chǎn)品功能

• 支持CAN/CANFD數(shù)字干擾，包含隱性位到顯性位的干擾，顯性位到隱性位的干擾：

— 6.25ns\測(cè)試精度

—可以實(shí)現(xiàn)控制器采樣點(diǎn)測(cè)試

— 可以實(shí)現(xiàn)控制器Busoff后恢復(fù)行為測(cè)試

• 支持多種觸發(fā)條件設(shè)置，例如幀ID、DLC、RTR、IDE等
• 支持干擾位置及偏移設(shè)置
• 支持干擾位寬度設(shè)置，最小為1個(gè)FPGA時(shí)鐘（6.25ns），最大可以干擾65535個(gè)FPGA時(shí)鐘
• 支持持續(xù)干擾次數(shù)及干擾時(shí)間設(shè)置
• 支持對(duì)干擾儀采樣點(diǎn)位置設(shè)置