文章來(lái)源：老虎說(shuō)芯

原文作者：老虎說(shuō)芯

本文通過(guò)介紹傳統(tǒng)平面晶體管的局限性，從而引入FinFET技術(shù)的原理、工藝和優(yōu)勢(shì)。

FinFET技術(shù)在晶圓制造中引入了一種創(chuàng)新的三維晶體管結(jié)構(gòu)，通過(guò)增強(qiáng)柵極控制和降低漏電流，實(shí)現(xiàn)了更高效的晶體管性能。這對(duì)于實(shí)現(xiàn)更小、更快、更節(jié)能的半導(dǎo)體器件是至關(guān)重要的。隨著半導(dǎo)體工藝節(jié)點(diǎn)的不斷縮小，F(xiàn)inFET技術(shù)的應(yīng)用也變得越來(lái)越普遍和重要。

背景：傳統(tǒng)平面晶體管的局限性

在傳統(tǒng)的平面金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管（MOSFET）中，隨著工藝節(jié)點(diǎn)的縮?。ū热鐝?0nm到65nm再到更小的節(jié)點(diǎn)），我們遇到了以下技術(shù)挑戰(zhàn)：

短溝道效應(yīng)：隨著晶體管的柵極長(zhǎng)度縮短，柵極對(duì)溝道的控制能力減弱，導(dǎo)致漏電流增加和開關(guān)速度降低。

漏電流增加：漏電流（off-state leakage current）增加，會(huì)導(dǎo)致靜態(tài)功耗顯著上升。

亞閾值擺幅問(wèn)題：傳統(tǒng)MOSFET的亞閾值擺幅（Subthreshold Slope）受限于60 mV/decade，這限制了其在低功耗操作下的開關(guān)效率。

FinFET技術(shù)的引入

FinFET（鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管）是一種三維結(jié)構(gòu)的晶體管技術(shù)，通過(guò)以下幾個(gè)方面改善了傳統(tǒng)MOSFET的性能：

增強(qiáng)的電流驅(qū)動(dòng)能力：FinFET通過(guò)立體結(jié)構(gòu)，允許更大的驅(qū)動(dòng)電流。這是因?yàn)镕inFET的溝道是垂直于基板表面立起來(lái)的“鰭”，使得在同樣的占地面積上可以獲得更大的有效寬度。

更好的柵極控制：在FinFET中，柵極可以從三面包圍“鰭”狀的溝道，這大大增強(qiáng)了柵極對(duì)溝道的電場(chǎng)控制能力，從而顯著降低短溝道效應(yīng)。

降低漏電流：通過(guò)更好的柵極控制和較短的有效溝道長(zhǎng)度，F(xiàn)inFET能夠顯著降低漏電流。這對(duì)于實(shí)現(xiàn)低功耗電路至關(guān)重要。

FinFET的制造工藝挑戰(zhàn)

盡管FinFET具有明顯的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，但其制造工藝也帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)：

更復(fù)雜的工藝流程：制造FinFET需要更復(fù)雜的工藝步驟，包括多個(gè)光刻和刻蝕步驟，以形成精確的三維結(jié)構(gòu)。

設(shè)備和工藝的升級(jí)：需要先進(jìn)的設(shè)備和工藝，比如高精度的光刻技術(shù)（EUV光刻）和高選擇性的刻蝕工藝。

良率控制：三維結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性增加了缺陷的可能性，需要更嚴(yán)格的良率控制和檢測(cè)技術(shù)。

FinFET的優(yōu)勢(shì)驗(yàn)證

隨著制程工藝向10nm及以下節(jié)點(diǎn)推進(jìn)，F(xiàn)inFET技術(shù)的優(yōu)勢(shì)變得愈加明顯：

提高性能和降低功耗：通過(guò)更好的控制能力和更低的漏電流，F(xiàn)inFET能夠在保持性能的同時(shí)，顯著降低功耗。

提高集成度：更小的單元尺寸和更高的電流密度使得芯片可以集成更多的功能和電路。